一、IIT結構

IIT（In-In-Tab）結構的卷芯，正負極耳均焊接在頭部，極片入料時可以較好地控制極耳位置，通常極耳中心距和邊距不良的情況較少。

附圖1：IIT結構極片及極組示意圖

附表1：IIT結構試卷問題及解決措施

二、MIT結構

MIT（Mid-In-Tab）結構的卷芯，正極耳焊接在極片中間，而負極耳焊接在頭部，相比IIT結構，中心距和邊距更難控制。

附圖2：MIT結構極片及極組示意圖

附表2：MIT結構試卷問題及解決措施

三、IMT結構

IMT（In-Mid-Tab）結構的卷芯，負極耳焊接在極片中間，而正極耳焊接在頭部，與MIT結構類似。

附圖3：IMT結構極片及極組示意圖

附表3：IMT結構試卷問題及解決措施

四、MMT結構

MMT（Mid-Mid-Tab）結構的卷芯，正負極耳均焊接在極片中間，中心距和邊距較難控制。

附圖4：MMT結構極片及極組示意圖

附表4：MMT結構試卷問題及解決措施

五、OOT結構

OOT（Out-Out-Tab）結構的卷芯，正負極耳均焊接在極片尾部，卷繞完成后才能確定極耳位置，與極片一致性關系較大，中心距和邊距最難控制。

附圖5：OOT結構極片及極組示意圖

附表5：OOT結構試卷問題及解決措施

需要注意的是，卷芯尺寸、包覆情況等之間相互存在關聯性，如MMT結構卷芯，正極片入料增加后，極耳中心距和正極耳邊距都會減小，而負極片入料增加后，極耳邊距會減小，而中心距會增大，因此，在調整極片尺寸或極耳位置時，切不可顧此失彼。

如此多的卷繞結構是基于電芯性能和制造工藝難易程度決定的，通過理論計算說明了極耳中置將會降低75%的集流體內阻，從而提高倍率性能。且有相關文獻（高倍率鋰電池極耳研究）研究了極耳焊接在不同位置的內阻和倍率性能，結果證實了極耳焊接越靠近極片中心，全電池內阻越小，倍率性能越好。

附圖6：幾種卷芯結構極耳焊接位置示意圖

附圖7：幾種卷芯結構性能對比

由此可見，IIT結構的內阻最大，倍率性能差，MMT結構內阻最小，倍率性能最好，而MIT和ITM介于二者之間，并且負極耳中置的大倍率放電性能比正極耳中置更好。

總 結

1、極耳中置縮短了電子運動路徑，可以有效降低全電池歐姆內阻，降低極化，減小溫升，提高倍率性能，但增加了工藝復雜度，極耳中心距和邊距控制難度增加。

2、IIT結構的電池和OOT結構內阻相差不大，但OOT結構極耳在卷芯外層，因此特別適合窄條形但中心距要求大的電芯，能大大降低正負極耳觸碰短路的風險。