數(shù)字源表420-C型帶接觸檢測(cè)的大電流數(shù)字源表功率為60W，能夠提供和測(cè)量從±5μV（源）和±1μV（測(cè)量）到±60V的電壓，以及從±100pA到±3A的電流。2420的生產(chǎn)測(cè)試應(yīng)用包括必須在較高電流情況下進(jìn)行測(cè)試的電阻和電阻網(wǎng)絡(luò)、熱敏電阻、太陽(yáng)能電池、普通電池、大電流或中等功率二極管（包括開(kāi)關(guān)和肖特基二極管）。2420-C也適用于CMOS集成電路的IDDQ測(cè)試，監(jiān)測(cè)電池供電醫(yī)療設(shè)備（例如起勃器）的電流消耗情況。這種接觸檢查功能能夠在開(kāi)始一個(gè)自動(dòng)測(cè)試序列之前，在350μs內(nèi)輕松驗(yàn)證測(cè)試連接情況，從而實(shí)現(xiàn)了最大的測(cè)試功能。這就消除了由于接觸不良、磨損、玷污、松動(dòng)或連接斷開(kāi)、中繼失效等問(wèn)題導(dǎo)致的測(cè)量錯(cuò)誤和虛假產(chǎn)品失效。

主要特性編輯
* 在350μs之內(nèi)就可以完成接觸檢測(cè)驗(yàn)證與報(bào)告，有利于保持高速生產(chǎn)效率

* 可以通過(guò)該儀器的前置面板或通過(guò)GPIB遠(yuǎn)程控制接觸檢測(cè)操作

* 內(nèi)置的“源存儲(chǔ)器”可編程序列發(fā)生器最多可存儲(chǔ)100個(gè)不同的測(cè)試，以滿足高速生產(chǎn)的需要

* 高達(dá)75000小時(shí)MTBF的可靠性設(shè)計(jì)，為不中斷生產(chǎn)環(huán)境提供了良好的可靠性

* 內(nèi)置的比較器簡(jiǎn)化了pass/fail測(cè)試

* 數(shù)字I/O支持快速鍵合或連接到元件機(jī)械手

* 0.012%的精確度，5?的分辨率
 

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