離子束的傳輸與信號(hào)探測(cè)

聚焦離子束（FIB）在材料科學(xué)和微納加工領(lǐng)域內(nèi)的重要性日益顯現(xiàn)，離子束的傳輸過程由多個(gè)關(guān)鍵組件構(gòu)成，包含離子源、透鏡和光闌等，而其性能的提升則依賴于光學(xué)...

2025-06-17 標(biāo)簽：材料科學(xué)離子束信號(hào)探測(cè) 126 0

聚焦離子束顯微鏡（FIB）的應(yīng)用

技術(shù)原理聚焦離子束顯微鏡（FocusedIonBeam,FIB）的核心在于其獨(dú)特的鎵（Ga）離子源。鎵金屬因其較低的熔點(diǎn)（29.76°C）和在該溫度下極...

2025-06-12 標(biāo)簽：顯微鏡fib離子束 85 0

聚焦離子束（FIB）技術(shù)：半導(dǎo)體量產(chǎn)中的高精度利器

技術(shù)原理與背景聚焦離子束（FIB）技術(shù)是一種先進(jìn)的納米加工和分析工具。其基本原理是在電場(chǎng)和磁場(chǎng)作用下，將離子束聚焦到亞微米甚至納米量級(jí)，通過偏轉(zhuǎn)和加速系...

2025-06-09 標(biāo)簽：半導(dǎo)體fib離子束 53 0

芯片樣品備制前處理技術(shù)分析

在芯片設(shè)計(jì)完成后，樣品功能性測(cè)試、可靠性測(cè)試以及失效分析除錯(cuò)等環(huán)節(jié)開展之前，樣品備制前處理是不可或缺的關(guān)鍵步驟。其中，芯片切片方式用于斷面/橫截面觀察，...

2025-06-05 標(biāo)簽：芯片設(shè)計(jì)SEM離子束 104 0

一文了解聚焦離子束（FIB）技術(shù)及聯(lián)用技術(shù)

聚焦離子束（FIB）技術(shù)憑借其獨(dú)特的原理和強(qiáng)大的功能，成為微納加工與分析領(lǐng)域不可或缺的重要工具。FIB如何工作聚焦離子束（FIB）技術(shù)是一種先進(jìn)的微納加...

2025-05-29 標(biāo)簽：fib離子束微納加工 141 0

透射電子顯微鏡（TEM）與聚焦離子束技術(shù)（FIB）在材料分析中的應(yīng)用

什么是透射電子顯微鏡（TEM）透射電子顯微鏡（TEM）是一種功能強(qiáng)大的分析工具，可分析各種合成材料和天然材料。它能夠通過三種不同的分析技術(shù)獲得固態(tài)樣品的...

2025-05-09 標(biāo)簽：材料TEM離子束 224 0

聚焦離子束技術(shù)：原理、應(yīng)用與展望

聚焦離子束技術(shù)（FocusedIonBeam，簡(jiǎn)稱FIB）作為一種前沿的微觀加工與分析技術(shù)，近年來(lái)在眾多領(lǐng)域得到了廣泛應(yīng)用。金鑒實(shí)驗(yàn)室憑借其專業(yè)的檢測(cè)技...

2025-05-08 標(biāo)簽：檢測(cè)fib離子束 149 0

聚焦離子束技術(shù)在透射電子顯微鏡樣品制備中的應(yīng)用

聚焦離子束技術(shù)聚焦離子束（FocusedIonBeam，簡(jiǎn)稱FIB）技術(shù)是一種先進(jìn)的微觀加工與分析手段，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、納米技術(shù)以及半導(dǎo)體研究等領(lǐng)域...

2025-05-06 標(biāo)簽：fib電子顯微鏡離子束 124 0

聚焦離子束技術(shù)：納米加工與分析的利器

聚焦離子束技術(shù)（FocusedIonBeam,FIB）作為一種前沿的納米加工與分析手段，憑借其獨(dú)特的優(yōu)勢(shì)在多個(gè)領(lǐng)域展現(xiàn)出強(qiáng)大的應(yīng)用潛力。本文將從技術(shù)原理...

2025-04-28 標(biāo)簽：聚焦fib離子束 176 0

聚焦離子束（FIB）技術(shù)的應(yīng)用原理

聚焦離子束（FIB）技術(shù)是一種極為精細(xì)的樣品制備與加工手段，它能夠?qū)饘?、合金、陶瓷等多種材料進(jìn)行加工，制備出尺寸極小的薄片。這些薄片的寬度通常在10~...

