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功率MOS管燒毀原因總結(jié)

Young1225 ? 來(lái)源:Young1225 ? 作者:Young1225 ? 2023-05-05 09:11 ? 次閱讀

MOS 管可能會(huì)遭受與其他功率器件相同的故障,例如過(guò)電壓(半導(dǎo)體的雪崩擊穿)、過(guò)電流(鍵合線或者襯底熔化)、過(guò)熱(半導(dǎo)體材料由于高溫而分解)。

更具體的故障包括柵極和管芯其余部分之前的極薄氧化物擊穿,這可能發(fā)生在相對(duì)于漏極或者源極的任何過(guò)量柵極電壓中,可能是在低至10V-15V 時(shí)發(fā)生,電路設(shè)計(jì)必須將其限制在安全水平。

還有可能是功率過(guò)載,超過(guò)絕對(duì)最大額定值和散熱不足,都會(huì)導(dǎo)致MOS管發(fā)生故障。

接下來(lái)就來(lái)看看所有可能導(dǎo)致失效的原因。

過(guò)電壓

MOS管對(duì)過(guò)壓的耐受性非常小,即使超出額定電壓僅幾納秒,也可能導(dǎo)致設(shè)備損壞。

MOS管的額定電壓應(yīng)保守地考慮預(yù)期的電壓水平,并應(yīng)特別注意抑制任何電壓尖峰或振鈴。

長(zhǎng)時(shí)間電流過(guò)載

由于導(dǎo)通電阻相對(duì)較高,高平均電流會(huì)在MOS管中引起相當(dāng)大的熱耗散。

如果電流非常高且散熱不良,則MOS管可能會(huì)因溫升過(guò)高而損壞。

MOS管可以直接并聯(lián)以共享高負(fù)載電流。

瞬態(tài)電流過(guò)載

持續(xù)時(shí)間短、大電流過(guò)載會(huì)導(dǎo)致MOS管器件逐漸損壞,但是在故障發(fā)生前MOS管的溫度幾乎沒(méi)有明顯升高,不太能察覺(jué)出來(lái)。(也可以看下面分析的直通和反向恢復(fù)部分)

擊穿(交叉?zhèn)鲗?dǎo))

如果兩個(gè)相對(duì)MOS管的控制信號(hào)重疊,則可能會(huì)出現(xiàn)兩個(gè)MOS管同時(shí)導(dǎo)通的情況,這會(huì)使電源短路,也就是擊穿條件。

如果發(fā)生這種情況,每次發(fā)生開關(guān)轉(zhuǎn)換時(shí),電源去耦電容都會(huì)通過(guò)兩個(gè)器件快速放電,這會(huì)導(dǎo)致通過(guò)兩個(gè)開關(guān)設(shè)備的電流脈沖非常短但非常強(qiáng)。

通過(guò)允許開關(guān)轉(zhuǎn)換之間的死區(qū)時(shí)間(在此期間兩個(gè)MOS管均不導(dǎo)通),可以最大限度地減少發(fā)生擊穿的機(jī)會(huì),這允許一個(gè)MOS管在另一個(gè)MOS管打開之前關(guān)閉。

沒(méi)有續(xù)流電流路徑

當(dāng)通過(guò)任何電感負(fù)載(例如特斯拉線圈)切換電流時(shí),電流關(guān)閉時(shí)會(huì)產(chǎn)生反電動(dòng)勢(shì)。在兩個(gè)開關(guān)設(shè)備都沒(méi)有承載負(fù)載電流時(shí),必須為此電流提供續(xù)流路徑。

該電流通常通過(guò)與每個(gè)開關(guān)器件反并聯(lián)連接的續(xù)流二極管安全地引導(dǎo)回電源軌道。

當(dāng)MOS管用作開關(guān)器件時(shí),工程師可以簡(jiǎn)單獲得MOS管固有體二極管形式的續(xù)流二極管,這解決了一個(gè)問(wèn)題,但創(chuàng)造了一個(gè)全新的問(wèn)題......

MOS管體二極管的緩慢反向恢復(fù)

諸如特斯拉線圈之類的高 Q 諧振電路能夠在其電感和自電容中存儲(chǔ)大量能量。

在某些調(diào)諧條件下,當(dāng)一個(gè)MOS管關(guān)閉而另一個(gè)器件打開時(shí),這會(huì)導(dǎo)致電流“續(xù)流”通過(guò) MOS管的內(nèi)部體二極管。

這個(gè)原本不是什么問(wèn)題,但當(dāng)對(duì)面的MOS管試圖開啟時(shí),內(nèi)部體二極管的緩慢關(guān)斷(或反向恢復(fù))就會(huì)出現(xiàn)問(wèn)題。

