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什么是晶體管?它是如何工作的?

我快閉嘴 ? 來源:賢集網(wǎng) ? 作者:賢集網(wǎng) ? 2020-11-04 15:40 ? 次閱讀

您的大腦包含約1000億個稱為神經(jīng)元的細胞,這些微小的開關(guān)可讓您思考和記住事物。 計算機還包含數(shù)十億個微型“腦細胞”。 它們被稱為晶體管,由硅制成,硅是沙子中常見的化學(xué)元素。 自從半個多世紀前John Bardeen,Walter Brattain和William Shockley發(fā)明晶體管以來,晶體管就徹底改變了電子技術(shù)。 但是它們是什么?它們?nèi)绾喂ぷ鳎?/p>

場效應(yīng)晶體管FET是一種三端有源器件,它使用電場來控制電流,并且具有高輸入阻抗,這在許多電路中都很有用。場效應(yīng)晶體管FET是在電子工業(yè)的許多領(lǐng)域中使用的關(guān)鍵電子組件。從射頻技術(shù)到功率控制和電子開關(guān)再到一般放大等領(lǐng)域,F(xiàn)ET用在許多由分立電子元件構(gòu)成的電路中。但是場效應(yīng)晶體管FET的主要用途是在集成電路內(nèi)部。在此應(yīng)用中,F(xiàn)ET電路的功耗比使用雙極晶體管技術(shù)的IC低得多。這使得超大規(guī)模集成電路能夠操作。如果使用雙極技術(shù),則功耗將大幾個數(shù)量級,并且產(chǎn)生的功率太大而無法從集成電路中耗散掉。

除了用于集成電路之外,分立版本的場效應(yīng)晶體管還可用作含鉛電子組件和表面貼裝器件。一系列場效應(yīng)晶體管-2N7000 N溝道MOSFET-盡管它們有許多表面貼裝器件,但它們都是帶引線的電子組件。

場效應(yīng)晶體管FET歷史

在將第一批FET引入電子元件市場之前,這一概念已經(jīng)存在了很多年。在實現(xiàn)這種類型的設(shè)備并使之工作方面存在許多困難。

1926年Lilienfield的一篇論文概述了場效應(yīng)晶體管的一些早期概念,而Heil于1935年的另一篇論文概述了一些早期的概念。

下一個基金會是在1940年代貝爾實驗室成立的,在那里半導(dǎo)體研究小組得以成立。該小組研究了與半導(dǎo)體和半導(dǎo)體技術(shù)有關(guān)的許多領(lǐng)域,其中一個領(lǐng)域是可以調(diào)節(jié)半導(dǎo)體通道中流過的電流的設(shè)備,從而在電場附近施加電場。

在這些早期實驗中,研究人員無法使這個想法付諸實踐,無法將他們的想法轉(zhuǎn)變?yōu)榱硪粋€想法,并最終發(fā)明了另一種形式的半導(dǎo)體電子元件:雙極晶體管。

在此之后,大部分半導(dǎo)體研究都集中在改進雙極晶體管上,并且一段時間以來,對于場效應(yīng)晶體管的想法還沒有得到充分研究。現(xiàn)在,F(xiàn)ET已被廣泛使用,在許多集成電路中提供了主要的有源元件。沒有這些電子組件,電子技術(shù)將與現(xiàn)在的技術(shù)大不相同。

場效應(yīng)晶體管基礎(chǔ)知識

場效應(yīng)晶體管的概念基于以下概念:附近物體上的電荷可以吸引半導(dǎo)體通道內(nèi)的電荷。它實際上是利用電場效應(yīng)來運作的,因此得名。

FET由一個半導(dǎo)體通道組成,該半導(dǎo)體通道的兩端都有電極,稱為漏極和源極。

稱為柵極的控制電極非常靠近通道放置,因此其電荷能夠影響通道。

這樣,F(xiàn)ET的柵極控制從源極流到漏極的載流子(電子或空穴)的流動。它通過控制導(dǎo)電通道的大小和形狀來實現(xiàn)。

發(fā)生電流流動的半導(dǎo)體溝道可以是P型或N型。這產(chǎn)生了兩種類型或類別的FET,稱為P溝道和N溝道FET。

除此之外,還有另外兩個類別。增大柵極上的電壓會耗盡或增加通道中可用載流子的數(shù)量。結(jié)果,存在增強型FET和耗盡型FET。

由于只有電場才控制通道中流動的電流,因此該設(shè)備被認為是電壓驅(qū)動的,并且具有很高的輸入阻抗,通常為許多兆歐。與電流操作且具有低得多的輸入阻抗的雙極晶體管相比,這可能是一個明顯的優(yōu)勢。

