天線計(jì)量的測試方法
1、研究背景
隨著通信技術(shù)的發(fā)展，天線向3D波束賦形和智能化演變，就天線測試設(shè)施而言，傳統(tǒng)的遠(yuǎn)場測試系統(tǒng)測試速度慢，投資高。
后來出現(xiàn)了球面近場測量系統(tǒng)，測試速度得以提高，設(shè)備投資得以降低，使得快速測量3D方向圖成為可能。對未來5G天線的測試，每個(gè)天線需要測試多種波束賦形的模式（也許超過100種），則測試工作量是巨大的。所以如何進(jìn)一步提高測試速度、降低測試成本，是需要研究的。
2、測試方法
甚近場測量場地：近年來的新技術(shù)，不依賴電波暗室，這主要是因?yàn)樵诟袘?yīng)近場區(qū)，由于磁場的閉環(huán)特性，測量探頭對磁場的擾動影響要輕微一些。在測得甚近場區(qū)域的磁場幅度、相位參量以后，需要進(jìn)行數(shù)據(jù)處理才能換算得到遠(yuǎn)場輻射特性。
3、測試結(jié)果
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原文標(biāo)題：不依賴微波暗室的天線計(jì)量測試技術(shù)
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