資料介紹
隨著工程師們需要遵循的輻射電磁干擾(EMI)規(guī)范的不斷增多,市場(chǎng)上開始出現(xiàn)各種類型的EMI吸波材料。一般而言,市場(chǎng)上所提供的這些吸波材料的厚度很薄并具有很好的外形柔韌性,再加上其背面帶有粘合劑的設(shè)計(jì)使得我們能夠很容易地將這些吸波材料應(yīng)用到一些不符合電磁干擾和射頻干擾(EMI/RFI)相關(guān)規(guī)范的產(chǎn)品表面。因此,選擇合適的吸波材料就成為符合 EMI/RFI相關(guān)規(guī)范、維護(hù)系統(tǒng)性能完好的一個(gè)關(guān)鍵因素。在10MHz到3000MHz的頻率范圍內(nèi),大部分吸波材料都會(huì)采用加入有損耗的磁性材料(例如,羰基鐵或者鐵氧體粉末等)的方式來削弱其表面電流。這些表面電流源于有害EMI和導(dǎo)體的相互作用,而且它們的出現(xiàn)還會(huì)導(dǎo)致電磁場(chǎng)的二次輻射,因此為了保證產(chǎn)品符合相關(guān)規(guī)范,通常都會(huì)設(shè)法降低該表面電流。除此之外,這些表面電流還可能會(huì)對(duì)其它電路造成干擾,妨礙系統(tǒng)的正常運(yùn)行。比較不同生產(chǎn)廠家提供的吸波材料的性能需要花費(fèi)大量的金錢和時(shí)間。考慮到EMI測(cè)試試驗(yàn)室每天幾千美元的費(fèi)用,試錯(cuò)試驗(yàn)(trialanderrortesting)的次數(shù)必須被限制到最少。因此,通過攜帶若干種可能會(huì)使用到的吸波材料到EMI試驗(yàn)室進(jìn)行測(cè)試以確定效果最好的一種材料的方法已經(jīng)被證明是一種非常昂貴的解決方法。而本文所介紹的這種簡(jiǎn)單的表面電流減小測(cè)試裝置(SCRF)則允許我們對(duì)各種吸波材料樣品的性能進(jìn)行快速、簡(jiǎn)單的比較,從而縮小吸波材料的選擇范圍,確定某頻率范圍內(nèi)具體EMI問題所需的性能最好的一種或兩種吸波材料。 SCRF裝置主要由兩個(gè)經(jīng)過靜電屏蔽的磁場(chǎng)環(huán)形天線構(gòu)成,而且通過將它們小心地放置在相互垂直的位置上可以在相關(guān)頻率范圍內(nèi)獲得70dB甚至更高的隔離度。SCRF中的一個(gè)環(huán)形天線被連接到射頻(RF)掃頻源,而另一個(gè)環(huán)形天線則被連接到RF掃頻接收機(jī)。如果將一塊與產(chǎn)品殼體相仿的導(dǎo)體板放置在接近兩環(huán)形天線的一個(gè)固定的位置上,那么就會(huì)在導(dǎo)體表面產(chǎn)生電流,該表面電流所產(chǎn)生的二次輻射會(huì)被環(huán)形天線接收,由此造成的天線接收信號(hào)的增大的典型值約為20dB到30dB。在此基礎(chǔ)上,如果在導(dǎo)體板上覆蓋某種EMI吸波材料的樣品并重復(fù)上述測(cè)試過程,就可以測(cè)量得到電磁場(chǎng)二次輻射的減小量。我們可以利用這種二次輻射的減小量來對(duì)不同吸波材料的吸波性能進(jìn)行對(duì)比。
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