GSM手機的隨處可見正導致不需要的RF信號的持續(xù)增加，如果電子電路沒有足夠的RF抑制能力，這些RF信號會導致電路產生的結果失真。為了確保電子電路可靠工作，對于電子電路RF抑制能力的測量已經成為產品設計必不可少的一個環(huán)節(jié)。本文介紹了一種通用的RF抑制能力測量技術－RF電波暗室測量裝置，描述了它的組成和操作方式，并給出了實際測量結果的例子?，F(xiàn)在大多數(shù)蜂窩電話采用的無線技術是時分多址（TDMA），這種復用技術以217Hz的頻率對高頻載波進行通/斷脈沖調制。容易受到RF干擾的IC會對該載波信號進行解調，再生出217Hz及其諧波成分的信號。由于這些頻譜成分的絕大多數(shù)都落入音頻范圍，因此它們會產生不想要的聽得見的“嗡嗡”聲。由此可見，RF抑制能力較差的電路會對蜂窩電話的RF信號解調，并會產生不希望聽到的低頻噪音。為了測量產品的質量，測試時需要把電路放在RF環(huán)境中測量，該RF環(huán)境要與正常操作時電路遇到的環(huán)境相當。本文描述了一種通用的集成電路RF噪聲抑制能力測量技術。RF抑制能力測試將電路板置于可控制的RF信號電平下，該RF電平代表電路工作時可能受到的干擾強度。這樣就產生了一個標準化、結構化的測試方法，使用這種方法能夠得到在質量分析中可重復的有用結果。這樣的測試結果有助于IC選型，從而獲得最能夠抵抗RF噪聲的電路。可以將被測件（DUT）靠近正在工作的蜂窩電話，以測試其RF敏感度，但是，為了得到一個精確的、具有可重復性的試驗結果，需要采用一個固定的測量方法，在可重復的RF場內測試DUT。解決方案是采用RF測試電波暗室，提供一個可精確控制的 RF場，其相當于典型移動電話所產生的RF場。