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電子發(fā)燒友網(wǎng)>今日頭條>MRAM可在惡劣環(huán)境下實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)完整性和可靠性

MRAM可在惡劣環(huán)境下實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)完整性和可靠性

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環(huán)境可靠性檢測(cè)設(shè)備-快速溫變?cè)囼?yàn)箱,快速溫度變化試驗(yàn)箱

  快速溫變?cè)囼?yàn)箱(又名快速溫度變化試驗(yàn)箱),是產(chǎn)品在設(shè)計(jì)強(qiáng)度極限,運(yùn)用溫度加速技巧(在上、下限極值溫度內(nèi)進(jìn)行循環(huán)時(shí),產(chǎn)品產(chǎn)生交替膨脹和收縮)改變外在環(huán)境應(yīng)力,使產(chǎn)品中產(chǎn)生熱應(yīng)力和應(yīng)變
2023-09-04 14:40:08

環(huán)境可靠性檢測(cè)設(shè)備-步入式環(huán)境試驗(yàn)箱,步入式恒溫恒濕室

  步入式環(huán)境試驗(yàn)箱是為了滿足用戶對(duì)大容積試驗(yàn)空間的要求而設(shè)計(jì)的,它從結(jié)構(gòu)上可分為整體焊接式和拼裝式。其中,僅拼裝式就有三十多種尺寸規(guī)格和十六種制冷機(jī)組可以互相搭配。如果這些仍不能滿足您的要求,廠家
2023-09-04 14:37:13

如何利用全新互連系統(tǒng)提高電源完整性和信號(hào)完整性

一種新的連接器系統(tǒng)通過改善電源完整性來提高信號(hào)完整性。優(yōu)化電源完整性可提供更大的信號(hào)完整性余量,并提高電源和熱效率。
2023-08-30 10:37:36775

如何使用NUC1262 CRC對(duì)代碼完整性進(jìn)行驗(yàn)證

應(yīng)用:本示例代碼使用 NUC1262 CRC 對(duì)代碼完整性進(jìn)行自我驗(yàn)證。 BSP 版本: NUC1262_Series_BSP_CMSIS_V3.00.001 硬件
2023-08-29 06:49:52

環(huán)境試驗(yàn)箱-高格科技儀器

的適應(yīng)進(jìn)行試驗(yàn),包括受惡劣的儲(chǔ)存與運(yùn)輸環(huán)境而不致?lián)p壞和在合理值環(huán)境條件下正常工作的能力。環(huán)境試驗(yàn)是產(chǎn)品基本的試驗(yàn),通過了環(huán)境合格鑒定試驗(yàn)的產(chǎn)品才能投入可靠性增長
2023-08-24 17:00:44

PCB電源完整性設(shè)計(jì)指南

盡管看似簡(jiǎn)單,但PCB和高級(jí)封裝中的功率傳輸仍然是設(shè)計(jì)人員面臨的最大挑戰(zhàn)之一,尤其是在數(shù)據(jù)中心、邊緣計(jì)算、移動(dòng)設(shè)備和電信/網(wǎng)絡(luò)等環(huán)境中。在這些環(huán)境中,大量數(shù)據(jù)通過極高的數(shù)據(jù)速率通道傳輸,盡管我們非常關(guān)注信號(hào)完整性,但如果沒有穩(wěn)定的電源,這些系統(tǒng)都無法工作。
2023-08-24 10:20:05608

一個(gè)集成端到端數(shù)據(jù)完整性解決方案來防止沉默的數(shù)據(jù)損壞

電子發(fā)燒友網(wǎng)站提供《一個(gè)集成端到端數(shù)據(jù)完整性解決方案來防止沉默的數(shù)據(jù)損壞.pdf》資料免費(fèi)下載
2023-08-21 14:45:350

信號(hào)完整性分析科普

何為信號(hào)完整性的分析信號(hào)完整性包含:波形完整性(Waveformintegrity)時(shí)序完整性(Timingintegrity)電源完整性(Powerintegrity)信號(hào)完整性分析的目的就是
2023-08-17 09:29:303108

電源完整性仿真真的很簡(jiǎn)單,只需28天!