場效應(yīng)管電路

從具有分立電子元件的電路中使用的場效應(yīng)晶體管到集成電路中所使用的晶體管,場效應(yīng)晶體管被廣泛用于所有形式的電路中。

關(guān)于場效應(yīng)晶體管電路設(shè)計的注意事項:

盡管三種基本配置是公共源極,公共漏極(源極跟隨器)和公共柵極,但場效應(yīng)晶體管可以用于多種類型的電路。電路設(shè)計本身非常簡單,可以很容易地進行。

由于場效應(yīng)晶體管是電壓驅(qū)動的器件,而不是像雙極晶體管那樣的電流器件,因此這意味著電路的某些方面非常不同:尤其是偏置裝置。但是,采用FET的電子電路設(shè)計相對容易-與使用雙極型晶體管的電路略有不同。

使用FET,可以設(shè)計電路,例如電壓放大器,緩沖器或電流跟隨器,振蕩器濾波器等等,并且這些電路與雙極晶體管甚至熱電子閥/真空管的電路非常相似。有趣的是,閥/管也是電壓操作的設(shè)備,因此,即使在偏置裝置方面,它們的電路也非常相似。

場效應(yīng)晶體管類型

有很多方法可以定義可用的不同類型的FET。不同的類型意味著在電子電路設(shè)計期間,可以為電路選擇合適的電子組件。通過選擇正確的器件,可以為給定的電路獲得最佳性能。

FET可以通過多種方式進行分類,但是下面的樹形圖可以涵蓋FET的一些主要類型。

市場上有許多不同類型的FET,其名稱各不相同。以下是一些主要類別的延遲。

結(jié)FET/JFET:結(jié)FET或JFET使用反向偏置的二極管結(jié)來提供柵極連接。該結(jié)構(gòu)由可以是N型或P型的半導(dǎo)體通道組成。然后,以使二極管上的電壓影響FET溝道的方式將半導(dǎo)體二極管制造到溝道上。

在工作中,這是反向偏置的,這意味著它與通道有效隔離-只有二極管反向電流可以在兩者之間流動。JFET是最基本的FET類型,也是最早開發(fā)的類型。但是,它仍然在許多電子領(lǐng)域提供出色的服務(wù)。

絕緣柵極FET/金屬氧化物硅FET MOSFET:MOSFET在柵極和溝道之間使用絕緣層。通常,其由半導(dǎo)體的氧化物層形成。

IGFET名稱是指具有絕緣柵的任何類型的FET。IGFET最常見的形式是硅MOSFET-金屬氧化物硅FET。在此,柵極由一層金屬層制成,該金屬層位于氧化硅上,而氧化硅又位于硅溝道上。MOSFET廣泛用于電子學(xué)的許多領(lǐng)域,尤其是在集成電路中。

IGFET/MOSFET的關(guān)鍵因素是這些FET能夠提供的極高的柵極高阻抗。就是說,將有一個相關(guān)的電容,隨著頻率的升高,這將減小輸入阻抗。

雙柵極MOSFET:這是MOSFET的一種特殊形式,沿通道具有兩個串聯(lián)的柵極。與單柵極設(shè)備相比,這可以實現(xiàn)一些顯著的性能改進,尤其是在射頻方面。

MOSFET的第二個柵極在輸入和輸出之間提供了額外的隔離,此外,它還可用于混合/乘法等應(yīng)用。

MESFET:金屬硅FET通常使用砷化鎵制造,通常被稱為GaAs FET。GaAsFET通常用于可提供高增益,低噪聲性能的RF應(yīng)用。GaAsFET技術(shù)的缺點之一是柵極結(jié)構(gòu)非常小,這使其對靜電,ESD的損壞非常敏感。處理這些設(shè)備時必須格外小心。

HEMT/PHEMT:高電子遷移率晶體管和偽高電子遷移率晶體管是基本FET概念的發(fā)展,但經(jīng)過開發(fā)可實現(xiàn)非常高的頻率操作。盡管價格昂貴,但它們可以實現(xiàn)很高的頻率和高水平的性能。

