定義
CAF(Conductive Anodic Filament)又稱導電性陽極絲,是指印刷電路板電極間由于吸濕作用,吸附水分后加入電場,金屬離子沿玻纖紗從一金屬電極向另一金屬電極移動時,析出金屬與化合物的現象。CAF現象會導致絕緣層劣化。
背景
當前,無論是多層板的層數還是通孔的孔徑,無論是布線寬度還是線距,都趨于細微化。由于絕緣距離的縮短以及電子設備便攜化的影響,導致電路板容易發生吸濕現象,進而發生離子遷移。
同時,當電路板發生離子遷移后,短時間內極易產生故障。由此可見,對CAF的研究與分析就顯得十分必要。
CAF發生的原理
離子遷移現象是由溶液和電位等相關電化學現象引起的,尤其是在高密度電子產品中,材料與周圍環境相互影響,導致離子遷移現象發生。
陽極反應(金屬溶解)
陰極反應(金屬或金屬氧化物析出)
No.1 CAF發生的過程
水的吸附擴散
影響因素:水蒸氣量,溫度,材質
水的分解
影響因素:電壓,水蒸氣量,溫度
銅的析出
影響因素:電壓,水蒸汽量,材質,PH,氧氣溶存量
電子交換
影響因素:電壓,材質
No.2 CAF發生的主要影響因素
形成CAF通路第一階段的基本條件是有金屬鹽類存在以及有潮濕或蒸汽壓存在,這兩個條件都不可或缺。當施加電壓或偏壓時,便會產生第二階段的CAF增長。
其中,測試的溫濕度越高,吸附的水分越多,生長得就越快;電壓越高,加快電極反應,CAF生長得越快;PH值越低,越易發生CAF;基材的吸水率越高,越易發生CAF。
耐CAF評估樣品制作影響因素&建議
因CAF產生的條件是處于有金屬鹽類與潮濕并存的情況下,由于電場驅動,離子沿著玻璃纖維與樹脂界面遷移而發生。
因此,最根本的措施是讓玻璃纖維與樹脂界面致密而牢固地結合在一起,不存在任何隙縫。同時,降低樹脂的吸水率,進一步提高材料的耐CAF能力。
以下從三個方面提出改善建議——
No.1 基板原材料
樹脂
a.使用高純度環氧樹脂。
b.開發耐熱性能良好的樹脂配方。
C.降低樹脂的吸水性。
玻纖布
建議使用開纖程度較好的玻纖布,可以使樹脂更均勻地分布在玻纖絲為主的絲布上,增加樹脂與玻纖布的結合,從而提高耐CAF能力。
銅箔
銅箔的銅牙太長或不均勻會增加發生CAF的可能性。因此建議使用銅牙均勻的銅箔。
No.2 CCL制程
含浸
PP中殘留氣泡較多,會增加CAF的機會,含浸需優化制作參數,確保PP的浸潤性。同時增加預含浸,通過采用密度較低的膠液對玻纖紗束進行預含浸,趕跑大部分氣泡的同時,降低玻纖布的表面張力。
壓合
壓合流膠過大或板邊白化會影響材料的耐CAF性能。因此需選擇合適的壓合程序,確保壓合后板材的質量。
No.3 PCB制程
鉆孔
鉆孔參數不當或鉆針研磨次數太多會導致孔壁表面凹凸起伏大。在化學濕加工過程中,表面凹陷之處易聚集或包覆金屬鹽類溶液,易滲入到薄弱結合部的細微裂縫中,從而導致出現CAF的可靠性問題。 因此需選擇較合適的鉆孔參數和較新的鉆針,以確保鉆孔的質量。
除膠渣
除膠渣若參數選擇不當,除膠不凈會影響電鍍的質量,增加CAF失效的機會。因此根據不同類型材料需選擇合適的除膠參數。
壓合
需要選擇合適的壓合程序,尤其是多層板要注意層壓參數的匹配性,確保壓合的質量。
雜質
PCB制程中若出現雜質或殘銅,清潔處理不當后,將金屬鹽類殘留在板面上。一旦吸潮或分層吸濕,便會形成CAF問題。因此需調整參數避免殘銅,同時改進清洗方法并充分清潔。
評估CAF的方法
離子遷移評價通常使用梳型電路板為試料,將成對的電極交錯連接成梳形圖案,在高溫高濕的條件下給予一固定之直流電壓,經過長時間之測試,并觀察線路是否有瞬間短路之現象。
Off- line測試
電極間絕緣電阻的測試是在規定時間內從高溫高濕環境中取出試料在室溫環境下進行。
采用這種評價方法在實際測定時,離子遷移現象已經消失且恢復到高絕緣狀態。因此盡管發生異常,也會存在誤認為沒有異常。
On- line測試
在高溫高濕環境下,一邊在電極間施加電壓應力,一邊連續地自動測試因離子遷移而在瞬間發生絕緣劣化和絕緣阻值的變化。
這種測試可以準確獲取因離子遷移導致的絕緣劣化特性和發生故障的時間。而且還可以從電阻值的變化上知道試驗自開始階段以來,試料間所產生的差異、以及到發生故障時電阻值發生紊亂等信息。
雙面板耐CAF評估樣品圖例
On-line測試曲線圖范例
失效樣品的分析
針對CAF引起的失效現象,一般采用的方法是逐步縮小范圍的方法:
失效樣品先測試電阻→用顯微鏡觀察,找出大概失效的位置→退掉表面的綠油→再觀察具體的位置→磨切片觀察失效發生的原因
以下為詳細圖例說明:
結語
隨著印制電路板行業發展日益高密度化,與此同時由CAF引起的失效問題越來越突出。要提高PCB耐CAF的能力,首先著力點在板材,其次是在制造過程中對產品制定有效的措施,如此才能從根本上提高PCB耐CAF的能力。
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