2025-04-23 標(biāo)簽：fibTEM離子束 351 0

聚焦離子束技術(shù)的原理和應(yīng)用

聚焦離子束（FIB）技術(shù)在納米科技里很重要，它在材料科學(xué)、微納加工和微觀分析等方面用處很多。離子源：FIB的核心部件離子源是FIB系統(tǒng)的關(guān)鍵部分，液態(tài)金...

2025-04-11 標(biāo)簽：fib掃描系統(tǒng)離子束 199 0

聚焦離子束雙束系統(tǒng) FIB - SEM 的技術(shù)剖析與應(yīng)用拓展

技術(shù)原理與核心優(yōu)勢(shì)聚焦離子束雙束系統(tǒng)（FIB-SEM）是一種集成多種先進(jìn)技術(shù)的高端設(shè)備，其核心構(gòu)成包括聚焦離子束（FIB）模塊、掃描電子顯微鏡（SEM）...

2025-04-10 標(biāo)簽：SEMfib離子束 365 0

聚焦離子束技術(shù)之納米尺度

聚焦離子束（FocusedIonBeam，簡(jiǎn)稱FIB）技術(shù)，宛如一把納米尺度的“萬(wàn)能鑰匙”，在材料加工、分析及成像領(lǐng)域大放異彩。它憑借高度集中的離子束，...

2025-04-08 標(biāo)簽：納米fib離子束 216 0

聚焦離子束技術(shù)：原理、特性與應(yīng)用

聚焦離子束（Focused-Ion-Beam,FIB）技術(shù)是一種先進(jìn)的微納加工與分析手段。其基本原理是通過電場(chǎng)和磁場(chǎng)的作用，將離子束聚焦到亞微米甚至納米...

2025-03-27 標(biāo)簽：fib離子束 460 0

聚焦離子束技術(shù)在納米加工中的應(yīng)用與特性

聚焦離子束技術(shù)的崛起近年來(lái)，F(xiàn)IB技術(shù)憑借其獨(dú)特的優(yōu)勢(shì)，結(jié)合掃描電鏡（SEM）等高倍數(shù)電子顯微鏡的實(shí)時(shí)觀察功能，迅速成為納米級(jí)分析與制造的主流方法。它在...

2025-03-26 標(biāo)簽：聚焦fib離子束 283 0

聚焦離子束掃描電鏡雙束系統(tǒng)（FIB-SEM）

聚焦離子束掃描電鏡雙束系統(tǒng)（FIB-SEM）作為一種前沿的微納加工與成像技術(shù)，憑借其強(qiáng)大的功能和多面性，在材料科學(xué)研究中占據(jù)著舉足輕重的地位。它能夠深入...

2025-03-19 標(biāo)簽：fib離子束掃描電鏡 421 0

氬離子拋光技術(shù)：材料科學(xué)中的關(guān)鍵樣品制備方法

氬離子拋光技術(shù)的核心氬離子拋光技術(shù)的核心在于利用高能氬離子束對(duì)樣品表面進(jìn)行精確的物理蝕刻。在拋光過程中，氬離子束與樣品表面的原子發(fā)生彈性碰撞，使表面原子...

2025-03-19 標(biāo)簽：設(shè)備離子束 282 0

FIB測(cè)試技術(shù)：從原理到應(yīng)用

FIB技術(shù)的核心價(jià)值聚焦離子束（FIB）技術(shù)是一種在微納尺度上實(shí)現(xiàn)材料精確加工的先進(jìn)技術(shù)。它通過將離子束聚焦到極高的精度，能夠?qū)Σ牧线M(jìn)行納米級(jí)的蝕刻和加...

2025-03-18 標(biāo)簽：測(cè)試fib離子束 412 0

氬離子束拋光技術(shù)：鋰電池電極片微觀結(jié)構(gòu)

氬離子拋光技術(shù)又稱CP截面拋光技術(shù)，是利用氬離子束對(duì)樣品進(jìn)行拋光，可以獲得表面平滑的樣品，而不會(huì)對(duì)樣品造成機(jī)械損害。去除損傷層，從而得到高質(zhì)量樣品，用于...

2025-03-17 標(biāo)簽：鋰電池離子束 360 0

聚焦離子束掃描電子顯微鏡（FIB-SEM）的用途

離子束掃描電子顯微鏡（FIB-SEM）是將聚焦離子束（FIB）技術(shù)與掃描電子顯微鏡（SEM）技術(shù)有機(jī)結(jié)合的高端設(shè)備。什么是FIB-SEM？FIB-SEM...

2025-03-12 標(biāo)簽：fib電子顯微鏡離子束 452 0