FinFET:FinFET技術(shù)現(xiàn)在正在集成電路中使用,以通過允許更小的特征尺寸來實現(xiàn)更高級別的集成。由于需要更高的密度級別,并且越來越難以實現(xiàn)越來越小的特征尺寸,因此FinFET技術(shù)得到了越來越廣泛的應(yīng)用。

VMOS:垂直MOS的VMOS標準。這是一種使用垂直電流來改善開關(guān)和載流性能的FET。VMOS FET廣泛用于電源應(yīng)用。

盡管在文獻中還可以看到其他類型的場效應(yīng)晶體管,但這些類型通常是特定技術(shù)的商品名,它們是上面列出的某些FET類型的變體。

場效應(yīng)管規(guī)格

除了為任何給定的電路選擇特定類型的場效應(yīng)晶體管外,還必須了解不同的規(guī)格。通過這種方式,可以確保FET將按照要求的性能參數(shù)運行。

FET規(guī)范包括從允許的最大電壓和電流到電容電平和跨導(dǎo)的所有內(nèi)容。這些都在確定任何特定FET是否適合給定電路或應(yīng)用中發(fā)揮著作用。

場效應(yīng)晶體管技術(shù)可用于許多不適合使用雙極型晶體管的領(lǐng)域:這些半導(dǎo)體器件中的每一個都有其自身的優(yōu)缺點,并且可以在許多電路中發(fā)揮巨大作用。場效應(yīng)晶體管具有很高的輸入阻抗,是一種電壓驅(qū)動的器件,這使其可以在許多領(lǐng)域中使用。

FET數(shù)據(jù)手冊包含許多不同的參數(shù)和規(guī)格,這些參數(shù)和規(guī)格定義了特定FET類型的性能。

在開發(fā)新電路或更換現(xiàn)有FET時,重要的是要了解數(shù)據(jù)表中出現(xiàn)的不同參數(shù)和規(guī)格,以便可以選擇和使用正確的器件。

所有規(guī)格和參數(shù)在不同的應(yīng)用中都很重要。同樣取決于器件,F(xiàn)ET數(shù)據(jù)表可能會引用與器件所針對的特定參數(shù)相關(guān)的不同參數(shù)。

FET數(shù)據(jù)表的主要規(guī)格和參數(shù)

數(shù)據(jù)表中使用的一些主要FET規(guī)格定義如下。其中一些參數(shù)對于不同類型的FET(例如JFET)特別重要,而其他一些參數(shù)可能更適用于MOSFET等。

柵極源電壓V GS: FET參數(shù)V GS是柵極和源極端子之間可以承受的最大電壓的額定值。在數(shù)據(jù)手冊中包括此參數(shù)的目的是為了防止損壞柵極氧化物。實際的柵極氧化耐受電壓通常遠高于此值,但由于制造過程中存在的公差而會發(fā)生變化。建議保持在此額定值范圍內(nèi),以保持設(shè)備的可靠性。通常,許多設(shè)計規(guī)則表明該設(shè)備只能運行至該額定功率的60%或70%。

漏極-源極電壓V DSS:這是在不引起雪崩擊穿的情況下可以施加的最大漏極-源極電壓的額定值。該參數(shù)通常針對柵極與源極短路以及溫度為25°C的情況給出。根據(jù)溫度,雪崩擊穿電壓實際上可能小于V DSS額定值。

設(shè)計電路時,始終最好在要承受的最大電壓和V DSS規(guī)范之間留出較大的余量。通常,它們可以在50%V DSS左右運行以確保可靠性。

柵極反向漏電流Igss:

閾值電壓V GS(TH): 閾值電壓V GS(TH)是可以在源極和漏極之間形成導(dǎo)電通道的最小柵極電壓。通常針對給定的源極漏極電流引用該值。

零柵極電壓I dss時的漏極電流:此FET參數(shù)是在設(shè)備完全開啟時設(shè)備可以承受的最大連續(xù)電流。通常,它是針對特定溫度(通常為25°C)指定的。

該FET規(guī)范基于結(jié)至外殼的熱阻額定值RθJC(結(jié)/溝道溫度)和外殼溫度。

該FET參數(shù)對于功率MOSFET尤其重要,當確定最大電流參數(shù)時,不考慮開關(guān)損耗。在實踐中也將殼體保持在25℃是不可行的。結(jié)果,實際開關(guān)電流應(yīng)限制為小于I dss的一半在硬開關(guān)應(yīng)用中TC = 25°C額定值時。通常使用三分之一到四分之一的值。

