為了用較少的硬件和測(cè)試時(shí)間開銷獲得對(duì)被測(cè)電路較高的故障覆蓋，提出了一種數(shù)字集成電路測(cè)試中多掃描鏈的配置方法。該方法基于最大周期的線性反饋移位寄存器LFSR生成的m序列的移位可加性，可使較短長度的LFSR驅(qū)動(dòng)多個(gè)掃描鏈；為了減小LFSR生成序列的互相關(guān)性，利用LFSR與其對(duì)偶LFSR間的關(guān)系，提出了基于邏輯仿真的移相器的快速設(shè)計(jì)方法，實(shí)驗(yàn)結(jié)果驗(yàn)證了該方法的有效性，對(duì)VLSI的內(nèi)測(cè)試和外測(cè)試皆適用。
關(guān) 鍵 詞 線性反饋移位寄存器; 移相器; m序列; 移位可加性; 偽隨機(jī)測(cè)試
以少的時(shí)間開銷和硬件代價(jià)獲得高的故障覆蓋率一直是各種數(shù)字集成電路或系統(tǒng)測(cè)試方案研究對(duì)象。在已有的測(cè)試方案中，隨機(jī)測(cè)試技術(shù)由于無需確定性測(cè)試矢量生成器和適宜于內(nèi)測(cè)試的特性，故獲得廣泛應(yīng)用。在許多可測(cè)性方案中，為了減少測(cè)試時(shí)間開銷常使用多掃描通道[1]，通常采用具有最大周期的線性反饋移位寄存器(Linear Feedback Shift Register，LFSR)產(chǎn)生的m序列提供多掃描通道的并行輸入，但因LFSR中存在通過對(duì)相鄰單元的現(xiàn)態(tài)簡單左移或右移來獲得次態(tài)值的現(xiàn)象，必然造成LFSR中相鄰位流間的互相關(guān)性[2]，將這種位流用于被測(cè)電路(Circuits Under Test，CUT)多掃描通道的輸入，對(duì)CUT而言，輸入的并非偽隨機(jī)數(shù)，用這種存在互相關(guān)性的序列進(jìn)行測(cè)試，將使故障覆蓋率不合要求或增大測(cè)試長度，改進(jìn)這一缺陷的措施之一便是在LFSR的并行輸出和多通道掃描輸入間設(shè)計(jì)一個(gè)移相器(Phase Shifter，PS)，PS本質(zhì)上為一個(gè)異或樹狀網(wǎng)絡(luò)，其作用是將LFSR的若干單元經(jīng)異或運(yùn)算后用來驅(qū)動(dòng)掃描通道，PS設(shè)計(jì)的目的是決定由哪些LFSR單元的異或結(jié)果產(chǎn)生的序列來保證對(duì)另一參考通道具有給定的相移，如由長度為3的LFSR的某兩個(gè)單元產(chǎn)生的兩個(gè)移位等價(jià)序列S1=(1011001)，S2=(0011011)，則S2相對(duì)S1的相移P(S1,S2)=4。采用PS不僅能克服上述弊端，而且能使短長度的LFSR驅(qū)動(dòng)多掃描通道，本文提出了基于邏輯仿真的移相器的快速設(shè)計(jì)方法。