了找出誤碼的根本原因，抖動(dòng)分析是最好的起點(diǎn)，但是在某些情況下，電源軌分析可以幫助找出真正的根本原因。為了深入了解比特錯(cuò)誤，我們?cè)跁r(shí)域和頻域都研究了抖動(dòng)和電源軌噪聲。比較TIE頻譜中的PJ（周期性抖動(dòng)）頻率和電源紋波頻譜中的雜散，是識(shí)別由PDN（配電網(wǎng)絡(luò)）引起的信號(hào)完整性問(wèn)題的快速而準(zhǔn)確的方法。

SI和PI助長(zhǎng)錯(cuò)誤

數(shù)字錯(cuò)誤是由抖動(dòng)和噪聲引起的。噪聲是信號(hào)幅度變化的廣義術(shù)語(yǔ)。抖動(dòng)是相對(duì)于數(shù)據(jù)速率時(shí)鐘的比特轉(zhuǎn)換時(shí)序變化，即所謂的時(shí)間間隔誤差。抖動(dòng)是由相位噪聲和幅度噪聲到抖動(dòng)的轉(zhuǎn)換引起的。抖動(dòng)噪聲帶來(lái)了串?dāng)_，EMI（電磁干擾）和隨機(jī)噪聲的問(wèn)題。

信號(hào)完整性分析著眼于BER（誤碼率），著眼于發(fā)送器，參考時(shí)鐘，通道和接收器的性能。電源完整性著眼于PDN提供恒定電壓電源軌和低阻抗返回路徑的能力。SI和PI具有廣泛的相互依賴性。PDN會(huì)引起噪聲和抖動(dòng)。電路設(shè)計(jì)和組件（芯片封裝，引腳，走線，過(guò)孔，連接器）會(huì)影響PDN的阻抗，進(jìn)而影響供電質(zhì)量。

從眼圖開(kāi)始調(diào)試SI問(wèn)題

硬件調(diào)試可以從眼圖分析開(kāi)始。眼圖由相對(duì)于時(shí)鐘的重疊波形組成，圖1。

圖1：眼圖，帶遮罩測(cè)試，頂部，對(duì)應(yīng)的波形，底部。

交叉點(diǎn)的水平寬度表示抖動(dòng)，眼睛的頂部和底部的垂直寬度表示噪聲。睜大眼睛應(yīng)該對(duì)應(yīng)于低BER。如果BER太高，下一步就是執(zhí)行抖動(dòng)分析。圖2將抖動(dòng)的分解圖映射到其組件和子組件，圖3顯示了“抖動(dòng)摘要”測(cè)量值，包括浴盆圖，眼圖，TIE頻譜和直方圖，抖動(dòng)測(cè)量結(jié)果和波形。

圖2：抖動(dòng)分解為其各個(gè)組成部分。

圖3：抖動(dòng)摘要屏幕快照，從左上方順時(shí)針?lè)较颍涸「讏D，眼圖，TIE頻譜，抖動(dòng)分析結(jié)果，波形，TIE直方圖。

抖動(dòng)的分解開(kāi)始于將TIE分布分為其隨機(jī)和確定性分量RJ（隨機(jī)抖動(dòng)）和DJ（確定性抖動(dòng)）。DJ進(jìn)一步分為與數(shù)據(jù)中的比特序列相關(guān)的抖動(dòng)-DDJ（與數(shù)據(jù)有關(guān)的抖動(dòng)）和與PJ（周期性抖動(dòng)）等不相關(guān)的抖動(dòng)。

眼圖上的廣泛交叉可以指示RJ?？雌饋?lái)由許多幾乎不同的線組成的眼睛可能表示DDJ，可能是由于信號(hào)路徑中的阻抗不匹配所致。需要更詳細(xì)的測(cè)量來(lái)確定可以指示硬件錯(cuò)誤的抖動(dòng)類型：TIE，RJ，DJ，DDJ，PJ，TJ（總抖動(dòng)），EH（眼高），EW（眼寬），眼高和眼低的。表1列出了不同類型的抖動(dòng)和一些原因。電源軌紋波是PJ有時(shí)甚至是RJ的常見(jiàn)原因。

表1：抖動(dòng)測(cè)量以及常見(jiàn)原因示例。

抖動(dòng)和配電網(wǎng)絡(luò)

PDN的工作是維持恒定電壓并為系統(tǒng)中的組件提供足夠的電流。它會(huì)影響主動(dòng)或被動(dòng)每個(gè)元素的性能。PDN包括整個(gè)系統(tǒng)，不僅包括DC-DC轉(zhuǎn)換器和內(nèi)部芯片電源分配，還包括每個(gè)互連，走線，過(guò)孔，連接器，電容器，封裝，引腳和球柵。

紋波對(duì)隨機(jī)和周期性抖動(dòng)的影響

電源軌噪聲通常稱為紋波，通常為幾毫伏。要在GHz頻率上準(zhǔn)確測(cè)量電源軌上的mV噪聲，就需要具有高DC阻抗的高帶寬探頭，該探頭在高頻下充當(dāng)50Ω?jìng)鬏斁€。為此專門設(shè)計(jì)了電源導(dǎo)軌探頭。

