--- 產(chǎn)品參數(shù) ---
- 產(chǎn)品類(lèi)型 針床測(cè)試儀
- 主要功能 ICT、FCT、OBP等
- 通道-核心 2048-雙核
--- 產(chǎn)品詳情 ---
3030C 是一款型的針床測(cè)試機(jī),占地面積小,測(cè)試效率高,測(cè)試成本低。模塊化的設(shè)計(jì)可以使3030C搭載或任意配不同型號(hào)的receiver 和測(cè)量?jī)x器,與標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試解決方案相比,3030C可以進(jìn)行真正的2核并行測(cè)試,幫助電路板測(cè)試降本增效。3030C搭載了多種測(cè)試功能,使其在高產(chǎn)能核高效率的同時(shí)保證了100%的測(cè)試覆蓋率。
為你推薦
-
SPEA 在線離線ICT測(cè)試儀 3030IL 全自動(dòng)電路板測(cè)試設(shè)備2023-11-14 17:29
產(chǎn)品型號(hào):3030IL、3030M、3030R等 設(shè)備尺寸:900x970x1737mm 內(nèi)核數(shù):可達(dá)到4核 電阻測(cè)量范圍:1mΩ——1GΩ 電感測(cè)量范圍:1μH——1H 電感測(cè)量范圍:0.5pF——1F -
飛針代測(cè)-電路板代測(cè)-SPEA飛針測(cè)試2023-08-17 10:55
產(chǎn)品型號(hào):4080 應(yīng)用行業(yè):軍工電子、汽車(chē)電子、消費(fèi)電子、航天航空等 代測(cè)項(xiàng)目:器件測(cè)試、短路測(cè)試、連通性測(cè)試、上電測(cè)試等 適用電路板:PCBA、PCB、負(fù)載板、背板、主板等 代測(cè)優(yōu)勢(shì):降本增效,無(wú)需治具成本、省人力、快速獲取測(cè)試結(jié)果 -
IGBT功率器件測(cè)試儀2022-12-12 10:30
產(chǎn)品型號(hào): DOT800T ISO測(cè)試資源:高達(dá)12KV/10mA DC ISO測(cè)試資源:高達(dá) 10kV/20mA AC AC 測(cè)試資源:高達(dá) 6kV,高達(dá) 3kA AC 測(cè)試資源:電流短路測(cè)試,高達(dá) 10kA DC 測(cè)試資源:高電壓發(fā)生器發(fā)生能力高達(dá) 20kV -
SPEA 3030BT桌面型電路板測(cè)試機(jī)2022-11-15 11:14
產(chǎn)品型號(hào):3030BT 設(shè)備尺寸:466*483*177mm ICT在線測(cè)試功能:有 開(kāi)路測(cè)試功能:有 開(kāi)/短路測(cè)試功能:有 -
SPEA 3030C ICT在線測(cè)試儀2022-11-14 09:27
產(chǎn)品型號(hào):3030C 產(chǎn)品類(lèi)型:針床測(cè)試儀 主要功能:ICT、FCT、OBP等 通道-核心:2048-雙核 -
STU200-高G慣性測(cè)試設(shè)備-mems測(cè)試設(shè)備|SPEA2022-10-09 14:39
產(chǎn)品型號(hào):STU200 加速度:-28~+28g 溫度范圍:-50℃~150℃ 頻率范圍:80~120Hz -
SPEA 4050S2飛針測(cè)試儀2022-09-30 09:48
產(chǎn)品型號(hào):4050S2 測(cè)試機(jī)接口:384 最小焊點(diǎn)尺寸:80um 測(cè)試精度:±40um -
SPEA 4060S2 飛針測(cè)試機(jī)2022-09-30 09:25
產(chǎn)品型號(hào):4060S2 測(cè)試機(jī)接口:576通道 最小焊點(diǎn)尺寸:80um xyz運(yùn)動(dòng)技術(shù):線性電機(jī) -
SPEA 4085飛針測(cè)試設(shè)備2022-09-28 17:28
產(chǎn)品型號(hào):4085 -
MEMS麥克風(fēng)仿真單元2022-09-28 10:27
產(chǎn)品型號(hào):MCTU300
-
