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摘要:在使用綜合參數(shù)測(cè)試儀測(cè)試808nm發(fā)射的半導(dǎo)體量子阱激光器的過(guò)程中,出現(xiàn)了一種由電浪涌所導(dǎo)致的災(zāi)變性損傷。通過(guò)測(cè)試的功率曲線和伏安特性曲線,斷定激光器出現(xiàn)了災(zāi)變性的損傷,同時(shí)測(cè)試的發(fā)射光譜不再是激射光譜,而是由自發(fā)輻射所產(chǎn)生的熒光光譜。由掃描電鏡(SEM)觀察到了激光器的腔面膜出現(xiàn)了熔化,證實(shí)激光器的確發(fā)生了災(zāi)變性損傷。作為對(duì)比,我們引用了另一種在測(cè)試中發(fā)現(xiàn)的快速退化現(xiàn)象,對(duì)兩種退化出現(xiàn)的原因進(jìn)行了理論上的分析,了解到激光器的退化主要還是由器件本身的材料、結(jié)構(gòu)以及后期的工藝過(guò)程所決定的,在測(cè)試器件過(guò)程中電浪涌只不過(guò)會(huì)加速或產(chǎn)生突然災(zāi)變性退化。通過(guò)測(cè)試我們建立了一種比較簡(jiǎn)單的檢驗(yàn)一個(gè)激光器質(zhì)量可靠性的方法,所以理解由電浪涌所引起的退化行為是非常重要的。
關(guān) 鍵 詞:電浪涌;災(zāi)變性損傷;激光二極管
關(guān) 鍵 詞:電浪涌;災(zāi)變性損傷;激光二極管
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