介電耐壓與擊穿試驗的區(qū)別及測試設(shè)備選擇

耐壓測試是一種非常通用的測試，可用于多種應(yīng)用，從研發(fā)和型式測試，到生產(chǎn)線末端甚至維修后驗證電氣安全。

在這篇文章中，我們來看看兩種最常見的耐壓測試之間的差異，即介電耐壓測試和介電擊穿測試。

原則上，這兩種測試在被測器件（DUT）上的應(yīng)用幾乎相同，但測試結(jié)果往往不同。

耐壓測試通常包括兩個測試端子、一個輸出電壓源和一個回流端子，泄漏電流流入回流端子并由測試設(shè)備測量。

介電耐壓試驗

介電耐壓試驗是耐壓試驗中最常見的一種。它涉及施加規(guī)定的電壓，對于由電源電壓供電的設(shè)備，通常在1000V或更高的范圍內(nèi)。

測試（輸出）電壓施加一段規(guī)定的時間（保持時間），從型式測試的幾分鐘到生產(chǎn)（常規(guī)）測試的低至一秒不等。

通常，測試的成功結(jié)果將由在返回端子中檢測到的電流量來確定。如果電流過多（跳閘電流），則測試將作為故障中止。

電流的大小通常以毫安為單位測量，并將設(shè)置一個電流閾值來確定測試是否通過。同樣，根據(jù)應(yīng)用的不同，該值可能會有所不同。型式試驗場景的限值在100mA范圍內(nèi)是相當常見的，在這種情況下，試驗是在更可控的實驗室型環(huán)境中進行的。當在生產(chǎn)線上進行測試時，為了確保測試操作員的安全，這些限制通常要低得多，在5mA范圍內(nèi)是可以接受的。

這種類型的測試通常沒有破壞性，除非設(shè)備中已經(jīng)存在故障，因此它在生產(chǎn)環(huán)境中是如此常見的測試。然而，作為型式試驗的一部分進行的較長試驗可能會削弱絕緣材料的完整性。因此，作為型式試驗一部分進行試驗的產(chǎn)品通常不適合銷售。

電介質(zhì)擊穿試驗

電介質(zhì)擊穿測試以與上述相同的方式進行，但是在該特定測試中沒有規(guī)定最大電壓，并且通常沒有保持時間。

相反，電壓逐漸增加，直到被測產(chǎn)品的絕緣體不能再承受電壓并發(fā)生擊穿為止。該電壓是絕緣體變得導(dǎo)電的點。

在這種情況下，關(guān)鍵參數(shù)是擊穿點的記錄電壓。

如上所述，這種測試的本質(zhì)可以被視為破壞性的，其目的是迫使DUT達到擊穿點。因此，這種類型的測試僅在研發(fā)環(huán)境中進行，不適合用于常規(guī)測試，因為這會使設(shè)備處于不安全狀態(tài)。

結(jié)論

可以看出，這兩種測試方法在確定產(chǎn)品的整體安全性方面都有一席之地，但這些測試仍然需要選擇正確的時間和地點。考慮到這一點，很明顯，為什么僅在研發(fā)型環(huán)境中使用介電擊穿測試，并且在測試后按預(yù)期使用產(chǎn)品的情況下，介電耐壓測試是證明安全性的更可接受的方法。

測試方案

5kV AC / 6kV DC→絕緣耐壓測試設(shè)備 HAL101/103/104、Sentinel、ST HV（DC）

3kV AC→ Supernova Elite（Class II）、STM/L（Class II）

2.5kV AC→ 絕緣耐壓測試設(shè)備PROFITEST PRIME AC、SafeCheck 8（Class II）

審核編輯 黃宇