任何產品開發周期的一個重要階段是系統的調試和測試。隨著設計復雜性的增加，產品的軟件開發和系統調試階段現在占據了相當大的上市時間，并且為了保持競爭力，需要將產品開發周期保持在最低限度。在深度嵌入式設計中，微處理器內核不能直接從芯片外圍訪問，這增加了調試系統的問題。本應用筆記描述了 ARM7TDMI 調試架構如何克服這個問題以及使用這種方法的優勢。

ARM 調試架構——概述

ARM 調試架構使用協議轉換器盒來允許調試器通過 JTAG（聯合測試行動組）端口直接與內核對話。實際上，測試所需的內核中的掃描鏈被重新用于調試。

該架構使用掃描鏈將指令直接插入到 ARM 內核中。指令在內核上執行，根據插入的指令類型，可以檢查、保存或更改內核或系統狀態。該架構能夠以較慢的調試速度執行指令或以系統速度執行指令（例如，如果需要訪問外部存儲器）。

調試器實際上使用 JTAG 掃描鏈訪問內核這一事實對用戶來說并不重要，因為前端調試器保持完全相同。用戶仍然可以將調試器與在目標系統上運行的監控程序或在調試器主機上運行的指令集模擬器一起使用。在每種情況下，調試環境都是相同的。

使用 JTAG 端口的優點是：

測試系統所需的硬件訪問被重新用于調試。

可以通過 JTAG 端口檢查內核狀態和系統狀態。

目標系統不必運行即可開始調試。例如，監控程序需要一些目標資源正在運行，以便監控程序運行。

可以使用傳統的斷點和觀察點。

可以添加片上資源。

例如，ARM 調試架構使用片上宏單元來增強可用的調試功能。

不需要單獨的 UART 與監控程序進行通信。目標系統的調試需要以下內容：

– 運行調試器軟件的主機。主機可以是運行 Windows 的 PC、Sun 工作站或 HP 工作站

– 嵌入式 ICE 協議轉換器。一個單獨的盒子，它將串行接口轉換為與 JTAG 接口和具有 JTAG 接口和 ARM 調試架構兼容內核的目標系統兼容的信號。

在下面的圖 1 中，ARM 調試系統顯示了系統是如何連接的。

一旦系統連接好，調試器就可以開始通過嵌入式 ICE 接口轉換器與目標系統通信。

ARM調試系統

編輯：hfy