物料高度是工業(yè)自動化過程控制中一個非常重要的過程參數(shù)。測量物料高度的方法有很多，例如電容式、差壓式、超聲波、電磁波、核輻射等，針對不同的工況和介質(zhì)可以使用不同測量原理的物位計。隨著科技的高速發(fā)展，具有先進測量技術的雷達類物位計發(fā)展迅速，由于其適應復雜工況能力強，使用維護方便等原因，深受廣大用戶歡迎。76GHz~81GHz調(diào)頻連續(xù)波雷達物位計由于其天線尺寸小、測量精度高、發(fā)射角小等優(yōu)點，近年來市場占有率快速提高，已經(jīng)逐步成為物位測量的主力產(chǎn)品。

調(diào)頻連續(xù)波雷達物位計通常安裝在罐頂，并通過透鏡天線連續(xù)發(fā)射微波信號。該發(fā)射信號的頻率由鋸齒波進行線性調(diào)制，連續(xù)發(fā)射的微波信號遇到被測介質(zhì)表面時，由于介電常數(shù)發(fā)生突變，微波信號的部分能量被連續(xù)的反射回來，并被透鏡天線系統(tǒng)所接收。接收信號的頻率與發(fā)射信號的頻率存在差值，而該差值與雷達天線到被測介質(zhì)表面的距離成正比，越大的頻率差值代表著越遠的物料距離。由式（1）即可計算出被測物質(zhì)到測量參考面的距離。

D= c·ΔF/2R（1）

其中，D為測量參考面到被測介質(zhì)的距離，c為光（電磁波）在真空中的傳播速度，ΔF為接收信號與發(fā)射信號的頻率差，R為發(fā)射信號頻率隨時間的變化率。

然后根據(jù)用戶設定的空料位位置，由式（2）即可計算出物料高度。

L =E-D（2）

其中，E為測量參考面到用戶設定的空料位位置，D為測量參考面到被測介質(zhì)的距離，L為物料高度。

調(diào)頻連續(xù)波雷達物位計采用模塊化設計，便于生產(chǎn)組織和維修升級。結(jié)構(gòu)部分由殼體部件和傳感器部件組成。電路部分由濾波模塊、測量模塊、顯示模塊組成，電路安裝在殼體部件內(nèi)。軟件部分主要負責核心測量功能、總線通訊、人機交互，主要控制測量模塊和顯示模塊。

審核編輯 黃宇