#include "asl.h"

　　#pragma warning (disable:4244)

　　#include "Vio_2.h"

　　void Vio_2_user_init(test_function&func)

　　{

　　Vio_2_params *ours;

　　ours=(Vio_2_params*)func.params;

　　}

　　void Vio_2(test_function&func)

　　{

　　Vio_2_params *ours;

　　ours=(Vio_2_params*)func.params;

　　float measured_V,Vadj,V,Vio;

　　int i;

　　board_hardware_init();

　　oal_8->open_relay(HV_BUF_CONN);

　　oal_8->open_relay(LOAD_REF_GND);

　　oal_8->close_relay(CONNECT_LOADS);

　　oal_8->close_relay(LOAD_REF_EXT);

　　oal_8->close_relay(LOAD_600);

　　dvi_9->set_current(DVI_CHANNEL_0,0.2);

　　dvi_11->set_current(DVI_CHANNEL_0,0.2);

　　dvi_9->set_voltage(DVI_CHANNEL_0,15); //VCC

　　dvi_11->set_voltage(DVI_CHANNEL_0, -15); //GND

　　delay(1);

　　oal_8->close_relay(DUT_OUT_OUT);

　　dvi_9->set_voltage_range(DVI_CHANNEL_1,POSITIVE_V_OUT,VOLT_20_RANGE, FAST_VOLTAGE_MODE); //set measure range

　　dvi_9->set_current(DVI_CHANNEL_1,1.0e-6);

　　dvi_9->set_meas_mode(DVI_CHANNEL_1,DVI_MEASURE_VOLTAGE);

　　func.dlog->power=POWER_MILLI;

　　Vadj=0.0;

　　V=0.0120;

　　for(i=0; i<40; i++)

　　{

　　Vadj=Vadj/3-3.0e-4;

　　dvi_11->set_voltage(DVI_CHANNEL_1,V);

　　dvi_11->set_current(DVI_CHANNEL_1,1.0e-3);

　　delay(1);

　　measured_V=dvi_9->measure();

　　if (measured_V>1.4000) V=V+Vadj;

　　else i=40;

　　}

　　if ((Vio==0.0120)||(measured_V>1.4000)) Vio=0.9999999;

　　else Vio=V;

　　do_dlog(func,0,Vio,ours->fail_bin,"");

　　board_hardware_init();

　　}

　　上述電壓比較器VIO的開環(huán)測試，實現(xiàn)了由間接測試向直接測試的轉(zhuǎn)化，適當(dāng)減小步進(jìn)(測試時間延長)可提高測試的分辨率，但卻將ASL-1000配置中所有的Force和Measure資源全部用完，因而在測試雙比較器和四比較器時，將器件所有輸入和輸出端接至mux_20，通過ASL-1000的內(nèi)部繼電器矩陣切換，完成了各通道的串行測試。