隨著時(shí)代高速發(fā)展,尤其是通信和計(jì)算設(shè)備的普及,現(xiàn)代電路設(shè)計(jì)越來越復(fù)雜,包含了大量的信號(hào)線和互連,信號(hào)頻率和傳輸速率越來越高,對(duì)可靠性要求越來越高,信號(hào)完整性開始受到各種干擾和失真,因此需要仿真來確保
2023-07-25 07:45:02527

完整性約束(2)#數(shù)據(jù)

數(shù)據(jù)
學(xué)習(xí)硬聲知識(shí)發(fā)布于 2023-07-13 20:27:24

完整性約束(1)#數(shù)據(jù)

數(shù)據(jù)
學(xué)習(xí)硬聲知識(shí)發(fā)布于 2023-07-13 20:27:03

4.1 數(shù)據(jù)完整性(2)#數(shù)據(jù)

數(shù)據(jù)
學(xué)習(xí)硬聲知識(shí)發(fā)布于 2023-07-13 20:12:14

4.1 數(shù)據(jù)完整性(1)#數(shù)據(jù)

數(shù)據(jù)
學(xué)習(xí)硬聲知識(shí)發(fā)布于 2023-07-13 20:11:51

數(shù)據(jù)可靠性-Replication(2)#大數(shù)據(jù)處理

數(shù)據(jù)
未來加油dz發(fā)布于 2023-07-05 11:29:39

數(shù)據(jù)可靠性-Replication(1)#大數(shù)據(jù)處理

數(shù)據(jù)
未來加油dz發(fā)布于 2023-07-05 11:29:14

什么是信號(hào)完整性

業(yè)界經(jīng)常流行這么一句話:“有兩種設(shè)計(jì)師,一種是已經(jīng)遇到了信號(hào)完整性問題,另一種是即將遇到信號(hào)完整性問題”。固態(tài)硬盤作為一種高集成度的高時(shí)鐘頻率的硬件設(shè)備,信號(hào)完整性的重要性不言而喻。借著這句話本文主要跟大家聊下信號(hào)完整性的一些基本內(nèi)容。
2023-06-27 10:43:261102

功能安全的可靠性方程

IEC 62308的范圍規(guī)定“本標(biāo)準(zhǔn)描述了項(xiàng)目的可靠性評(píng)估方法。適用于任務(wù)、安全、業(yè)務(wù)關(guān)鍵、高完整性、復(fù)雜電子產(chǎn)品。它包含有關(guān)為什么需要可靠性以及如何以及在何處使用評(píng)估結(jié)果的信息。最后,它詳細(xì)說明了如何選擇可靠性評(píng)估方法以及支持評(píng)估所需的數(shù)據(jù)
2023-06-27 09:55:11508

單片GaN器件集成驅(qū)動(dòng)功率轉(zhuǎn)換的效率/密度和可靠性分析

單片GaN器件集成驅(qū)動(dòng)功率轉(zhuǎn)換的效率、密度和可靠性
2023-06-21 09:59:28

通過集成和應(yīng)用相關(guān)壓力測(cè)試的GaN可靠性分析

通過集成和應(yīng)用相關(guān)壓力測(cè)試的GaN可靠性
2023-06-21 06:02:18

GaNPower集成電路的可靠性測(cè)試及鑒定

GaNPower集成電路的可靠性測(cè)試與鑒定
2023-06-19 11:17:46

GaN功率集成電路的可靠性系統(tǒng)方法

GaN功率集成電路可靠性的系統(tǒng)方法
2023-06-19 06:52:09

宏展 Lab Companion 可靠性雙85試驗(yàn)

為溫度85℃,且濕度為85%的條件下,對(duì)試驗(yàn)體進(jìn)行老化測(cè)試,也就是嚴(yán)酷的環(huán)境可靠性試驗(yàn),比較常用的測(cè)試時(shí)間為1000小時(shí),主要檢驗(yàn)產(chǎn)品在高溫高濕的惡劣環(huán)境下所能承
2023-06-12 16:52:50456

軍用電子元器件二篩,進(jìn)口元器件可靠性篩選試驗(yàn)

軍用電子元器件二篩,二次篩選試驗(yàn),進(jìn)口元器件可靠性篩選試驗(yàn) 按性質(zhì)分類: (1)檢查篩選:顯微鏡檢查、紅外線非破壞檢查、X射線非破壞檢查。 (2)密封篩選:液浸檢漏、氦質(zhì)譜檢漏、放射示蹤檢漏
2023-06-08 09:17:22

模擬電路設(shè)計(jì)和電源完整性,職業(yè)發(fā)展前景差距大嗎?

模擬電路設(shè)計(jì)(電源or信號(hào)鏈)和電源完整性,職業(yè)發(fā)展前景差距大嗎?
2023-06-07 11:31:37

如何實(shí)現(xiàn)高速連接器信號(hào)完整性分析

隨著現(xiàn)代電子產(chǎn)品的快速發(fā)展,高速連接器LM393越來越廣泛地應(yīng)用于各種領(lǐng)域。高速連接器的信號(hào)完整性分析是確保高速數(shù)據(jù)傳輸?shù)年P(guān)鍵之一。本文將介紹如何通過使用仿真工具和適當(dāng)?shù)臏y(cè)試方法來實(shí)現(xiàn)高速連接器信號(hào)完整性分析。
2023-06-04 14:30:00983

