CHOTEST中圖儀器SJ5730粗糙度輪廓測量儀一體機(jī)具有12mm-24mm的粗糙度輪廓一體式測量范圍，分辨率達(dá)到0.1nm，一次測量可同時評定粗糙度及輪廓參數(shù)，分析評定R參數(shù)、P參數(shù)、W參數(shù)等微觀粗糙度參數(shù)及倒角、R角、直線度、位置尺寸、角度的宏觀輪廓參數(shù)。適合測量大曲面高精密零部件的輪廓參數(shù)測量，同時具備球面、弧面、非球面輪廓參數(shù)評價功能，能夠滿足各種高精密輪廓粗糙度加工行業(yè)的測量需求。
SJ5730粗糙度輪廓測量儀一體機(jī)同時可廣泛應(yīng)用于精密機(jī)械加工、汽車、軸承、機(jī)床、模具、精密五金等行業(yè)。該儀器可以對零件表面的輪廓度、波紋度、粗糙度實(shí)現(xiàn)一次掃描測量，尤其是大范圍曲面、斜面進(jìn)行粗糙度檢測，如圓弧面和球面、異型曲面進(jìn)行多種粗糙度參數(shù)、微觀輪廓度參數(shù)的測量。同時儀器還可對各種精密零件輪廓度、波紋度進(jìn)行測量，對形狀參數(shù)進(jìn)行分析。是大曲面測量（軸承、人工關(guān)節(jié)、精密模具、齒輪、葉片、光學(xué)鏡片）領(lǐng)域精細(xì)粗糙度測量的利器。
產(chǎn)品功能
1.SJ5730粗糙度輪廓測量儀一體機(jī)一次測量可同時評定粗糙度及輪廓參數(shù)，分析評定R參數(shù)、P參數(shù)、W參數(shù)等微觀粗糙度參數(shù)及倒角、R角、直線度、位置尺寸、角度的宏觀輪廓參數(shù)；
2.表面粗糙度評定： R參數(shù)、P參數(shù)、W參數(shù)、核心粗糙度Rcore、Motif等微觀粗糙度參數(shù)評定；
3.圓球類零件輪廓及粗糙度參數(shù)測量評定；
4.表面輪廓評定：評定任何點(diǎn)/線間距、兩線夾角、圓弧半徑、直徑等幾何量尺寸參量，并可對輪廓進(jìn)行直線度、圓度、輪廓度、平行度、位置度、垂直度等分析，重新分析和測量的操作簡潔高效；
5.尺寸標(biāo)注：半徑、兩圓中心距離、X/Z尺寸、斜邊、兩線夾角、直線相交、直線與圓弧相交、圓弧與圓弧相交、尺寸標(biāo)注線大小修改、線偏移、局部輪廓放大和調(diào)平等；
6.測量記錄采用集中式數(shù)據(jù)庫管理，可按被測件類型、生產(chǎn)單位、出廠編號、檢測員、送檢單位、設(shè)備編號、檢定日期和有效日期等查詢和管理測量記錄；
7.輸出多種格式報表(.doc，.docx，.xlsx，.pdf)，并支持自定義報表，定制測量記錄報表，可批量打印記錄表，具有數(shù)據(jù)備份和還原數(shù)據(jù)庫功能；
8.具備自動找拐點(diǎn)功能，能按照程序設(shè)置進(jìn)行X軸自動找拐點(diǎn)；
9.成熟簡單的標(biāo)定，儀器自帶高精度組合標(biāo)定臺，可對儀器的精度和測針磨損進(jìn)行精確補(bǔ)償；
10.可進(jìn)行DXF（CAD）格式圖紙導(dǎo)入，進(jìn)行理論圖紙與測量結(jié)果比對分析，可提供直觀圖形對比；
11.可導(dǎo)出坐標(biāo)點(diǎn)數(shù)據(jù)（.TXT）等格式，可讀取到Excel或者CAD軟件內(nèi)進(jìn)行數(shù)據(jù)分析及標(biāo)準(zhǔn)輪廓比對；
12.可對多次測量的輪廓曲線匹配后進(jìn)行分析測量重復(fù)性。
高精度、高穩(wěn)定性、高重復(fù)性：滿足被測件測量精度要求
1)系統(tǒng)掃描軸采用特殊的超高耐磨材質(zhì)復(fù)合材質(zhì)摩擦片，耐磨性能優(yōu)良，穩(wěn)定性高，能保障系統(tǒng)長時間的穩(wěn)定的直線度精度；
2)高精度轉(zhuǎn)軸采用特殊的高剛性、低慣量、超低摩擦系數(shù)的紅寶石轉(zhuǎn)軸系統(tǒng)，確保了轉(zhuǎn)動的超高靈敏度及測量精度；
3)超高穩(wěn)定的驅(qū)動設(shè)計，確保了驅(qū)動運(yùn)行過程中不產(chǎn)生任何的振動及干擾，保障了系統(tǒng)掃描運(yùn)動精度；
4)高精度的納米級光學(xué)轉(zhuǎn)軸測量系統(tǒng)，保障了儀器超高的分辨率及全程納米級粗糙度測量精度；