柵源截止電壓VGS(off): 柵源截止電壓實際上是一個關(guān)斷指標。它定義了給定殘余電流的閾值電壓,因此該設(shè)備基本上處于關(guān)閉狀態(tài),但處于開啟狀態(tài)。閾值電壓具有負溫度系數(shù),即,它隨溫度升高而降低。該溫度系數(shù)還會影響開啟和關(guān)閉延遲時間,從而影響某些電路。

正向跨導(dǎo)G fs:

輸入電容C iss: FET的輸入電容參數(shù)是在柵極和源極端子之間測量的電容,漏極與AC信號的源極短路。換句話說,這實際上是柵極和溝道之間的電容。C iss由與柵極至源極電容C gs并聯(lián)的柵極至漏極電容C gd組成。可以表示為:

漏極-源極導(dǎo)通電阻,R ds(on):在FET硬導(dǎo)通的情況下,這是在漏極和源極之間的溝道上展現(xiàn)的電阻(以歐姆為單位)。在從邏輯切換到電源切換的應(yīng)用以及RF切換(包括混頻器的應(yīng)用)中,這一點尤其重要。FET通常能夠提供良好的開關(guān)性能,并且具有相對較低的R ds(on)值。

功耗,P tot:該FET規(guī)范詳細說明了器件可以消耗的最大連續(xù)功率。功耗通常在空氣中獨立放置,或?qū)⒌鬃3衷诮o定溫度(通常為25°C)下指定。實際條件,無論是放在散熱器中還是在自由空氣中,都將取決于設(shè)備類型和制造商。顯然,功率FET在保持在散熱器上的情況下更可能詳述,而自由空氣條件適用于信號FET。

FET數(shù)據(jù)表包含許多不同的參數(shù)和規(guī)格,以定義FET的性能。這些都在各種數(shù)據(jù)表中列出,這將使正確選擇FET成為可能。

晶體管在計算器和計算機中如何工作?

實際上,除非您要設(shè)計用于生活的計算機芯片,否則您不需要了解任何有關(guān)電子和空穴的知識!您需要知道的是,晶體管的工作原理類似于放大器或開關(guān),它使用較小的電流來接通較大的晶體管。但是還有另一件事需要了解:這一切如何幫助計算機存儲信息并做出決策?

我們可以將幾個晶體管開關(guān)放在一起,以形成稱為邏輯門的東西,該邏輯門比較多個輸入電流并提供不同的輸出。邏輯門使計算機可以使用稱為布爾代數(shù)的數(shù)學(xué)技術(shù)做出非常簡單的決策。您的大腦以同樣的方式做出決策。例如,使用有關(guān)天氣和走廊上的東西的“輸入”(您知道的東西),您可以做出這樣的決定:“如果下雨了,我?guī)Я擞陚悖視ド痰辍薄_@是使用“與”運算符的布爾代數(shù)的示例(單詞“ operator”只是一些數(shù)學(xué)術(shù)語,使事情看起來比實際復(fù)雜得多)。您可以與其他運營商做出類似的決定。“如果有風(fēng)或正在下雪,那么我會穿上外套”是使用OR運算符的示例。或“如果下雨了,我有雨傘或我有一件外套,那沒關(guān)系”。使用AND,OR和其他運算符NOR,XOR,NOT和NAND,計算機可以累加或比較二進制數(shù)。這個想法是計算機程序:使計算機執(zhí)行操作的邏輯指令系列。

通常,當沒有基極電流時,結(jié)型晶體管會“截止”,而當基極電流流動時,結(jié)型晶體管會變?yōu)椤皩?dǎo)通”。這意味著需要電流才能打開或關(guān)閉晶體管。但是像這樣的晶體管可以與邏輯門相連,因此它們的輸出連接會反饋到其輸入中。然后,即使去除了基極電流,晶體管也會保持導(dǎo)通狀態(tài)。每次有新的基極電流流過時,晶體管就會“翻轉(zhuǎn)”開或關(guān)。它保持在那些穩(wěn)定狀態(tài)之一(開或關(guān)),直到出現(xiàn)另一種電流并以另一種方式翻轉(zhuǎn)它。這種安排被稱為觸發(fā)器,它將晶體管變成一個簡單的存儲設(shè)備,該設(shè)備存儲一個零(關(guān)閉時)或一個(打開時)。計算機內(nèi)存芯片

誰發(fā)明了晶體管?