與MOS管 自身的性能相比,MOS管 體二極管通常具有較長(zhǎng)的反向恢復(fù)時(shí)間。如果一個(gè) MOS管的體二極管在對(duì)立器件開啟時(shí)導(dǎo)通,則類似于上述擊穿情況發(fā)生“短路”。

這個(gè)問(wèn)題通常可以通過(guò)在每個(gè)MOS管周圍添加兩個(gè)二極管來(lái)緩解。

首先,肖特基二極管與MOS管源極串聯(lián),肖特基二極管可防止MOS管體二極管被續(xù)流電流正向偏置。其次,高速(快速恢復(fù))二極管并聯(lián)到MOS管/肖特基對(duì),以便續(xù)流電流完全繞過(guò)MOS管和肖特基二極管。

這確保了MOS管體二極管永遠(yuǎn)不會(huì)被驅(qū)動(dòng)導(dǎo)通,續(xù)流電流由快恢復(fù)二極管處理,快恢復(fù)二極管較少出現(xiàn)“擊穿”問(wèn)題。

過(guò)度的柵極驅(qū)動(dòng)

如果用太高的電壓驅(qū)動(dòng)MOS管柵極,則柵極氧化物絕緣層可能會(huì)被擊穿,從而導(dǎo)致MOS管無(wú)法使用。

超過(guò) +/- 15 V的柵極-源極電壓可能會(huì)損壞柵極絕緣并導(dǎo)致故障,應(yīng)注意確保柵極驅(qū)動(dòng)信號(hào)沒(méi)有任何可能超過(guò)最大允許柵極電壓的窄電壓尖峰。

柵極驅(qū)動(dòng)不足(不完全開啟)

MOS管只能切換大量功率,因?yàn)樗鼈儽辉O(shè)計(jì)為在開啟時(shí)消耗最少的功率。工程師應(yīng)該確保MOS管硬開啟,以最大限度地減少傳導(dǎo)期間的耗散。

如果MOS管未完全開啟,則設(shè)備在傳導(dǎo)過(guò)程中將具有高電阻,并且會(huì)以熱量的形式消耗大量功率,10到15伏之間的柵極電壓可確保大多數(shù)MOS管完全開啟。

緩慢的開關(guān)轉(zhuǎn)換

在穩(wěn)定的開啟和關(guān)閉狀態(tài)期間耗散的能量很少,但在過(guò)渡期間耗散了大量的能量。因此,應(yīng)該盡可能快地在狀態(tài)之間切換以最小化切換期間的功耗。由于MOS管柵極呈現(xiàn)電容性,因此需要相當(dāng)大的電流脈沖才能在幾十納秒內(nèi)對(duì)柵極進(jìn)行充電和放電,峰值柵極電流可以高達(dá)一個(gè)安培。

雜散振蕩

MOS管 能夠在極短的時(shí)間內(nèi)切換大量電流,輸入也具有相對(duì)較高的阻抗,這會(huì)導(dǎo)致穩(wěn)定性問(wèn)題。在某些條件下,由于周圍電路中的雜散電感和電容,高壓MOS管會(huì)以非常高的頻率振蕩。(頻率通常在低 MHz),但這樣是非常不受歡迎的,因?yàn)樗怯捎诰€性操作而發(fā)生的,并且代表了高耗散條件。

這種情況可以通過(guò)最小化MOS管周圍的雜散電感和電容來(lái)防止雜散振蕩,還應(yīng)使用低阻抗柵極驅(qū)動(dòng)電路來(lái)防止雜散信號(hào)耦合到器件的柵極。

“米勒”效應(yīng)

MOS管在其柵極和漏極端子之間具有相當(dāng)大的“米勒電容”。在低壓或慢速開關(guān)應(yīng)用中,這種柵漏電容很少引起關(guān)注,但是當(dāng)高壓快速開關(guān)時(shí),它可能會(huì)引起問(wèn)題。

當(dāng)?shù)撞科骷穆O電壓由于頂部MOS管的導(dǎo)通而迅速上升時(shí),就會(huì)出現(xiàn)潛在問(wèn)題。

這種高電壓上升率通過(guò)米勒電容電容耦合到MOS管的柵極,會(huì)導(dǎo)致底部MOS管的柵極電壓上升,從而導(dǎo)致MOS管也開啟,就會(huì)存在擊穿情況,即使不是立即發(fā)生,也可以肯定MOS管故障。

米勒效應(yīng)可以通過(guò)使用低阻抗柵極驅(qū)動(dòng)器來(lái)最小化,該驅(qū)動(dòng)器在關(guān)閉狀態(tài)時(shí)將柵極電壓鉗位到 0 伏,這減少了從漏極耦合的任何尖峰的影響。在關(guān)斷狀態(tài)下向柵極施加負(fù)電壓可以獲得進(jìn)一步的保護(hù)。例如,向柵極施加 -10 V電壓將需要超過(guò)12V的噪聲,以冒開啟本應(yīng)關(guān)閉的MOS管的風(fēng)險(xiǎn)。

