以下是我們在 CODE V 中的十大技巧，可幫助您設計出出色、更好的光學設計。

提示#1： 在設計過程中盡早明確需求。

擁有明確的工作目標、設計要求和所需的時間表可確保您可以與負責項目各個方面的其他工程和系統設計人員進行充分規劃。此外，愿意擁有一定的靈活性也可以幫助您取得成功！機械和封裝限制、不斷變化的性能需求或不斷變化的成本目標等不可預見的挑戰可能需要采用新方法。擁有靈活性將是使您能夠成為一名成功設計師的工具之一！一旦您有了明確的要求，在 CODE V 光學設計軟件中使用規范生成器是跟蹤它們的好方法：

提示#2：根據系統需求選擇一個有效的起點。

CODE V為滿足這一需求提供了大量的樣品和專利鏡頭庫（超過2，400種可用的起點設計，來自過期的專利）：

專利透鏡數據庫可以按應用（例如，顯微鏡物鏡、相機或望遠鏡物鏡）、光譜范圍或共軛物設置進行排序。用于對起點進行排序的其他工具處理系統數據的性能目標（例如f/數字、縮放比率、放大倍率、元素數或移動組數）。

提示#3： 為了獲得最佳優化成功（通常），請選擇對象側瞳孔定義，并允許足夠的自由度以滿足光學系統的約束。

提示#4：充分利用 CODE V 對拉格朗日（精確）約束的出色實現。

拉格朗日約束用于構建圍欄，使優化器遠離解空間中的區域，在這些區域中，設計形式無法滿足這些非常重要的精確約束。CODE V具有在優化過程中處理這些約束的出色方法，將為您的光學設計工作提供良好的服務。

提示#5：使用射線網格間距或 DEL 命令調整優化光線網格設置，以滿足系統特定的設計需求。

查看射線網格間距的一個有用工具是 CODE V 提供的宏 autogrid.seq 或 autogridgq.seq，用于自動設計的直線或高斯正交射線網格輸入。

自動射線網格和自動射線網格高斯正交

提示#6：另一個最佳實踐是在設計過程的早期添加一些約束，以使系統設計對制造和裝配錯誤脫敏（公差脫敏）。

這允許 CODE V 查找受這些類型的制造錯誤影響最小的表單。最流行的方法包括使用靈敏度構建 （SAB） 誤差函數或 SN2 通用靈敏度約束。SAB 誤差函數是對整體誤差函數的單獨貢獻，表示系統對竣工性能的敏感性。SN2 約束可以應用于設計中的每個光學表面，以降低單個表面靈敏度。

提示#7：使用靈敏度竣工誤差函數 （SAB） 時，重復使用射線網格以及波前優化以加快優化運行。

提示#8：對于高度非球面的表面，努力確保您的場覆蓋范圍足以完全填充非球面的可優化部分。

這可確保優化的表面在視場的所有部分都表現良好，并且不會因視場“中間”空間的性能不佳而讓您感到驚訝。

提示#9：嘗試在設計過程的早期納入包裝約束。

使用導入的 CAD 進行可視化可以極大地幫助您完成此任務：

提示#10：最后但并非最不重要的一點是，盡早并經常在設計過程中與您的供應商溝通！

審核編輯：郭婷