開(kāi)關(guān)電源通過(guò)在低功耗??導(dǎo)通和關(guān)斷狀態(tài)之間連續(xù)切換來(lái)調(diào)節(jié)電源軌和返回路徑（又稱“接地”）之間的電壓。不幸的是，驅(qū)動(dòng)開(kāi)關(guān)元件的脈沖會(huì)引起“開(kāi)關(guān)噪聲”并引起PJ。

開(kāi)關(guān)以固定頻率發(fā)生，應(yīng)將其記錄在DC-DC轉(zhuǎn)換器的數(shù)據(jù)手冊(cè)中。如果圖4左上方的紋波頻譜和緊靠其下方的TIE頻譜在開(kāi)關(guān)頻率或開(kāi)關(guān)頻率的諧波處都有雜散，那么我們就知道了源頭并可以解決設(shè)計(jì)問(wèn)題。請(qǐng)注意，圖4中紅色標(biāo)記處出現(xiàn)大的重合雜散。TIE頻譜右邊的TIE直方圖在一個(gè)頻率上具有正弦抖動(dòng)分布（馬蹄形）PJ。

圖4：頻譜視圖左上方的電源軌紋波，以及其下方的TIE頻譜，以及信號(hào)和電源軌波形以及TIE直方圖。

電源會(huì)引入隨機(jī)噪聲，從而導(dǎo)致RJ。電源軌隨機(jī)噪聲顯示為圖4左上方“頻譜視圖”圖的本底噪聲。RJ由TIE頻譜的本底噪聲計(jì)算得出。在此示例中，由于電源紋波引起的隨機(jī)噪聲非常低，RJ很小，約為0.84 ps。

PJ和地面彈跳

在邏輯轉(zhuǎn)換期間，發(fā)送器和接收器從PDN獲取或吸收電流。當(dāng)多個(gè)信號(hào)同時(shí)在兩個(gè)電平之間切換時(shí)，它們可以從電源導(dǎo)軌和/或接地板上沉積或去除大量電荷。短期引入電荷密度會(huì)改變導(dǎo)體兩端共同接地的電壓。所產(chǎn)生的電壓變化稱為接地反彈或等效的同時(shí)開(kāi)關(guān)噪聲（SSN）。

在繼續(xù)之前，我們應(yīng)該澄清兩件事。首先，“接地”是指返回路徑的所需公共參考電壓，通常將其定義為0V。第二，“同時(shí)”是指組件在其上升/下降時(shí)間間隔內(nèi)產(chǎn)生或吸收電荷。下降時(shí)間重疊。

SSN在時(shí)域中看起來(lái)是隨機(jī)的，但在頻域中卻不是。數(shù)據(jù)信號(hào)由許多頻率分量組成-基頻或奈奎斯特頻率，也許多達(dá)兩個(gè)高次諧波，再加上連續(xù)相同位的次諧波。這些頻率中的任何一個(gè)都可能發(fā)生同時(shí)切換。因此，SSN是具有許多低振幅雜散的周期性噪聲，會(huì)引起PJ。

為了確認(rèn)PJ是由SSN引起的，請(qǐng)將圖5左上方的電源軌頻譜與正下方的TIE頻譜進(jìn)行比較。在兩個(gè)頻譜中以相同頻率出現(xiàn)的高振幅雜散表明SSN的PJ貢獻(xiàn)很大。

圖5：（a）電源軌紋波頻譜和（b）TIE /抖動(dòng)頻譜。

概括

信號(hào)完整性和電源完整性是一個(gè)反饋回路。網(wǎng)絡(luò)中的每個(gè)元素，每條走線，過(guò)孔，連接器，引腳，封裝等都會(huì)影響PDN阻抗和每個(gè)通道的阻抗，并且每個(gè)有源組件都會(huì)改變電源軌和接地層的電壓。

眼圖可以告訴我們很多有關(guān)信號(hào)完整性的信息，但很少幫助我們識(shí)別特定問(wèn)題。對(duì)TIE分布的分析將抖動(dòng)分解為一些組件，這些組件提供了問(wèn)題所在的線索。高RJ通常意味著時(shí)鐘嘈雜，但也可能指示電源產(chǎn)生隨機(jī)噪聲。

PJ可能指示時(shí)鐘故障，電源開(kāi)關(guān)噪聲或接地反彈/ SSN。將電源軌紋波頻譜與TIE頻譜進(jìn)行比較可以分兩步解決問(wèn)題。TIE頻譜中的雜散表示電源軌頻譜中沒(méi)有任何相應(yīng)的雜散，表示時(shí)鐘。兩個(gè)頻譜中相同頻率的一個(gè)或兩個(gè)雜散表示電源開(kāi)關(guān)噪聲；兩個(gè)光譜共有的大量雜散表示SSN。在每種情況下，將抖動(dòng)和功率分析結(jié)合起來(lái)可以解決其他困難的問(wèn)題。

信號(hào)完整性和電源完整性通常被認(rèn)為是不同的學(xué)科，但是我們已經(jīng)發(fā)現(xiàn)，發(fā)現(xiàn)與高抖動(dòng)相關(guān)的問(wèn)題需要對(duì)兩者都進(jìn)行理解。

編輯：hfy