測試插座的主要起著一個連接導通的作用，用于集成電路應用功能驗證。它是PCB與IC之間的靜態連接器，可以讓芯片的更換測試更方便，不用一直重復焊接和取下芯片，從而減少IC與PCB的損傷，以及達到快速高效的測試效果。

也許聽起來比較復雜，簡而言之它就是一個符合芯片測試要求的精密轉接頭。

今天凱智通小編就帶大家一起了解下，這個小小的轉接頭到底精密在哪里？

我們將測試插座拆解開來，會發現它大致五個部分組成。

第一部分：芯片和芯片測試座引腳接觸的部分；

第二部分：接觸介質部分的結構；

第三部分：引腳引出部分；

第四部分：測試座的外部固定結構；

第五部分：材料部分，接觸介質和外部結構的材料符合此款芯片的測試要求。

測試探針，是半導體測試中，最常見且十分重要的冶具。

探針結構也是采用鈹銅，根據實際的測試要求表面鍍層，一般應用于BGA，QFN等，探針直上直下的結構，能在原有測試主板的結構上進行機械結構的組合，在測試芯片的同時，還原測試版的原有功能。

主要用于手機等電子產品中，起連接作用。探針有錫球測試:指測試帶有完整錫球的IC芯片，采用爪頭探針，直接與錫球接觸;無錫球測試:指測試沒有錫球的Ic芯片，采用尖頭探針，直接與 PAD 接觸;

凱智通測試探針

探針的內部具有彈性結構，其針頭的仿形使其匹配不同的需求，能夠增加接觸面與接觸穩定性，從而降低接觸阻抗，輔助測試更好地進行。

隨著我國半導體事業的發展，國產探針需求逐年遞增，探針行業處于高速發展階段！

可過電流值可達3A，可過頻率值：20GHz，電阻值:60mΩ，測試壽命高達10萬次！

審核編輯：湯梓紅