Agilent 4156C、Keysight 4156C、HP 4156C半導體參數(shù)分析儀
Keysight / Agilent 4156C 精密半導體參數(shù)分析儀為高級器件表征提供了高精度的實驗室臺式參數(shù)分析儀。Keysight/Agilent 4156C 分析儀卓越的低電流和低電壓分辨率以及內置的準靜態(tài) CV 測量功能為未來擴展其他測量儀器奠定了堅實的基礎。
Keysight / Agilent 4156C 分析儀的特性和技術指標包括：
內置四個高分辨率源/監(jiān)視器單元，2個電壓源單元；2電壓監(jiān)控單元
開發(fā)新的工藝技術并通過測量到 1 fA 和 0.2 uV 來評估材料
全開爾文；每個 HRSMU 的強制、感應和保護端子
執(zhí)行準靜態(tài)電容測量與電壓測量
自動提取工藝參數(shù)，無需手動操作屏幕標記
使用超低泄漏 SMU 測量泄漏特性
使用集成脈沖發(fā)生器和選擇器開關自動進行設備表征
使用內置應力模式執(zhí)行晶圓上可靠性測試
使用圖形用戶界面執(zhí)行點擊式測量
在 Windows 環(huán)境下提供圖形數(shù)據(jù)分析功能
旋鈕掃描功能驗證每個探頭是否接觸
待機模式無需外部電源
觸發(fā)模式允許同步 AC/DC 測量
允許繪制和分析所有數(shù)據(jù)的 IBASIC 用戶函數(shù)
其他半導體參數(shù)分析儀
是德科技/安捷倫 4156A
是德科技/安捷倫 4156B
是德科技/安捷倫 4155A
是德科技/安捷倫 4155B
是德科技/安捷倫 4155C
是德科技/安捷倫 4200-scs