SPEA創(chuàng)新實(shí)踐:AI芯片混合信號(hào)測(cè)試儀2025-01-03 11:44
芯片是人工智能(AI)應(yīng)用的支柱,為從自動(dòng)駕駛汽車(chē)到虛擬助手等各類(lèi)應(yīng)用提供著核心動(dòng)力。AI芯片專(zhuān)門(mén)設(shè)計(jì)用于處理海量數(shù)據(jù),并能實(shí)時(shí)做出決策,因此它們對(duì)于確保最終應(yīng)用的成功發(fā)揮著至關(guān)重要的作用。隨著AI引發(fā)的變革,各行業(yè)對(duì)更強(qiáng)大、更高效的AI芯片的需求持續(xù)攀升。AI算法的日益復(fù)雜,市場(chǎng)對(duì)AI運(yùn)行速度需求不斷提升,測(cè)試AI芯片已成為半導(dǎo)體公司面臨的一大挑戰(zhàn)。如果沒(méi) -
DOT800 多核混合信號(hào)測(cè)試儀2025-01-03 11:40
DOT800將兩臺(tái)測(cè)試儀的能力融合到一個(gè)只有測(cè)試頭的系統(tǒng)中,采用創(chuàng)新的面向器件的儀器,所有模擬、數(shù)字和信號(hào)處理資源都集中在一個(gè)功能強(qiáng)大的可配置主板上。測(cè)試性能優(yōu)越,多站點(diǎn)效率>99.5%。多核心架構(gòu)DOT800由兩個(gè)體積小于0.3立方米的獨(dú)立系統(tǒng)核心構(gòu)成。每個(gè)核心配有一個(gè)專(zhuān)用CPU,用于在全異步模式下執(zhí)行測(cè)試程序,從而確保達(dá)到最高的并行測(cè)試效率。儀器功能強(qiáng)大 -
SPEA—ADC與DAC測(cè)試簡(jiǎn)介2024-12-31 17:21
如今,有大量應(yīng)用都依賴(lài)于數(shù)模轉(zhuǎn)換器(DAC)和模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)。它們?cè)谛盘?hào)處理中非常重要,因?yàn)樗鼈儤?gòu)建了數(shù)字系統(tǒng)和模擬系統(tǒng)之間的橋梁。通過(guò)使數(shù)字電路能夠與模擬組件交互,ADC和DAC在音頻處理、電信、數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)等領(lǐng)域發(fā)揮著關(guān)鍵作用。DAC與ADC的作用模數(shù)轉(zhuǎn)換器是現(xiàn)代數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)(DAQ或DAS系統(tǒng))中的基本構(gòu)建模塊。它們將調(diào)節(jié)后的模擬信號(hào)轉(zhuǎn)換為數(shù)字?jǐn)?shù)595瀏覽量 -
都靈理工大學(xué)校長(zhǎng)一行再訪SPEA2024-12-19 13:12
SPEA與都靈理工大學(xué)有著深厚的歷史淵源,雙方通過(guò)構(gòu)建人才培養(yǎng)體系、推動(dòng)融合創(chuàng)新、不斷拓寬技術(shù)應(yīng)用的邊界,共同促進(jìn)了自動(dòng)化測(cè)試技術(shù)在半導(dǎo)體、MEMS傳感器、電子制造等多個(gè)關(guān)鍵領(lǐng)域快速發(fā)展。近日,都靈理工大學(xué)校長(zhǎng)率領(lǐng)代表團(tuán),再度訪問(wèn)SPEA總部,雙方展開(kāi)了一場(chǎng)深入且富有成效的交流。交流內(nèi)容涵蓋科技創(chuàng)新的前沿方向、人才培育新策略、機(jī)械設(shè)備制造、測(cè)試技術(shù)等。SPE208瀏覽量 -
Rinaldi代表團(tuán)到訪SPEA總部:探索全球頂尖自動(dòng)化測(cè)試技術(shù)2024-12-06 01:05
