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Nanodcal半導體器件:計算n型摻雜NiSi2-Si器件的輸運特性

鴻之微 ? 來源:鴻之微 ? 作者:鴻之微 ? 2022-09-07 16:38 ? 次閱讀
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Nanodcal是一款基于非平衡態格林函數-密度泛函理論(NEGF - DFT)的第一性原理計算軟件,主要用于模擬器件材料中的非線性、非平衡的量子輸運過程,是目前國內擁有自主知識產權的基于第一性原理的輸運軟件。可預測材料的電流 - 電壓特性、電子透射幾率等眾多輸運性質。

迄今為止,Nanodcal 已成功應用于1維、2維、3維材料物性、分子電子器件、自旋電子器件、光電流器件、半導體電子器件設計等重要研究課題中,并將逐步推廣到更廣闊的電子輸運性質研究的領域。

本期將給大家介紹Nanodcal半導體器件2.7.3的內容。

2.7.3. 計算n型摻雜NiSi2-Si器件的輸運特性

Nanodcal軟件通過虛晶近似(Virtual Crystal Approximation,VCA)的方法實現半導體的n型或者p型摻雜。為了確保Si在中心區域的長度大于耗盡層的寬度,選用一個較長的n型摻雜NiSi2-Si器件進行輸運特性計算。

2.7.3.1. 生成Si原子的VCA基組文件

(1)雙擊圖標“DeviceStudio快捷方式”打開軟件;

(2)選擇Create a new Project→OK→文件名:Si,保存類型:ProjectFiles(*.hpf)→

保存即可;

(3)從數據庫中導入Si晶體,如下:

File→Import→3DmaterialsConductorPure_metalSi打開即可:

674f7a4a-2d13-11ed-ba43-dac502259ad0.png

圖 2-52:導入晶體Si界面操作圖

(4)選擇Simulator→Nanodcal→Virtual Crystal Approximation,進入VCA設置界面,如下:選擇Mixture vacancy

676f9366-2d13-11ed-ba43-dac502259ad0.png

圖 2-53:VCA設置界面圖

價電子的占有率設為1.00005。點擊Generate Files生成VCA.input文件。右擊VCA.input文件,選擇Run,即可實現Nanodcal在Device Studio中的一體化計算。

(5)計算完成后,右擊VCA.input,選擇Open Containing Folder,打開所在文件夾,產生了新的基組文件:Si_VCA_Si1.00005.mat

2.7.3.2. 自洽計算

(1)基組文件:Si_PBE-DZP.nad、Ni_PBE-DZP.nad和Si_VCA_Si1.00005.mat。左電極自洽計算的輸入文件及方法與1.2.1小節相同

(2)右電極進行了摻雜,scf.input中Si原子的軌道類型變為VCA_Si1.00005,如下:

67954b74-2d13-11ed-ba43-dac502259ad0.png

(3)同樣,在中心區的自洽輸入文件scf.input中,被摻雜Si原子相應的軌道類型也變為VCA_Si1.00005,如下:

67bbc862-2d13-11ed-ba43-dac502259ad0.png

(4)自洽計算結束后,采用1.2.3和1.2.6小節的方法,計算n型摻雜的NiSi2-Si器件的勢分布和投影態密度(PDOS),如下:

67fa861a-2d13-11ed-ba43-dac502259ad0.png

圖 2-54:n型摻雜NiSi2-Si勢分布可視化圖

68eaa032-2d13-11ed-ba43-dac502259ad0.png

圖 2-55:n型摻雜NiSi2-SiPDOS可視化圖

2.7.3.3. 非平衡態下的輸運特性

(1)偏壓Vbias被定義為VL-VR。對器件施加0.3 V偏壓,中心區的輸入文件scf.input改變

69374b4e-2d13-11ed-ba43-dac502259ad0.png

(2)在自洽完成的基礎上,進行電流計算

準備輸入文件ivcurve.input

69599f0a-2d13-11ed-ba43-dac502259ad0.png

右擊Project窗口中的ivcurve.input文件,選擇Run→Run,計算電流;計算結束后,會產生以下輸出文件:CalculatedResults.mat、log.txt、CurrentVoltageCurves.mat、CurrentVoltageCurves.xml。最后,查看數據,在Matlab界面,使用如下命令來查看數據:


69746ae2-2d13-11ed-ba43-dac502259ad0.png

(3)對n型摻雜的NiSi2-Si器件施加一系列偏壓,得到I-V曲線如下:

699950c8-2d13-11ed-ba43-dac502259ad0.png

圖 2-56:NiSi2-Si的IV曲線圖

2.7.3.4. 耗盡層WD與摻雜濃度的關系

為了使模擬達到合理的目標,我們需要確保硅在中心區域的長度大于耗盡層的寬度。這里我們對器件進行1019、1020和1022cm-3濃度的n型摻雜,計算它們的勢分布。其中VCA基組生成,自洽計算和勢分布計算的方法與上述1.3.1和1.3.2相同。

WD與摻雜濃度N的關系如下:

69cb56ea-2d13-11ed-ba43-dac502259ad0.png
圖 2-60:WD與摻雜濃度N關系圖

編輯:黃飛

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原文標題:產品教程|Nanodcal半導體器件(摻雜的NiSi2-Si半導體器件的輸運特性02)

文章出處:【微信號:hzwtech,微信公眾號:鴻之微】歡迎添加關注!文章轉載請注明出處。

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