5)一體式拔插式碳纖維測桿、高剛性、低慣量，一鍵拔插，特殊設(shè)計的高剛性拔插結(jié)構(gòu)，無需鎖螺釘，方便快捷、穩(wěn)定可靠；
技術(shù)參數(shù)
| 型號 | SJ5730-100 | ||
輪廓參數(shù) |
測量范圍 | X軸 | 0~100mm |
| 立柱軸 | 0~300mm | ||
| Z軸 | ±6mm（標(biāo)準(zhǔn)測桿）（±12mm：兩倍標(biāo)準(zhǔn)測桿） | ||
| 分辨率 | X軸：10nm，Z軸：1nm、0.1nm | ||
測量精度 | 角度精度 | ≤0.5’ *備注：精度驗證以測量多面棱體角度為準(zhǔn) | |
| Z軸輪廓精度 | ≤±（0.5+0.03Z）μm（H，mm） | ||
| 標(biāo)準(zhǔn)圓弧Pt精度 | Pt≤0.4μm *備注：25mm以下標(biāo)準(zhǔn)球Pt測試 | ||
| 標(biāo)準(zhǔn)球測量誤差 | ≤±1μm（R≤10mm），≤±（0.17+R/12）μm（10 *備注：精度驗證以測量標(biāo)準(zhǔn)球弧度超過90度為準(zhǔn) | ||
| 移動速度 | X軸 | 0~20mm/s | |
| 立柱軸 | 0~20mm/s | ||
掃描速度（掃描軸） | 0.05～5mm/s | ||
| 直線度（掃描軸） | ≤（0.05+1.5L/1000）μm *備注：≤0.2μm/100mm | ||
| 測量力 | 0.5mN、0.75mN、1mN、2mN、3mN（電子檔位可調(diào)） | ||
粗糙度參數(shù) | 適用Ra測量范圍 | Ra0.012μm~Ra12.5μm（可選更大范圍） | |
| 示值誤差 | Ra： ≤±(3nm+2.0%A)（A：測量Ra標(biāo)稱值） | ||
| 重復(fù)性(1δ) | 1δ≤1nm *備注：0.1-0.2μm方波粗糙度樣塊、標(biāo)準(zhǔn)臺階塊測試 | ||
| 殘值噪聲 | Rq≤2nm *備注：1納米級粗糙度樣塊、平晶測試 | ||
粗糙度測量參數(shù) | R粗糙度： Rp,Rv,Rz,Rc,Rt,Ra,Rq,Rsk,Rku,RSm,Rdq,Rdc,Rmr,Rmax,Rpm,tp,Htp,Pc,Rda,Ry,Sm,S,RzJ； Ra,Rq,Rz,Rmax,RPc,Rz-JIS,Rt,Rp,Rv,RSm,Sm,S,Rsk,Rku,Rdq,Rdc,Rmr； 核心粗糙度Rcore: Rk,Rpk,Rvk,Rpkx,Rvkx,Mr1,Mr2,A1,A2,Vo； P輪廓參數(shù)： Pa,Pq,Pt,Pz,Pp,Pv,PSm,Psk,Pku,Pdq,Pdc,Pc,PPc,Pmr,Rad,PzJ,Pmax； W波紋度輪廓參數(shù)： Wa,Wq,Wt,Wz,Wp,Wv,WSm,Wsk,Wku,Wdq,Wdc,Wmr,Wpc,Wc； Motif參數(shù)：R,AR,W,AW,Rx,Wx,Wte； 符合標(biāo)準(zhǔn)： GB/T3505-2009,ISO4287:1997,ISO 13565-2:1996,ASME B46.1-2002, DIN/EN/ISO 4287:2010,JIS B 0601:2013,JIS B 0601-1994JIS B 0601-1982, ISO 1302:2002； | ||
| 濾波器 | 高斯濾波器、2RC濾波器，相位修正濾波器 | ||
| 濾波長度 | 0.08、0.25、0.8、2.5、8.0、25mm可選 | ||
| 濾波長度 | λc×3、4、5、6、7、8可選 | ||
儀器尺寸（長×寬×高） | 600×350×850（mm） | ||
| 儀器總重量 | 約95Kg | ||
環(huán)境條件
溫度：20±5℃；
相對濕度：10%~80%；
電源/功率：220V，50Hz，≤1.5KW（含電腦及顯示器）；
振動：按照三坐標(biāo)振動要求標(biāo)準(zhǔn)，振動速度均方根≤5um/s，振動頻率8~100Hz；
校準(zhǔn)室內(nèi)應(yīng)無影響測量的灰塵、震動、噪音、氣流、腐蝕性氣體和較強(qiáng)磁場；
