有源探頭的負(fù)載效應(yīng)是指由于測試設(shè)備(如萬用表、示波器等)對被測電路產(chǎn)生的影響,可能會改變被測電路的性能或測量結(jié)果。為了準(zhǔn)確測量被測電路的特性,需要考慮和補(bǔ)償這種負(fù)載效應(yīng)。
測量有源探頭的負(fù)載效應(yīng)可以采取以下步驟:
1. 將有源探頭連接到被測電路上。
2. 連接測試設(shè)備(如萬用表、示波器等)以測量被測電路的特性。
3. 測量被測電路在有源探頭連接時(shí)的特性或信號響應(yīng)。
4. 移除有源探頭,重新測量被測電路的特性或信號響應(yīng)。
5. 比較兩次測量結(jié)果,分析有源探頭對被測電路的影響。
有源探頭的負(fù)載效應(yīng)通常是通過插入損耗(Insertion Loss)或輸入電阻(Input Impedance)來描述的。插入損耗是指有源探頭與被測電路之間的信號功率損耗,輸入電阻是指有源探頭對信號源的電阻。
測量結(jié)果的量級取決于具體的有源探頭和被測電路。不同型號和規(guī)格的有源探頭在尺寸、頻率響應(yīng)、電阻等方面會有差異,因此負(fù)載效應(yīng)的量級也會有所不同。一般來說,有源探頭的負(fù)載效應(yīng)可以通過廠家提供的技術(shù)指標(biāo)獲得,以確定最終的測量誤差范圍。
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審核編輯:湯梓紅
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