隨著光伏組件大規模使用一段時間后，特別是越來越多的投入運營的大型光伏電廠運營三四年后，業界對光伏組件的電位誘發衰減效應（PID，PotentialInducedDegradation）的關注越來越多。盡管尚無明確的由PID原因引發光伏電站在工作三、四年后發生大幅衰減的報道，但對一些電站工作幾年后就發生明顯衰減現象的原因的種種猜測使光伏行業對PID的原因和預防方法的討論越來越多。一些國家和地區已逐步開始把抗PID作為組件的關鍵要求之一。很多日本用戶明確要求把抗PID寫入合同，并隨機抽檢。歐洲的買家也躍躍欲試提出同樣的要求。此趨勢也使得國內越來越多的光伏電站業主單位、光伏電池和組件廠、測試單位和材料供應商對PID的研究越來越深入。

　　其實早在2005年，Sunpower就發現晶硅型的背接觸n型電池在組件中施加正高壓后存在PID現象［1］。2008年，Evergreen報道了PID出現在高負偏壓下的正面連接p型電池組件中。在2010年，SolonSE報道在標準的單晶和多晶電池中都發現了極化效應。很快SolonSE和NREL就提出在負高偏壓下使用任何工藝生產的P型電池標準組件都存在發生PID現象的極大風險［2-5］。而CIGS組件的PID效應也有被報道［6］。

　二、PID的檢測方式

　　PID測試有兩種加速老化的方式：

　　1）在特定的溫度、濕度下，在組件玻璃表面覆蓋鋁箔、銅箔或者濕布，在組件的輸出端和表面覆蓋物之間施加電壓一定的時間。

　　2）在85%濕度85℃或者是60℃或85℃的環境下將-1000V直流電施加在組件輸出端和鋁框上96小時。

　　在兩種方式測試前，都對組件進行功率、濕漏電測試并EL成像。老化結束后，再次進行功率、濕漏電測試并EL成像。將測試前后的結果進行比較，從而得出PID在設定條件下的發生情況。第一種方式比較多的用于實驗機構，而后一種方式比較多的被光伏組件廠采用。當PID現象發生時，從EL成像可以看到部分電池片發黑。光伏組件在上述兩種測試方式下表現出的的EL成像圖是不同的。第一種方式條件下，發黑的電池片隨機的分布在組件內，而在第二種方式中，電池片發黑的現象首先在靠近鋁框處發生。