增強(qiáng)型產(chǎn)品低電壓 4 位 2 選 1 FET 多路復(fù)用器/多路信號分離器
| Configuration | 2:1 SPDT |
| Number of channels (#) | 4 |
| Power supply voltage - single (V) | 2.5, 3.3 |
| Protocols | Analog, JTAG, UART, I2C, SPI, RGMII, TDM, I2S |
| Ron (Typ) (Ohms) | 5 |
| ON-state leakage current (Max) (μA) | 1 |
| Bandwidth (MHz) | 200 |
| Operating temperature range (C) | -55 to 125 |
| Features | Powered-off protection |
| Input/output continuous current (Max) (mA) | 128 |
| Rating | HiRel Enhanced Product |
- 受控基線
- 一個(gè)組裝地點(diǎn)
- 一個(gè)測試地點(diǎn)
- 一個(gè)制造地點(diǎn)
- 更寬泛的工作溫度范圍 -55°C 至 125°C
- 為制造資源減少 (DMS) 提供增強(qiáng)型支持
- 改進(jìn)了產(chǎn)品變更通知
- 資質(zhì)譜系 (1)
- 兩個(gè)端口間使用 5? 開關(guān)連接
- 支持在數(shù)據(jù) I/O 端口進(jìn)行軌至軌開關(guān)
- Ioff 支持局部斷電模式運(yùn)行
- 閂鎖性能超過 100mA，符合 JESD 78 II 類規(guī)范
- ESD 保護(hù)性能超過 JESD 22 規(guī)范要求
- 2000V 人體模型 (A114-A)
- 200V 機(jī)器模型 (A115-A)
(1)組件資質(zhì)符合 JEDEC 和行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)，確保在更寬泛的工作溫度范圍內(nèi)可靠運(yùn)行。這包括但不限于高加速應(yīng)力測試 (HAST) 或偏壓 85/85、溫度循環(huán)、熱壓器或無偏壓 HAST、電遷移、金屬間鍵合壽命和模塑化合物壽命。這些資質(zhì)測試不能作為在超出額定性能和環(huán)境限制的條件下使用此組件的依據(jù)。
SN74CBTLV3257 是一款 4 位 2 選 1 高速 FET 多路復(fù)用器/多路信號分離器。此開關(guān)具有低通態(tài)電阻，可以在最短傳播延遲情況下建立連接。
選擇 (S) 輸入控制數(shù)據(jù)流。當(dāng)輸出使能 (OE) 輸入為高電平時(shí)，F(xiàn)ET 多路復(fù)用器/多路解復(fù)用器被禁用。
該器件完全 適用于 Ioff 為了部分?jǐn)嚯姷膽?yīng)用。Ioff 特性可確保在關(guān)斷時(shí)防止損壞電流通過器件回流。該器件可在關(guān)斷時(shí)提供隔離。
為了確保加電或斷電期間的高阻抗?fàn)顟B(tài)，OE 應(yīng)通過一個(gè)上拉電阻器被連接至 VCC；該電阻器的最小值由驅(qū)動(dòng)器的電流吸入能力來決定。
