資料介紹
??????? 本文提出一種基于PSpice 的參數(shù)掃描分析、優(yōu)化分析和蒙特卡羅統(tǒng)計(jì)分析相結(jié)合的方法對(duì)電子電路進(jìn)行最優(yōu)化設(shè)計(jì),可以有效地提高電路設(shè)計(jì)的準(zhǔn)確性、可靠性和電子產(chǎn)品生產(chǎn)的合格率,并以帶通濾波器電路為例,給出了應(yīng)用該方法實(shí)現(xiàn)電路優(yōu)化設(shè)計(jì)的仿真過(guò)程,實(shí)驗(yàn)表明優(yōu)化設(shè)計(jì)的結(jié)果完全滿足設(shè)計(jì)指標(biāo)的要求。該方法在優(yōu)化電路設(shè)計(jì)中具有很高的實(shí)用性。
關(guān)鍵詞: PSpice 仿真分析; 參數(shù)掃描分析; 優(yōu)化設(shè)計(jì); 蒙特卡羅統(tǒng)計(jì)分析
?????????為了縮短開(kāi)發(fā)周期,降低設(shè)計(jì)成本,提高產(chǎn)品的合格率,電子電路的優(yōu)化設(shè)計(jì)和可靠性分析在各種電子產(chǎn)品的研制、開(kāi)發(fā)和生產(chǎn)過(guò)程中顯得越來(lái)越重要。EDA 仿真分析軟件不僅能對(duì)電路進(jìn)行基本性能特性的仿真分析和驗(yàn)證,還可以進(jìn)行電路的優(yōu)化分析和綜合統(tǒng)計(jì)分析,從而完成從電路設(shè)計(jì)、性能分析、參數(shù)優(yōu)化到電路板設(shè)計(jì)的全過(guò)程,實(shí)現(xiàn)電子產(chǎn)品從設(shè)計(jì)構(gòu)思、電路設(shè)計(jì)到結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)的自動(dòng)化[1]。OrCAD/PSpice 作為PC 級(jí)的EDA 電子仿真軟件,對(duì)電子電路不僅能進(jìn)行直流、交流和瞬態(tài)等基本的電路特性分析,還可以進(jìn)行參數(shù)掃描、靈敏度、蒙特卡諾統(tǒng)計(jì)、最壞情況和優(yōu)化分析,并可以將各種仿真分析的結(jié)果以波形或圖表的方式直觀地顯示出來(lái),因此它在電子電路的設(shè)計(jì)中得到了廣泛地應(yīng)用[2],特別是對(duì)電路的優(yōu)化設(shè)計(jì)和可靠性分析,OrCAD/PSpice 具有得天獨(dú)厚的優(yōu)勢(shì)。本文在分析PSpice 的參數(shù)掃描分析、優(yōu)化分析和蒙特卡羅統(tǒng)計(jì)分析原理的基礎(chǔ)上,提出一種將PSpice 的電路分析功能有機(jī)結(jié)合的方法對(duì)電子電路進(jìn)行最優(yōu)化設(shè)計(jì),可以有效地提高設(shè)計(jì)的準(zhǔn)確性和可靠性,提高電子產(chǎn)品的合格率。
關(guān)鍵詞: PSpice 仿真分析; 參數(shù)掃描分析; 優(yōu)化設(shè)計(jì); 蒙特卡羅統(tǒng)計(jì)分析
?????????為了縮短開(kāi)發(fā)周期,降低設(shè)計(jì)成本,提高產(chǎn)品的合格率,電子電路的優(yōu)化設(shè)計(jì)和可靠性分析在各種電子產(chǎn)品的研制、開(kāi)發(fā)和生產(chǎn)過(guò)程中顯得越來(lái)越重要。EDA 仿真分析軟件不僅能對(duì)電路進(jìn)行基本性能特性的仿真分析和驗(yàn)證,還可以進(jìn)行電路的優(yōu)化分析和綜合統(tǒng)計(jì)分析,從而完成從電路設(shè)計(jì)、性能分析、參數(shù)優(yōu)化到電路板設(shè)計(jì)的全過(guò)程,實(shí)現(xiàn)電子產(chǎn)品從設(shè)計(jì)構(gòu)思、電路設(shè)計(jì)到結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)的自動(dòng)化[1]。OrCAD/PSpice 作為PC 級(jí)的EDA 電子仿真軟件,對(duì)電子電路不僅能進(jìn)行直流、交流和瞬態(tài)等基本的電路特性分析,還可以進(jìn)行參數(shù)掃描、靈敏度、蒙特卡諾統(tǒng)計(jì)、最壞情況和優(yōu)化分析,并可以將各種仿真分析的結(jié)果以波形或圖表的方式直觀地顯示出來(lái),因此它在電子電路的設(shè)計(jì)中得到了廣泛地應(yīng)用[2],特別是對(duì)電路的優(yōu)化設(shè)計(jì)和可靠性分析,OrCAD/PSpice 具有得天獨(dú)厚的優(yōu)勢(shì)。本文在分析PSpice 的參數(shù)掃描分析、優(yōu)化分析和蒙特卡羅統(tǒng)計(jì)分析原理的基礎(chǔ)上,提出一種將PSpice 的電路分析功能有機(jī)結(jié)合的方法對(duì)電子電路進(jìn)行最優(yōu)化設(shè)計(jì),可以有效地提高設(shè)計(jì)的準(zhǔn)確性和可靠性,提高電子產(chǎn)品的合格率。
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