汽車零部件環(huán)境可靠性實(shí)驗(yàn)室及電磁兼容EMC測(cè)試機(jī)構(gòu)

試驗(yàn),電壓暫降測(cè)試,騷擾功率試驗(yàn),電磁抗擾試驗(yàn)室,射頻測(cè)試,電磁場(chǎng)輻射試驗(yàn),抗繞度試驗(yàn),電瞬態(tài)干擾試驗(yàn),插入損耗試驗(yàn)等。 可靠性試驗(yàn)/可靠性測(cè)試: 可靠性強(qiáng)化試驗(yàn),加速壽命試驗(yàn)(halt),環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn)(ess),可靠性驗(yàn)收試驗(yàn),可靠性鑒定試驗(yàn),可靠性增長試驗(yàn)。
2023-05-23 15:55:57

中央空調(diào)數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)物聯(lián)網(wǎng)系統(tǒng)應(yīng)用

監(jiān)測(cè)系統(tǒng)可實(shí)現(xiàn)如下功能: 數(shù)據(jù)自動(dòng)采集 可實(shí)現(xiàn)現(xiàn)場(chǎng)各種標(biāo)準(zhǔn)儀表數(shù)據(jù)的定時(shí)采集,實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)采集的準(zhǔn)確性,完整性,及時(shí)性和可靠性
2023-05-18 17:09:27728

使用SEGGER Linker的完整性檢查功能

在嵌入式產(chǎn)品應(yīng)用中,為了保證系統(tǒng)數(shù)據(jù)在存儲(chǔ)或者傳輸過程中的完整性,固件映像中通常包含完整性檢查(integrity checks),以檢測(cè)映像是否損壞。例如,bootloader可以基于完整性檢查
2023-05-18 13:50:32

求分享MPC5200CVR400B和PCF8582C-2T/03可靠性數(shù)據(jù)

我想知道產(chǎn)品MPC5200CVR400B和PCF8582C-2T/03的MTBF或FIT值來做可靠性預(yù)測(cè)工作
2023-05-17 08:49:55

DPoC信號(hào)完整性調(diào)試方法

  起因:   產(chǎn)品執(zhí)行研發(fā)信號(hào)完整性一致驗(yàn)證時(shí),DPoC 5.4Gbps Pre-Emphasis Level over the criteria,具體數(shù)據(jù)如下,4個(gè)DP Lane
2023-05-16 15:32:40

評(píng)估汽車PCB制造商可靠性的5種可靠方法

改變產(chǎn)品質(zhì)量。因此,PCB制造商進(jìn)入汽車電子市場(chǎng)的第一步在于獲得IATF16949證書。   ?性能的基本要求   a.高可靠性   汽車可靠性主要來自兩個(gè)方面:壽命和耐環(huán)境。前者是指可以在使用壽命
2023-04-24 16:34:26

電源完整性(PI)分析法

  在當(dāng)今的高速數(shù)字設(shè)計(jì)中,可靠的仿真工具非常關(guān)鍵,因?yàn)樗鼈冇兄谠谠O(shè)計(jì)過程早期發(fā)現(xiàn)布局前和布局后的功率和信號(hào)完整性問題,能在設(shè)計(jì)過程中正確地驗(yàn)證輸電網(wǎng)絡(luò)的DC電力損耗,提早檢測(cè)熱點(diǎn)位置,并防止故障
2023-04-24 11:46:21

通過柔性和剛硬的PCB簡(jiǎn)化裝配并提高可靠性

具有具有PCB的可重復(fù)性和可靠性的附加優(yōu)勢(shì)。分立的互連具有本質(zhì)上不同的導(dǎo)體方向,而柔性PCB將所有導(dǎo)體保持在固定的特殊方向上。成分的這種一致允許對(duì)柔性PCB導(dǎo)線進(jìn)行精確建模,并實(shí)現(xiàn)更可預(yù)測(cè)的設(shè)計(jì)。此外
2023-04-21 15:52:50

10GBase-T合規(guī)性和惡劣環(huán)境的影響

能夠保持傳輸完整性和承受沖擊和振動(dòng)環(huán)境。本文探討了所需的以太網(wǎng)10GBase-T電氣和沖擊與振動(dòng)測(cè)試,然后提出了適用于此環(huán)境的標(biāo)準(zhǔn)RJ45解決方案以及未來可能的替代方案。
2023-04-19 09:55:39676

環(huán)境可靠性試驗(yàn)通常應(yīng)用在哪些行業(yè)

、航空航天、汽車工業(yè)、電子電器、通訊、醫(yī)療設(shè)備和工業(yè)制造等行業(yè),環(huán)境可靠性試驗(yàn)被廣泛應(yīng)用。   在國防領(lǐng)域,環(huán)境可靠性試驗(yàn)是測(cè)試軍事設(shè)備和武器系統(tǒng)的重要手段。在軍事場(chǎng)合,戰(zhàn)斗條件惡劣,因此測(cè)試行政部門裝備的可
2023-04-12 11:26:55664