對(duì)控制器的輻射干擾

想象一下,將 1pF 的電容從你的火花特斯拉線圈的頂部連接到固態(tài)控制器中的每個(gè)敏感點(diǎn)的效果,存在的數(shù)百千伏射頻可以毫無(wú)問(wèn)題地驅(qū)動(dòng)大量電流通過(guò)微型電容器直接進(jìn)入控制電路

如果控制器沒(méi)有放置在屏蔽外殼中,這就是實(shí)際會(huì)發(fā)生的情況。

控制電路的高阻抗點(diǎn)幾乎不需要雜散電容即可導(dǎo)致異常操作,但運(yùn)行不正常的控制器可能會(huì)嘗試同時(shí)打開兩個(gè)相反的MOS管 ,控制電子設(shè)備的有效射頻屏蔽至關(guān)重要。

分離電源和控制電路也是非常理想的,電源開關(guān)電路中存在的快速變化的電流和電壓仍然具有輻射顯著干擾的能力。

對(duì)控制器的傳導(dǎo)干擾

大電流的快速切換會(huì)導(dǎo)致電源軌上的電壓驟降和瞬態(tài)尖峰。如果電源和控制電子設(shè)備共用一個(gè)或多個(gè)電源軌,則可能會(huì)對(duì)控制電路產(chǎn)生干擾。

良好的去耦和中性點(diǎn)接地是應(yīng)該用來(lái)減少傳導(dǎo)干擾影響的技術(shù)。作用于驅(qū)動(dòng)MOS管的變壓器耦合在防止電噪聲傳導(dǎo)回控制器方面非常有效。

靜電損壞

安裝MOS管或IGBT器件時(shí),應(yīng)采取防靜電處理措施,以防止柵氧化層損壞。

高駐波比

這里要著重說(shuō)一下,來(lái)自一位專業(yè)射頻工程師的解釋。

在脈沖系統(tǒng)中,VSWR不像在CW系統(tǒng)中那么大,但仍然是一個(gè)問(wèn)題。

在CW系統(tǒng)中,典型的發(fā)射器設(shè)計(jì)用于50歐姆的電阻輸出阻抗。工程師通過(guò)某種傳輸線連接到負(fù)載,希望負(fù)載和線路也是50歐姆,并且電力沿電線很好地流動(dòng)。

但如果負(fù)載阻抗不是50歐姆,那么一定量的功率會(huì)從阻抗不連續(xù)處反射回來(lái)。 但反射功率會(huì)導(dǎo)致幾個(gè)潛在問(wèn)題:

1、發(fā)射器看起來(lái)像一個(gè)負(fù)載并吸收了所有的功率,這不是一個(gè)好的現(xiàn)象。

例如,你的放大器效率為80%,你輸入的功率1KW,通常情況下,設(shè)備的功耗為200W,最終的功耗為800W,如果所有800W的功耗都被反射回來(lái),忽然之間,這些設(shè)備就需要消耗全部的功耗。

2、前向波和反射波的組合會(huì)在傳輸線中產(chǎn)生駐波,在相距1/2波長(zhǎng)的點(diǎn)處會(huì)變得非常高,從而導(dǎo)致?lián)舸┗蛘咂渌涣记闆r,這本質(zhì)上是表現(xiàn)負(fù)載阻抗不是預(yù)期的結(jié)果。

如果你有一個(gè)射頻電源在幾十兆赫茲,你可以裝配一個(gè)開放的平行線傳輸線,在脈沖系統(tǒng)中,你可能會(huì)遇到沿線路傳播的脈脈沖、阻抗不連續(xù)性、反射回以及與發(fā)送的下一個(gè)脈沖相加的問(wèn)題。

反射脈沖是相同極性還是不同極性取決于距離和相對(duì)阻抗。

如果你有幾個(gè)不匹配,可能會(huì)得到很多來(lái)回移動(dòng)的脈沖,這些脈沖會(huì)加強(qiáng)或者取消。這個(gè)對(duì)于商業(yè)配電來(lái)說(shuō)是一個(gè)真正的大問(wèn)題,因?yàn)檠鼐€路的傳播時(shí)間是線路頻率周期的很大一部分,當(dāng)斷路器打開和關(guān)閉以及雷擊時(shí)會(huì)引起問(wèn)題。

以上就是關(guān)于MOS管燒毀的原因分析,有的是自己的經(jīng)驗(yàn),有的地方詢問(wèn)了其他工程師,有的是別人的一些經(jīng)驗(yàn),我都總結(jié)在了一起,希望能夠幫助到大家。

審核編輯:湯梓紅

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