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多個 ADC 的參考電壓

1945999 2022-11-18 | pdf | 128.07KB | 次下載 | 免費

資料介紹

具有多個模數(shù)轉(zhuǎn)換器 (ADC) 的系統(tǒng)可實現(xiàn)的精度直接取決于施加到 ADC 的參考電壓。例如，醫(yī)學超聲成像系統(tǒng)通常在接收器的波束形成器電子設(shè)備中包含大量 ADC，通常以 16、24、32 等為一組進行組織。最大的波束精度要求您將此路徑中的誤差降至最低。單個 ADC 的基準電壓精度差會降低整個系統(tǒng)的性能，分布式負載也會如此，它由許多單獨的阻性和容性負載組成。有幾種方法可以為此類 ADC 陣列提供參考電壓：具有多個模數(shù)轉(zhuǎn)換器 (ADC) 的系統(tǒng)可實現(xiàn)的精度直接取決于施加到 ADC 的參考電壓。例如，醫(yī)學超聲成像系統(tǒng)通常在接收器的波束形成器電子設(shè)備中包含大量 ADC，通常以 16、24、32 等為一組進行組織。最大的波束精度要求您將此路徑中的誤差降至最低。單個 ADC 的基準電壓精度差會降低整個系統(tǒng)的性能，分布式負載也會如此，它由許多單獨的阻性和容性負載組成。有幾種方法可以為此類 ADC 陣列提供參考電壓：單獨的片上參考單獨的片上參考：雖然它提供了一個方便的本地連接到每個 ADC，但該選項在轉(zhuǎn)換器之間的匹配相對較差。：雖然它提供了一個方便的本地連接到每個 ADC，但該選項在轉(zhuǎn)換器之間的匹配相對較差。應用于 ADC 陣列的所有參考輸入的單個外部參考電壓應用于 ADC 陣列的所有參考輸入的單個外部參考電壓：這種配置允許您設(shè)計任意精度的外部參考電壓，但由于梯形電阻梯（每個 ADC 內(nèi)部一個梯形梯）之間的微小變化而導致誤差。：這種配置允許您設(shè)計任意精度的外部參考電壓，但由于梯形電阻梯（每個 ADC 內(nèi)部一個梯形梯）之間的微小變化而導致誤差。直接驅(qū)動 ADC 參考階梯的外部參考直接驅(qū)動 ADC 參考階梯的外部參考：該選項通過直接控制施加到每個 ADC 階梯的參考電壓來提供最大增益精度。但是，它需要驅(qū)動梯形圖的（相對）低電阻，并且一些 ADC 不允許訪問該內(nèi)部偏置點。：該選項通過直接控制施加到每個 ADC 階梯的參考電壓來提供最大增益精度。但是，它需要驅(qū)動梯形圖的（相對）低電阻，并且一些 ADC 不允許訪問該內(nèi)部偏置點。模數(shù)轉(zhuǎn)換器精度模數(shù)轉(zhuǎn)換器精度對于許多應用，增益和噪聲水平對 ADC 精度有重大影響。ADC 的增益由其傳遞函數(shù)的斜率表示，它將模擬輸入與數(shù)字輸出代碼的允許范圍聯(lián)系起來。量化增益的一種方法是測量滿量程 (FS) 輸入范圍，它直接由參考電壓電平控制。對于醫(yī)學超聲成像系統(tǒng)，ADC 滿量程范圍的變化會導致波束形成誤差。這也會改變 ADC 的削波點——這種效應在某些信號解調(diào)方案中可能很重要。對于許多應用，增益和噪聲水平對 ADC 精度有重大影響。ADC 的增益由其傳遞函數(shù)的斜率表示，它將模擬輸入與數(shù)字輸出代碼的允許范圍聯(lián)系起來。量化增益的一種方法是測量滿量程 (FS) 輸入范圍，它直接由參考電壓電平控制。對于醫(yī)學超聲成像系統(tǒng)，ADC 滿量程范圍的變化會導致波束形成誤差。這也會改變 ADC 的削波點——這種效應在某些信號解調(diào)方案中可能很重要。ADC 的噪聲水平?jīng)Q定了它的可用動態(tài)范圍；這個動態(tài)范圍通常應該盡可能大。ADC 噪聲的參考噪聲分量可以是加性的或乘性的。附加噪聲很容易被各個 ADC 上的本地旁路電容器濾除，在大多數(shù)設(shè)計中已經(jīng)存在這些旁路電容器以優(yōu)化 ADC 的動態(tài)性能。ADC 的噪聲水平?jīng)Q定了它的可用動態(tài)范圍；這個動態(tài)范圍通常應該盡可能大。ADC 噪聲的參考噪聲分量可以是加性的或乘性的。