筆者將多年來常用的單表測光電耦合器的方法介紹給大家。此法僅用一只500型萬用表便可直接測出光耦好壞。實為方便之舉。　　具體測試方法仍以彩電中常用的PC817為例，其內(nèi)電路如圖l所示，基本檢測過程如下：

　　用Rxlk擋測①、②腳內(nèi)二極管是否完好，再測③、④端正反向電阻應為開路狀態(tài)∞(R×lk擋表內(nèi)電池僅1.5V);再用R×10k擋測①、②端正向電阻，阻值較小，而反向電阻應為無窮大。用黑表針接④腳，紅表針接③腳時應為無窮大的電阻，相反方向測量時，隨③、④腳內(nèi)三極管兩極ce的穩(wěn)壓特性有別，一般表中指針會動，與普通小功率硅三極管ce間穩(wěn)壓特性相似。不能千篇一律，但可參考。

　　經(jīng)過以上初測后，就可進入實際測試，見圖2，用500型表Rxl擋，紅表針接②腳，黑表針(黑測試筆，上同)接①腳。此時表中有一阻值顯示，然后將兩表針尖向③、④端靠攏并接觸良好，使③、④腳導通電阻與①、②腳導通電阻并聯(lián)，表中電阻值會減小，否則光耦損壞。如表中電阻變化不多，即③、④腳導通內(nèi)阻較大，應慎用或不用。此外還可以用RxlO擋，但Rxl00擋和Rxlk兩擋不宜作此項測量，因其提供給光耦內(nèi)二極管的電流太小，③、④腳導通電阻很大，在表中反應甚微。附表是筆者對兩只817光耦用500-4型表Rx1、Rxl0擋所測數(shù)據(jù)，供讀者實踐中參考(萬用表及光耦產(chǎn)地不同，略有差異)。

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