ATECLOUD智能云測(cè)試平臺(tái)是由納米軟件自主研發(fā)的文字化語言編程軟件平臺(tái),可用于上位機(jī)軟件開發(fā),一拖即用,相較于傳統(tǒng)的代碼編程、LabVIEW軟件的圖形化編程,平臺(tái)封裝了算子、各類儀器指令、數(shù)據(jù)洞察,讓不懂編程的人也可以快速上手。平臺(tái)具有超強(qiáng)大功能,界面清爽流暢,操作十分簡(jiǎn)單,輕松編寫語言。平臺(tái)為大家提供了非常不錯(cuò)的程序開發(fā)環(huán)境,此軟件有著極為強(qiáng)大的數(shù)據(jù)處理系統(tǒng),可以幫助大家更快的集成各類數(shù)據(jù)并進(jìn)行分析,兼容性也非常強(qiáng),是開發(fā)測(cè)量或控制系統(tǒng)的理想選擇。

ATECLOUD去LabVIEW化,無需編程,15分鐘快速搭建自動(dòng)化測(cè)試;
自定義報(bào)告模板,可實(shí)現(xiàn)快速建立、快速修改;
充分利用大數(shù)據(jù)、云計(jì)算,發(fā)揮數(shù)據(jù)的無限價(jià)值;
ATECLOUD-APP在任何時(shí)間任何,地點(diǎn)皆能滿足您的遠(yuǎn)程測(cè)試要求;
數(shù)據(jù)可視化為您提供第一手的測(cè)試數(shù)據(jù),實(shí)時(shí)分析實(shí)時(shí)展示。
使用納米軟件ATECLOUD智能云測(cè)試平臺(tái),您可以快速獲得來自各種測(cè)量硬件的真實(shí)世界數(shù)據(jù),
作為測(cè)量和自動(dòng)化應(yīng)用程序的一部分,它使得控制任何測(cè)量硬件來收集數(shù)據(jù)成為可能。

ATECLOUD智能云測(cè)試平臺(tái)可用于儀器程控、電子元器件自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)、多通道數(shù)據(jù)采集測(cè)試系統(tǒng)、
電源模塊自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)、LCR自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)、其他根據(jù)用戶需求非標(biāo)定制的測(cè)試項(xiàng)目方面。

應(yīng)用場(chǎng)景
- 將被測(cè)產(chǎn)品及測(cè)試儀器進(jìn)行測(cè)試環(huán)境搭建
- 在ATECLOUD平臺(tái)進(jìn)行測(cè)試方案編輯
- ATECLOUD平臺(tái)自動(dòng)測(cè)試并保存測(cè)試數(shù)據(jù)
- ATECLOUD平臺(tái)的豐富算法模型,高質(zhì)量的分析報(bào)告,挖掘數(shù)據(jù)深度價(jià)值

產(chǎn)品特點(diǎn)

硬件結(jié)構(gòu)

軟件架構(gòu)
- 自主研發(fā),多層級(jí)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)
- 大數(shù)據(jù)系統(tǒng)
- 試驗(yàn)運(yùn)行全面控制
- 獨(dú)立賬號(hào)安全可靠

- ATE-GATEWAY
- ATE-GATEWAY提高數(shù)據(jù)采集的吞吐量,滿足時(shí)效性要求
- ATEBOX
- ATEBOX與各類設(shè)備快速對(duì)接;ATEBOX作為總控單元與硬件層的中間環(huán)節(jié),完成與各類標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備、非標(biāo)設(shè)備或PLC的快速對(duì)接。

使用流程

數(shù)據(jù)分析
- 實(shí)時(shí)監(jiān)控
- 電子看板
- 預(yù)警提醒
- 測(cè)試管理

- 案例展示






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ATECLOUD智能云測(cè)試平臺(tái)推動(dòng)自動(dòng)化測(cè)試發(fā)展

納米軟件ATECLOUD集成測(cè)試設(shè)備的功能與特點(diǎn)

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