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RA2 MCU ADC轉換時間測試方法

瑞薩MCU小百科 ? 來源:未知 ? 2023-02-08 11:25 ? 次閱讀

RA2 MCU瑞薩在2019年下半年開始推廣的Cortex M23核的產品,48MHz主頻,各子系列都非常有特點,如入門級的RA2E1子系列帶Capacitive Sensing Unit,RA2L1子系列低功耗及帶CAN總線,RA2A1子系列增強模擬功能、帶16位ADC及24位Sigma-Delta ADC,RE2E2子系列主打小封裝。可廣泛的用于各種應用上。以下是瑞薩RA MCU Portfolio:

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之前有客戶在使用瑞薩RA2 MCU時,由于測試方法不對,導致測出來的ADC轉換時間比規格書中宣稱的0.67us要長許多,達到了2.1us左右。后來瑞薩AE用三種方法做了詳細的測試,用連續轉換模式得到了比較理想并且合理的結果,一次AD掃描轉換時間大概為0.67us,與規格書宣稱的值相近。現將測試方法及步驟分享如下。

理論說明

1.1

基于RA2L1硬件手冊中Figure 30.25和Figure 30.26,單次掃描模式下所選通道數為n的掃描轉換時間(tSCAN)可按如下方式確定:

tSCAN= tD+ tDIS×n + tDIAG+ tED+ tCONV×n

tSCAN:掃描轉換時間

tD:開始掃描延遲時間

tDIS:斷線檢測輔助處理時間

tDIAG和tDSD:自診斷A/D轉換處理時間

tCONV:A/D轉換處理時間

tED:結束掃描延遲時間

0d3938da-a760-11ed-bfe3-dac502259ad0.png

1.2

參考“41. Electrical Characteristics”中Table 41.35的Note 1,轉換時間是采樣時間和比較時間的總和。也就是說,這里的轉換時間指的僅僅是tCONV,而并非tSCAN。

0d4cb572-a760-11ed-bfe3-dac502259ad0.png

1.3

從理論上,如何獲得掃描轉換時間的最小值

tD= 2 PCLKB + 4 ADCLK:All other, Synchronous trigger. But this does not include the time consumed in the path from timer output to trigger input.

tDIS=0:Setting in ADNDIS[3:0] (initial value = 0x00) ×ADCLK

tDIAG= 0:DIAGST[1:0] = 00 (Self-diagnosis not executed after power-on.)

tCONV= 0.67us: Operation at PCLKD = 48 MHz,High-precision channel, ADCSR.ADHSC = 0, ADSSTRn.SST[7:0] = 0x0A, ADACSR.ADSAC = 1

tED= 2 PCLKB + 3 ADCLK:PCLKB to ADCLK frequency ratio = 1:2

1.4

測試條件:

PCLKD (ADCLK) = 48MHz、PCLKB = 24MHz (PCLKB不能超過32MHz)、快速轉換模式、高速A/D轉換模式、AN000(高精度通道)、不使用自診斷

AD掃描轉換時間的理論值為:

tSCAN= tD+ tDIS×n + tDIAG+ tED+ tCONV×n

= (2 PCLKB + 4 ADCLK) + (0 cycles of ADCLK) ×1 + 0 + (2 PCLKB + 3 ADCLK) + tCONV×1 = 0.23 + 0.67 = 0.90 us

實測1

使用GPT+ELC+ADC+中斷方式

GPT:周期為50ms,允許GTIOC0A輸出

ELC:GPT的計數值發生Overflow時觸發AD轉換

ADC:Single Scan模式,選擇Channel0,允許掃描完成時產生中斷,在中斷中翻轉端口(P301:H –>L)

實際測量結果:7.31us

這個時間包括中斷響應時間和端口執行時間

測試代碼:(略)

考慮到中斷響應時間比較長,所以后面選擇使用DTC來翻轉端口

0d915ba0-a760-11ed-bfe3-dac502259ad0.png

實測2

使用GPT+ELC+ADC+DTC方式

GPT:周期為50ms,允許GTIOC0A輸出

ELC:GPT的計數值發生Overflow時觸發AD轉換

ADC:Single Scan模式,選擇Channel0,允許掃描完成時產生中斷

DTC:觸發源為每次ADC掃描結束,進行DTC傳送,即翻轉IO口(P301:H –>L)

實際測量結果:1.36us

這個時間包括DTC的響應時間和端口執行時間

測試端口執行時間:大概為0.21us

測試代碼:(略)

0db16d32-a760-11ed-bfe3-dac502259ad0.png0dc0b06c-a760-11ed-bfe3-dac502259ad0.png

實測3

使用GPT+ELC+ADC+DTC方式(500次)

GPT:周期為50ms,允許GTIOC0A輸出

ELC:GPT的計數值發生Overflow時觸發AD轉換

ADC:Continuous Scan模式,選擇Channel0,允許掃描完成時產生中斷

DTC:觸發源為每次ADC掃描結束,進行一次DTC傳送,500次傳送后,進入中斷,翻轉IO口(P301:H –>L)

實際測量結果:337.31us

這個時間包括DTC的響應時間、中斷相應時間和端口執行時間

折合到每次的話,大概0.67us

測試代碼:(略)

0de95a3a-a760-11ed-bfe3-dac502259ad0.png

結論

1、手冊中的“0.67 μs/channel”僅僅是采樣時間和比較時間的總和,并非一個通道的掃描轉換時間。

2、在實測3的情況下,我們可以得到比較理想并且合理的結果,一次AD掃描轉換時間大概為0.67us。

3、使用FSP自動生成代碼的情況下,中斷響應時間是比較長的,所以建議采用DTC傳送數據,或者客戶自己寫中斷響應函數。測過GPT中斷響應時間大概是3.58us

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更多內容歡迎識別下方二維碼查看:

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原文標題:RA2 MCU ADC轉換時間測試方法

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