在自動(dòng)化測(cè)試的廣闊領(lǐng)域中,SPEA憑借飛針測(cè)試儀、功率半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備、MEMS測(cè)試系統(tǒng)等一系列創(chuàng)新產(chǎn)品,不斷為前沿科技產(chǎn)業(yè)注入強(qiáng)勁動(dòng)力,已然成為支撐汽車(chē)產(chǎn)業(yè)向電動(dòng)化、智能化發(fā)展的重要推手。正因如此,SPEA總部常迎來(lái)各方合作伙伴與參觀者的青睞。近日,Rinaldi代表團(tuán)20余位客戶(hù)到訪了SPEA總部,踏上了探索前沿科技的旅程。SPEACEOLucianoBo388瀏覽量 -
SPEA出席第十六屆在蘇意大利企業(yè)答謝交流會(huì)2024-12-03 01:05
近日,中國(guó)意大利商會(huì)(CICC)在意大利駐上海總領(lǐng)事館及蘇州政府大力支持下,于蘇州工業(yè)園區(qū)香格里拉酒店舉辦了第十六屆在蘇意大利企業(yè)答謝交流會(huì)。包括SPEA在內(nèi)的一批知名意大利企業(yè)代表出席本次活動(dòng)。意大利大使安博思、意大利駐上海總領(lǐng)事館等嘉賓的蒞臨,極大地提升了本次交流會(huì)的規(guī)格與影響力。答謝交流會(huì)期間,眾多企業(yè)代表分享各自企業(yè)的在蘇發(fā)展近況與未來(lái)規(guī)劃,展現(xiàn)了對(duì) -
SPEA接待歐洲半導(dǎo)體地區(qū)聯(lián)盟(ESRA)代表團(tuán)2024-11-15 01:07
SPEA接待歐洲半導(dǎo)體地區(qū)聯(lián)盟(ESRA)代表團(tuán)257瀏覽量 -
新加坡裕廊西中學(xué)到訪SPEA蘇州2024-10-23 08:07
10月22日,SPEA蘇州測(cè)試培訓(xùn)中心迎來(lái)了一批特殊的訪客——新加坡裕廊西中學(xué)的60余位師生。在SPEA蘇州團(tuán)隊(duì)的熱情陪同下,師生們開(kāi)啟了一場(chǎng)聚焦自動(dòng)化測(cè)試的參訪探索之旅。步入SPEA蘇州測(cè)試實(shí)驗(yàn)室,展現(xiàn)在眾人眼前的是一系列尖端的半導(dǎo)體測(cè)試機(jī)、MEMS測(cè)試設(shè)備以及飛針測(cè)試設(shè)備,數(shù)位專(zhuān)業(yè)的測(cè)試工程師正聚精會(huì)神地進(jìn)行著設(shè)備的調(diào)試與測(cè)試工作。井然有序的工作環(huán)境,精 -
喜訊:都靈理工大學(xué)與 SPEA 簽署測(cè)試研究協(xié)議,共繪電子測(cè)試新篇章2024-10-10 08:06
SPEANewsStefanoCorgnati校長(zhǎng)、SPEACEOLucianoBonaria▲近日,都靈理工大學(xué)與SPEA在校長(zhǎng)StefanoCorgnati、SPEACEOLucianoBonaria見(jiàn)證下,簽署了一項(xiàng)具有里程碑意義的合作協(xié)議。這項(xiàng)協(xié)議有望推動(dòng)微芯片測(cè)試、微機(jī)電系統(tǒng)(MEMS)、自動(dòng)化機(jī)械設(shè)計(jì)生產(chǎn)等領(lǐng)域融合創(chuàng)新。作為電子測(cè)試領(lǐng)域的全球領(lǐng)袖353瀏覽量 -
【ISES China 2024精彩回顧】半導(dǎo)體精英齊聚,共促產(chǎn)業(yè)創(chuàng)新發(fā)展2024-09-26 08:09
2024國(guó)際汽車(chē)半導(dǎo)體創(chuàng)新發(fā)展交流會(huì)(ISESChina2024)日前在無(wú)錫圓滿(mǎn)落幕。本次活動(dòng)匯聚了全球汽車(chē)半導(dǎo)體行業(yè)的頂尖企業(yè)與精英領(lǐng)袖,共同探索行業(yè)新趨勢(shì),推動(dòng)技術(shù)創(chuàng)新發(fā)展,為汽車(chē)半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)帶來(lái)了強(qiáng)勁動(dòng)能。SPEA中國(guó)區(qū)總經(jīng)理孫媛麗女士的演講無(wú)疑是全場(chǎng)的亮點(diǎn)之一。她聚焦于功率半導(dǎo)體的可靠性話(huà)題,特別是在KGD(良品芯片)級(jí)別測(cè)試SiC半導(dǎo)體器件方面進(jìn)行了