特點:
基本精度
+/- 0.8 % basic accuracy
檢查參數
頻率:1兆赫至3千兆赫
振動器水平:最高可達1分貝/0.5VRMS/10MAMS
DC bias level (Option E4991A-001): +/- 40V or +/- 50 mA
更多功能
窗口式用戶界面
內置VBA編程功能
通過局域網接口傳輸數據
通用測量選項
光電/磁性材料測量(備選方案E4991A-002)
可靠的濕式測量(備選方案E4991A-010)
溫度特性測量(備選方案E4991A-007)
關鍵視覺安捷倫HPE4991A射頻阻抗/材料分析儀提供了終極阻抗測量性能和強大的分析功能。它將在組件和電路設計師的研發方面提供創新,這些設計師將對3千兆赫范圍內的組件進行評估。關鍵視覺安捷倫惠普E4991A采用RF-IV技術,而不是反射測量技術,以更精確地測量寬阻抗范圍的阻抗。基本阻抗精度+/-0.8%。高的Q精度使低損失組件分析。內部合成器掃描頻率從1兆赫到3兆赫,1兆赫分辨率。
