- 完成了基于110納米的全局快門和SPAD工藝的研發(fā)

- 可滿足多種應(yīng)用，包括汽車和工業(yè)機(jī)器視覺、增強(qiáng)現(xiàn)實(shí)（AR）/虛擬現(xiàn)實(shí)（VR）可穿戴設(shè)備等

據(jù)麥姆斯咨詢報(bào)道，近日，DB HiTek公司宣布已研發(fā)出基于110納米的全局快門（Global Shutter）和單光子雪崩二極管（Single-Photon Avalanche Diode，SPAD）工藝，并將擴(kuò)展其圖像傳感器產(chǎn)品系列。

全局快門使得圖像傳感器能夠同時(shí)感應(yīng)所有像素的圖像信息，即使在拍攝快速移動(dòng)的物體時(shí)，也能準(zhǔn)確記錄視頻和圖像而不會(huì)失真。此外，全局快門還能助力機(jī)器視覺高度精確地識(shí)別物體形態(tài)。近來，全局快門廣泛應(yīng)用于工業(yè)機(jī)器視覺，此外還適用于汽車和無人機(jī)攝像頭等各種應(yīng)用。

DB HiTek的全局快門基于110nm背照式（BSI）工藝，并采用了遮光罩（light shield）和導(dǎo)光（light guide）技術(shù)，擁有99.99%的全局快門效率（GSE）性能，并且能支持最小至2.8um的多種像素尺寸。

DB HiTek的CMOS圖像傳感器技術(shù)路線圖

SPAD是一種光電傳感技術(shù)，可以檢測到單光子水平的弱光信號(hào)。SPAD能夠識(shí)別從傳感器發(fā)射光線到物體反射回光線所需的飛行時(shí)間（ToF），從而測量出傳感器與物體之間的距離。憑借長距離和高精度優(yōu)勢，SPAD被積極應(yīng)用于車載激光雷達(dá)（LiDAR）等ToF測距領(lǐng)域，同時(shí)也適用于智能手機(jī)、AR/VR可穿戴設(shè)備、監(jiān)控?cái)z像頭和工業(yè)機(jī)器視覺等各種應(yīng)用。

DB HiTek以110納米前照式（FSI）工藝為基礎(chǔ)，實(shí)現(xiàn)了3.8%光子探測概率（@905納米波長）性能，公司還計(jì)劃在今年內(nèi)實(shí)現(xiàn)BSI工藝，并完成7%光子探測概率（@905納米波長）的SPAD工藝研發(fā)。

為了協(xié)助無晶圓廠客戶按時(shí)進(jìn)入市場并提高產(chǎn)品競爭力，DB HiTek將在今年9月提供專門為全局快門和SPAD技術(shù)研發(fā)的多項(xiàng)目晶圓（Multi Project Wafer，MPW）服務(wù)。

關(guān)于DB HiTek

DB HiTek前身是Dongbu HiTek（東部高科），是全球領(lǐng)先的專業(yè)晶圓代工廠，公司總部位于韓國，在BCDMOS、CMOS圖像傳感器（CIS）、MEMS、MS/RF和SJ MOSFET工藝方面具有競爭優(yōu)勢。

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