圖稿:點接觸晶體管的原始設(shè)計,如John Bardeen和Walter Brattain的美國專利(2,524,035)所述,該專利于1948年6月(原始發(fā)現(xiàn)之后約六個月)提交,并于1950年10月3日授予。簡單的PN晶體管,在N型鍺(橙色)的下層上有一層薄的P型鍺(黃色)。三個觸點是發(fā)射極(E,紅色),集電極(C,藍色)和基極(G,綠色)。您可以在以下參考文獻中列出的原始專利文件中閱讀更多內(nèi)容。藝術(shù)品由美國專利商標局提供。

1947年,三位杰出的美國物理學(xué)家在新澤西州的貝爾實驗室發(fā)明了晶體管:約翰·巴丁(1908–1991),沃爾特·布拉頓(Walter Brattain)(1902–1987)和威廉·肖克利(1910–1989)。

由肖克利(Shockley)領(lǐng)導(dǎo)的團隊一直在嘗試為美國電話系統(tǒng)開發(fā)一種新型放大器,但是他們實際發(fā)明的放大器卻得到了更為廣泛的應(yīng)用。Bardeen和Brattain于1947年12月16日星期二制造了第一個實用晶體管(稱為點接觸晶體管)。盡管Shockley在該項目中發(fā)揮了很大作用,但他為被淘汰而感到憤怒和激動。此后不久,他在一次物理會議上的旅館住宿期間,一手搞清楚了結(jié)型晶體管的原理,這是一種比點接觸型晶體管更好的器件。

當Bardeen離開Bell Labs成為一名學(xué)者(他繼續(xù)在伊利諾伊大學(xué)學(xué)習(xí)超導(dǎo)體的過程中獲得了更大的成功)時,Brattain呆了一段時間,然后退休成為一名老師。肖克利成立了自己的晶體管制造公司,并幫助激發(fā)了現(xiàn)代現(xiàn)象,即“硅谷”(硅谷)(電子公司聚集在加利福尼亞州帕洛阿爾托附近的繁華地區(qū))。他的兩名員工Robert Noyce和Gordon Moore繼續(xù)創(chuàng)立了世界上最大的微芯片制造Intel

幾年后,Bardeen,Brattain和Shockley短暫團聚,因為他們的發(fā)現(xiàn)而獲得了世界最高科學(xué)獎 1956年諾貝爾物理學(xué)獎。
責任編輯:tzh

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    什么是NPN<b class='flag-5'>晶體管</b>?NPN<b class='flag-5'>晶體管</b>的<b class='flag-5'>工作</b>原理和結(jié)構(gòu)

    PNP晶體管符號和結(jié)構(gòu) 晶體管測試儀電路圖

    PNP晶體管是一種雙極性晶體管,用于電子電路中放大、開關(guān)和控制電流的器件。與NPN晶體管相對應(yīng),PNP晶體管的結(jié)構(gòu)特點在于其三個不同的半導(dǎo)體區(qū)域:正極(P型)、負極(N型)、正極(P型
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    PNP<b class='flag-5'>晶體管</b>符號和結(jié)構(gòu) <b class='flag-5'>晶體管</b>測試儀電路圖

    晶體管的三種工作狀態(tài)

    晶體管作為現(xiàn)代電子技術(shù)的基石,其工作狀態(tài)直接影響電子設(shè)備的性能和功能。晶體管通常具備三種基本的工作狀態(tài):截止狀態(tài)、放大狀態(tài)和飽和狀態(tài)。這三種狀態(tài)不僅決定了
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    達林頓晶體管工作原理與主要特性

    在電子工程中,晶體管是一種廣泛應(yīng)用的半導(dǎo)體器件,它能夠控制電流的流動。在眾多晶體管類型中,達林頓晶體管(Darlington Transistor)以其獨特的工作原理和顯著的特性而備受
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    晶體管測試儀的工作原理和主要作用

    在現(xiàn)代電子技術(shù)領(lǐng)域中,晶體管作為核心電子器件,廣泛應(yīng)用于各種電子設(shè)備中。為了確保晶體管的質(zhì)量和性能符合規(guī)格,晶體管測試儀成為了必不可少的工具。本文將詳細介紹晶體管測試儀的基本概念、
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