碳化硅SiC MOSFET:低導(dǎo)通電阻和高可靠性的肖特基勢(shì)壘二極管

阻并提高可靠性。東芝實(shí)驗(yàn)證實(shí),與現(xiàn)有SiC MOSFET相比,這種設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)在不影響可靠性的情況[1],可將導(dǎo)通電阻[2](RonA)降低約20%。功率器件是管理各種電子設(shè)備電能,降低功耗以及實(shí)現(xiàn)碳中和
2023-04-11 15:29:18

介紹一種電源完整性的分析方法

  在當(dāng)今的高速數(shù)字設(shè)計(jì)中,可靠的仿真工具非常關(guān)鍵,因?yàn)樗鼈冇兄谠谠O(shè)計(jì)過程早期發(fā)現(xiàn)布局前和布局后的功率和信號(hào)完整性問題,能在設(shè)計(jì)過程中正確地驗(yàn)證輸電網(wǎng)絡(luò)的DC電力損耗,提早檢測(cè)熱點(diǎn)位置,并防止故障
2023-04-11 15:17:05

PCB設(shè)計(jì)中的可靠性有哪些?如何提高PCB設(shè)計(jì)的可靠性呢?

  PCB設(shè)計(jì)中的可靠性有哪些?  實(shí)踐證明,即使電路原理圖設(shè)計(jì)正確,如果PCB設(shè)計(jì)不當(dāng),也會(huì)對(duì)電子設(shè)備的可靠性產(chǎn)生不利的影響。舉個(gè)簡(jiǎn)單的例子,如果PCB兩條細(xì)平行線靠得很近的話,則會(huì)造成信號(hào)波形
2023-04-10 16:03:54

信號(hào)完整性和電源完整性的分析

現(xiàn)有產(chǎn)品設(shè)計(jì)對(duì)信號(hào)完整性很重視,但對(duì)于電源完整性的重視好像不夠,主要是因?yàn)椋瑢?duì)于低頻應(yīng)用,開關(guān)電源的設(shè)計(jì)更多靠的是經(jīng)驗(yàn),或者功能級(jí)仿真來輔助即可
2023-04-10 09:16:161018

MRAM實(shí)現(xiàn)對(duì)車載MCU中嵌入式存儲(chǔ)器的取代

具有非易失,即使切斷電源,信息也不會(huì)丟失,而且它和DRAM一樣可隨機(jī)存取。表1存儲(chǔ)器的技術(shù)規(guī)格比較在性能方面,自旋注入MRAM的讀取1擦寫時(shí)間都很短,均在2ns~20ns之間。它不需要閃存所必需
2023-04-07 16:41:05

與FRAM相比Everspin MRAM具有哪些優(yōu)勢(shì)?

8Mb MRAM MR3A16ACMA35采用48引腳BGA封裝。MR3A16ACMA35的優(yōu)點(diǎn)與富士通FRAM相比,升級(jí)到Everspin MRAM具有許多優(yōu)勢(shì):?更快的隨機(jī)訪問操作時(shí)間?高可靠性數(shù)據(jù)
2023-04-07 16:26:28

半導(dǎo)體器件在高溫環(huán)境下的可靠性

半導(dǎo)體元器件在高溫環(huán)境下的可靠性是制造商和用戶十分關(guān)注的問題。高溫試驗(yàn)是一種常用的測(cè)試方法,通過模擬實(shí)際使用中的高溫環(huán)境,可以評(píng)估元器件在高溫下的性能和可靠性。高溫試驗(yàn)需要仔細(xì)設(shè)計(jì)實(shí)驗(yàn)方案,包括選擇
2023-04-07 10:21:03766

求分享BSS138PW/BSS84AKW,115可靠性數(shù)據(jù)

我想知道這些設(shè)備的可靠性數(shù)據(jù),例如 MTBF 和 FIT,BSS138PW BSS84AKW,115
2023-04-03 08:12:35

助力采用MCU的自主系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)自主安全

生態(tài)系統(tǒng)的支持,8位和32位MCU主要用于四大功能安全領(lǐng)域,業(yè)內(nèi)為此制定了下列工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范:·ISO 26262:汽車安全完整性等級(jí)(ASIL),適用于汽車應(yīng)用·IEC61508:安全完整性等級(jí)(SIL),適用于
2023-03-29 15:09:30

在哪里獲得PCA85073ADP/FS32K144HAT0MLHT可靠性測(cè)試報(bào)告?

嗨,我在哪里可以獲得以下芯片的可靠性測(cè)試報(bào)告?FS32K144HAT0MLHTPCA85073ADPTJA1044GT/3
2023-03-23 06:20:13

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