反接法的基本條件

當(dāng)被試設(shè)備的低壓測(cè)量端或二次端對(duì)地?zé)o法絕緣，直接接地時(shí)所采用的測(cè)量方法，反接發(fā)的測(cè)量推薦使用SJJS-H全自動(dòng)抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀，如下圖：

介質(zhì)損耗測(cè)試儀

反接法使用步驟

第一步：按照說(shuō)明書要求接好測(cè)試線，打開介質(zhì)損耗測(cè)試儀主電源開關(guān)，顯示屏幕出現(xiàn)參數(shù)的選擇和設(shè)置。

第二步：設(shè)置參數(shù)，將測(cè)量方式、連接方式、測(cè)量電壓選擇并輸入，測(cè)量方式分為工頻和異頻，如果在干擾比較大或者在線運(yùn)行設(shè)備比較多時(shí)，采用異頻方式測(cè)量，否則采用工頻方式測(cè)量，兩者相比，工頻測(cè)試速度要比異頻快，異頻采用47.5Hz和52.5Hz兩種頻率測(cè)量之后計(jì)算50Hz時(shí)的介質(zhì)損耗值。試驗(yàn)電壓一般選10KV，或者保持默認(rèn)值即可。

第三步：打開“內(nèi)高壓允許”開關(guān)，按“確認(rèn)”鍵，儀器開始產(chǎn)生高壓輸出，同時(shí)伴有“嘟”的提示音，此時(shí)，屏幕顯示“ 正在測(cè)量中請(qǐng)等待”。

在經(jīng)過約40秒后，測(cè)量結(jié)束，高壓自動(dòng)切斷，屏幕顯示測(cè)量結(jié)果，如需打印結(jié)果,按“確認(rèn)”鍵即可打印。

反接法接線方法

當(dāng)被試設(shè)備的低壓測(cè)量端或二次端對(duì)地?zé)o法絕緣，直接接地時(shí)，采用該方法。

將紅色專用高壓電纜從儀器后側(cè)的HVx端上引出，高壓芯線接被試設(shè)備高壓端，低壓端接地，此時(shí)的CX輸入線懸空，如圖：

注意：HVx的芯線與屏蔽線嚴(yán)禁短接,否則無(wú)取樣，無(wú)法測(cè)量。

反接法示意圖

使用注意事項(xiàng)

（1）本儀器只能在停電的設(shè)備上使用，接地端應(yīng)可靠接地。

（2）被試設(shè)備從運(yùn)行狀態(tài)斷開高壓引線轉(zhuǎn)為檢修狀態(tài)，并對(duì)其清掃，初步絕緣試驗(yàn)良好后，方可利用該儀器進(jìn)行試驗(yàn)，以防被試設(shè)備絕緣低劣，使儀器在加壓過程中損壞。

（3）根據(jù)設(shè)備的安裝情況確定采用那種接線，并在相應(yīng)的菜單選項(xiàng)中選擇其接線方法。

（4）根據(jù)不同設(shè)備正確選擇測(cè)試電壓等級(jí)，并在相應(yīng)的菜單選項(xiàng)中選擇所需電壓。

（5）測(cè)試過程中如遇危及安全的特殊情況時(shí)，可緊急關(guān)閉總電源。

（6）斷開面板上電源開關(guān)，并明顯斷開220V試驗(yàn)電源，才能進(jìn)行接線更改或工作結(jié)束；重復(fù)對(duì)同一試驗(yàn)設(shè)備進(jìn)行復(fù)測(cè)時(shí)，可按下復(fù)位后，重新測(cè)量，也可以在上一次測(cè)試完成后選擇重復(fù)進(jìn)行。

（7）為保證測(cè)量精度，特別當(dāng)小電容量試品損耗小時(shí)，一定要保證被試設(shè)備低壓端（或二次端）絕緣良好，在相對(duì)濕度較小的環(huán)境中測(cè)量。

（8）在進(jìn)行大電容試品實(shí)驗(yàn)時(shí)，儀器的接地與被試品接地，不應(yīng)該在同一接地點(diǎn)，以防接地放電時(shí)反擊電壓或者流動(dòng)波影響儀器的安全。

（9）儀器自帶有升壓裝置，應(yīng)注意高壓引線的絕緣距離及人員安全；

（10）儀器啟動(dòng)后，除特殊情況外，不允許突然關(guān)斷電源，以免引起過壓損壞設(shè)備

（11）儀器所配（HVx）專用高壓電線雖出廠時(shí)已檢測(cè)合格，但測(cè)量時(shí)仍需遠(yuǎn)離人體及低壓測(cè)試線（Cx），高壓芯線與高壓屏蔽線均不允許接地和測(cè)試回路的低電位部分，CX輸入線的芯線和屏蔽線均不允許接觸測(cè)試回路的帶高壓部分。

（12）當(dāng)現(xiàn)場(chǎng)干擾較大，用工頻無(wú)法得到確定結(jié)果時(shí)，應(yīng)使用異頻測(cè)量，其它情況應(yīng)使用工頻測(cè)量。

（13）當(dāng)發(fā)出測(cè)量指令后，較長(zhǎng)時(shí)間（1分鐘）屏幕上不出現(xiàn)測(cè)量結(jié)果，有可能是試品電容太大或死機(jī)造成，重新開機(jī)后降低測(cè)量電壓再測(cè)。