服務范圍
半導體分立器件、LED、阻容感等無源電子元件
檢測項目
（1）光：可?光的光通量（模塊、燈珠）、光強（燈珠）、主波長、色坐標、輻射通量、顯指、可視角等。
（2）電：二、三極管等各類 I-V 參數(shù)、I-V 曲線、各類動態(tài)參數(shù)，如開通關斷時間、上升下降時間、導通關斷延遲時間、開通關斷損耗、柵極總電荷、柵源充電電量、平臺電壓、反向恢復時間、反向恢復充電電量、反向恢復電流、反向恢復損耗、反向恢復電流變化率、反向恢復電壓變化率、集電極短路電流、輸入電容、輸出電容、反向轉移電容、柵極串聯(lián)等效電阻。
（3）熱：結溫、穩(wěn)態(tài)/瞬態(tài)熱阻、結構函數(shù)、老化試驗分析、封裝缺陷診斷。
（4）機械：端子強度、板彎曲（bending）、機械尺寸。
相關資質(zhì)
CNAS
服務背景
產(chǎn)品的光、電、熱、機械等物理性能是產(chǎn)品使用性能等級劃分的重要指標。由于測試設備之間存在測試誤差，在同一對照下進行測量和對比才能對產(chǎn)品性能作出公正合理的評估。另一方面，制造商一般只會采購某個方面向的物理性能測試設備，難以對產(chǎn)品的光、電、熱、機械全參數(shù)進行評估。
我們的優(yōu)勢
廣電計量具有德國IS光譜儀（積分球）、Mentor T3ster熱阻測試儀、是德B1505及B1506大功率圖?儀、IGBT動態(tài)參數(shù)測試儀等設備，覆蓋光、電、熱、機械全參數(shù)測試，為客?提供全?的參數(shù)驗證和對比服務。
廣電計量可與企業(yè)合作，深入產(chǎn)品研發(fā)階段，有效為產(chǎn)品研發(fā)和定型提供測試保障。
