資料介紹
在開(kāi)關(guān)電源中,功率器件高頻導(dǎo)通/關(guān)斷的操作導(dǎo)致的電流和電壓的快速變化而產(chǎn)生較高的電壓及電流尖峰是產(chǎn)生 EMI 的主要原因。加緩沖吸收電路有利于降低 EMI,但會(huì)產(chǎn)生過(guò)多的功耗,增加元件數(shù)量、PCB 尺寸及系統(tǒng)成本。 通常情況下,系統(tǒng)前端要加濾除器和 Y 電容,Y 電容的存在會(huì)使輸入和輸出線間產(chǎn)生漏電流,具有 Y 電容的金屬殼手機(jī)充電器會(huì)讓使用者有觸電的危險(xiǎn),因此,一些手機(jī)制造商開(kāi)始采用無(wú) Y 電容的充電器,然而,去除 Y 電容會(huì)給 EMI 的設(shè)計(jì)帶來(lái)困難,本文將介紹無(wú) Y 電容的充電器變壓器補(bǔ)償設(shè)計(jì)方法。
在開(kāi)關(guān)電源中,功率器件高頻導(dǎo)通/關(guān)斷的操作導(dǎo)致的電流和電壓的快速變化而產(chǎn)生較高的電壓及電流尖峰是產(chǎn)生 EMI 的主要原因。加緩沖吸收電路有利于降低 EMI,但會(huì)產(chǎn)生過(guò)多的功耗,增加元件數(shù)量、PCB 尺寸及系統(tǒng)成本。
通常情況下,系統(tǒng)前端要加濾除器和 Y 電容,Y 電容的存在會(huì)使輸入和輸出線間產(chǎn)生漏電流,具有 Y 電容的金屬殼手機(jī)充電器會(huì)讓使用者有觸電的危險(xiǎn),因此,一些手機(jī)制造商開(kāi)始采用無(wú) Y 電容的充電器,然而,去除 Y 電容會(huì)給 EMI 的設(shè)計(jì)帶來(lái)困難,本文將介紹無(wú) Y 電容的充電器變壓器補(bǔ)償設(shè)計(jì)方法。
變壓器補(bǔ)償設(shè)計(jì)
減小電壓和電流變化率及增加耦合通道阻抗是提高 EMI 性能的常用辦法,變壓器是另外一個(gè)噪聲源,而初級(jí)/次級(jí)的漏感及層間電容、初級(jí)和次級(jí)間的耦合電容則是噪聲的通道,初級(jí)或次級(jí)的層間電容可以通過(guò)減少繞組的層數(shù)來(lái)降低,增大變壓器骨架窗口的寬度可以減少繞組的層數(shù)。分離的繞組,如初級(jí)采用三明治繞法,可以減小初級(jí)的漏感,但由于增大了初級(jí)和次級(jí)的接觸面積,因而增大了初級(jí)和次級(jí)的耦合電容,采用銅皮的 Faraday 屏蔽可以減小初級(jí)與次級(jí)間的耦合電容。Faraday 屏蔽層繞在初級(jí)與次級(jí)之間,并且要接到初級(jí)或次級(jí)的靜點(diǎn),如初級(jí)地和次級(jí)地。Faraday 屏蔽層會(huì)使初級(jí)和次級(jí)的耦合系統(tǒng)降低,從而增加了漏感。 開(kāi)關(guān)管的導(dǎo)通電流尖峰由三部分組成:(1)變壓器初級(jí)繞組的層間電容充電電流;(2)MOSFET 漏-源極電容的放電電流;(3)工作在 CCM 模式的輸出二極管的方向恢復(fù)電流。導(dǎo)通電流尖峰不能通過(guò)輸入濾波的直流電解電容旁路,因?yàn)檩斎霝V波的直流電解電容有等效的串聯(lián)電感 ESL 和電阻 ESR,產(chǎn)生的差模電流會(huì)在電源的兩根輸入線間流動(dòng),對(duì)于變壓器而言,初級(jí)繞組兩端所加的電壓高,繞組層數(shù)少,層間電容少,然而,在很多應(yīng)用中由于骨架窗口寬度的限制,以及為了保證合適的飽和電流,初級(jí)繞組通常用多層結(jié)構(gòu),本設(shè)計(jì)針對(duì) 4 層的初級(jí)繞組結(jié)構(gòu)進(jìn)行討論。 對(duì)于常規(guī)的 4 層初級(jí)繞組結(jié)構(gòu),在開(kāi)關(guān)管導(dǎo)通和關(guān)斷的過(guò)程中,層間的電流向同一個(gè)方面流動(dòng),在圖 1 中在開(kāi)關(guān)管導(dǎo)通時(shí),原極接到初級(jí)的地,B 點(diǎn)電壓為 0,A 點(diǎn)電壓為 Vin,基于電壓的變化方向,初級(jí)繞組層間電容中電流流動(dòng)的方向向下,累積形成的差模電流值大。在功率器件關(guān)斷瞬間,MOSFET 漏-源極電容充電變壓器初級(jí)繞組的層間電容放電,這兩部分電流也會(huì)形成差模電流,同樣,基于電壓的變化方向,初級(jí)繞組層間電容中的電流流動(dòng)方向向上,累積形成的差模電流值大。
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