電路中的噪聲通常都是有害的，任何好電路都應(yīng)該輸出盡可能低的噪聲。盡管如此，在某些情況下，一個特性明確且沒有其他信號的噪聲源就是所需的輸出。電路特性測量就是這種情況。許多電路的輸出特性可通過掃描一定頻率范圍內(nèi)的輸入信號并觀測設(shè)計的響應(yīng)來測量。輸入掃描可以由離散輸入頻率或掃頻正弦波組成。干凈的極低頻率正弦波（低于 10 Hz）難以產(chǎn)生。處理器、DAC 和一些復(fù)雜的精密濾波可以產(chǎn)生相對干凈的正弦波，但對于每個頻率階躍，系統(tǒng)必須穩(wěn)定下來，使得包含許多頻率的順序全掃描很緩慢。測試較少的離散頻率可能較快，但會增加跳過高 Q 現(xiàn)象所在的關(guān)鍵頻率的風(fēng)險。白噪聲發(fā)生器比掃頻正弦波更簡單、更快速，因為它能高效地同時產(chǎn)生幅度相同的所有頻率。在被測器件（DUT）的輸入端施加白噪聲可以快速產(chǎn)生整個頻率范圍上的頻率響應(yīng)概貌。在這種情況下，不需要昂貴或復(fù)雜的掃頻正弦波發(fā)生器。只需將 DUT 輸出連接到頻譜分析儀并觀察即可。使用更多的均值操作和更長的采集時間，產(chǎn)生的目標頻率范圍上的輸出響應(yīng)就更精確。 DUT 對白噪聲的預(yù)期響應(yīng)是頻率整形的噪聲。以這種方式使用白噪聲可以快速暴露出意外行為，例如怪異的頻率雜散、奇怪的諧波以及不希望出現(xiàn)的頻率響應(yīng)偽像。此外，細心的工程師可利用白噪聲發(fā)生器測試測試儀。測量頻率響應(yīng)的實驗室設(shè)備在測量已知平坦的白噪聲發(fā)生器時應(yīng)產(chǎn)生平坦的噪聲曲線。在實際應(yīng)用方面，白噪聲發(fā)生器易于使用；體積小，足以實現(xiàn)緊湊的實驗室設(shè)置；便于攜帶，適合現(xiàn)場測量；并且價格低廉。具有大量設(shè)置的高質(zhì)量信號發(fā)生器非常靈活，十分吸引人。但是，多功能性會妨礙快速頻率響應(yīng)測量。設(shè)計良好的白噪聲發(fā)生器不需要任何控制，卻能產(chǎn)生完全可預(yù)測的輸出。