隨著數(shù)字電路的規(guī)模和復(fù)雜性不斷增加，自動(dòng)矢量生成技術(shù)己日益成為數(shù)字電路測(cè)試與診斷的瓶頸環(huán)節(jié)。本文主要討論了電路的測(cè)試及故障檢測(cè)的一些基本問(wèn)題，并對(duì)數(shù)字電路測(cè)試生成的主要算法進(jìn)行了分析和比較。最后預(yù)測(cè)了測(cè)試矢量自動(dòng)生成技術(shù)的發(fā)展趨勢(shì)。
數(shù)字電路測(cè)試與故障診斷包括四個(gè)步驟：建立故障字典、加載激勵(lì)、回收響應(yīng)和分離故障，即選擇激勵(lì)通道和響應(yīng)通道并建立激勵(lì)矢量和故障模式之間的映射關(guān)系，然后向被測(cè)對(duì)象施加激勵(lì)矢量，并采集其響應(yīng)矢量，最后通過(guò)故障字典來(lái)分離故障。故障字典先于實(shí)際測(cè)試而建立，并直接用于測(cè)試結(jié)束后的故障分析，包含了被測(cè)對(duì)象故障征兆的全部信息，是貫穿四個(gè)測(cè)試診斷步驟的關(guān)鍵數(shù)據(jù)。而故障字典對(duì)于故障圖樣分辨能力和覆蓋程度的優(yōu)劣，完全取決于測(cè)試激勵(lì)矢量的生成質(zhì)量，這就是數(shù)字電路測(cè)試矢量自動(dòng)生成技術(shù)所要研究的中心問(wèn)題。
自從1966年Armstrong提出一維通路敏化法以來(lái)，數(shù)字電路測(cè)試矢量自動(dòng)生成理論的研究課題經(jīng)歷了一個(gè)從雛型到成熟、從理論到應(yīng)用、從實(shí)用到完備的發(fā)展歷程。可以從不同的角度對(duì)不同的生成算法進(jìn)行劃分，如按時(shí)間跨度可分為傳統(tǒng)算法和現(xiàn)代算法；按其是否引入隨機(jī)策略可分為確定性方法和隨機(jī)性方法；按其使用的分析工具可分為代數(shù)方法和結(jié)構(gòu)性方法；而按其生成調(diào)度策略可分為串行算法和并行算法等。
本文主要介紹了布爾差分法、D算法系列、臨界路徑法以及G-F算法等，著重闡述其算法思想及其相互之間的性能比較，然后對(duì)現(xiàn)代ATPG理論中引入的新方法、新思路和前景等進(jìn)行了簡(jiǎn)要的介紹。