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SPEA

SPEA成立于1976年，注于于電路板和電路模塊檢測，為半導體IC和 MEMS傳感器設計并制造自動測試設備，提供標準化產品和定制化服務方案

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吸放式Handler

型號： H3580

--- 產品參數 ---

  • 溫度范圍 -40—150℃
  • 吞吐量 高達33000UPH
  • 多站點 多達200個站點
  • 裝載量 80 個托盤
  • 占地面積 2200 x 1400 mm (托盤到托盤)
  • 器件尺寸 1x1x0.5 mm
  • 器件封裝 QFP, LGA, QFN, BGA, 帶或不帶引腳

--- 產品詳情 ---

 

H3580是一款高吞吐量、完全可配置型吸放式Handler。H3580因其十分廣泛的可測試范圍而廣受好評。它成功的把搬運、接觸、物理仿真和對MEMS及其他IC器件的完整測試完美的結合在一個單一的設備里。多種物理仿真可以結合在一個單一的測試單元里用來測試Combo MEMS，例如環境傳感器（壓力+濕度）或導航傳感器（加速度計+陀螺儀）。測試區域可以在現場很容易的被重新配置成其他測試單元。同時多站點測試單元可以大大提高機器產能：最多可同時接觸并測試196個元件，實現最高吞吐量。

 

 

輸入/輸出托盤

 

  • 80 JEDEC 托盤裝載能力
  • 在操作過程中裝載/卸載托盤
  • 用來預對準的精密單元

 

批量輸入 - 振動料斗單元

 

  • 高度的操作自主性
  • 通過高速像機的光學測試
  • 機器handling過程中自動補料
  • 可以同時配備托盤載入單元
  • 5S檢測和光學檢查通過高速攝像機

 

 

 高度的并行性  

 

1-50 站點并行處理、接觸、測試

高達 200x 并行 接觸 及測試

 

 高速、軟沖擊 Handling  
 

2個由馬達控制并配備視覺系統的吸放單元

直線電機無摩擦

為了輕柔的釋放器件，設定軸運動曲線在零重力加速度時停下來釋放器件
 

 極低的 jam rate  

 

托盤缺陷自動補償（形狀、平整度、尺寸不當）

器件自動位置調整及接觸單元內的器件的存在測試

 

產品參數

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