掃描隧道顯微鏡STM

掃描隧道顯微鏡 (Scanning Tunneling Microscope, 縮寫為STM) 是一種掃描探針顯微術工具，掃描隧道顯微鏡可以讓科學家觀察和定位單個原子，它具有比它的同類原子力顯微鏡更加高的分辨率。此外，掃描隧道顯微鏡在低溫下（4K）可以利用探針尖端精確操縱原子，因此它在納米科技既是重要的測量工具又是加工工具。

STM工作原理

STM是一種利用量子理論中的隧道效應探測物質表面結構的儀器。一根攜帶小小的電荷的探針慢慢地通過材料，一股電流從探針流出，通過整個材料，到底層表面。當探針通過單個的原子，通過流過探針的電流量波動，得到圖片。

掃描隧道顯微鏡的工作模式

◆ 恒電流模式

◆ 恒高度模式

掃描隧道顯微鏡是一個納米級的隨動系統，因此，電子學控制系統也是一個重要的部分。掃描隧道顯微鏡要用計算機控制步進電機的驅動，使探針逼近樣品，進入隧道區，而后要不斷采集隧道電流，在恒電流模式中還要將隧道電流與設定值相比較，再通過反饋系統控制探針的進與退，從而保持隧道電流的穩定。所有這些功能，都是通過電子學控制系統來實現的。

實例圖片：

審核編輯 黃宇