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電磁兼容性輻射發射測試方法（適用于工作頻率30-1000MHZ）

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資料介紹

　　電磁兼容性輻射發射測試方法（適用于工作頻率30-1000MHZ）隨著電子技術的發展，電路頻率的不斷提高，在電子產品的設計、開發生產、使用和維護的整個周期中，電磁兼容性（EMC）已經成為必須考慮的一環。按照電磁兼容目的為基準，電磁兼容可以分為診斷測試和達標測試。通過診斷測試，找到電磁兼容問題的原因，確定噪聲源與被干擾的方位，進而解決。通過達標測試，評估產品是否達到電磁兼容標準。按照電磁兼容測試內容，電磁兼容可以分為騷擾（EMI）發射測試和設備的抗擾度（EMS）測試。EMI測試時設備向外界發射電磁騷擾，EMS則相反，通過給設備外加騷擾，測試其抗干擾能力。其中EMI騷擾發射的方式又分為輻射發射（RE）和傳導發射（CE）。二者的區別在于騷擾發射傳播的介質不同：一個為自由空間，一個為電源線。文中主要針對電磁輻射發射測試技術進行了相關研究。隨著電磁兼容理論的發展，電磁發射發射測試技術不斷進步，一些新的試驗場地得到了開發，例如TEMCELL，G-TEMCELL，混響室等等。新場地增強了輸入功率和產生的騷擾場強的轉化效率，使得抗擾度測試的進行更加容易。另一個新的發展是APD（幅度概率分布）在測試中的使用。本文基于APD設計了輻射發射方法，將在后文介紹。同時白于不同頻率短的電子產品，電磁兼容測試的方法又有不同，主要體現在較高頻段測量產品輻射的電場強度，較低頻段測量產品的磁場強度。文中針對30-1 000 MHz頻率段的輻射發射測試技術作詳細研究與介紹。