一前言

靜電（static electricity）是在生產(chǎn)、生活中普遍存在的一種自然現(xiàn)象。上個(gè)世紀(jì)50年代初歐美各國(guó)已經(jīng)開(kāi)始在半導(dǎo)體器件生產(chǎn)中加以防范，我國(guó)在60年代末期才開(kāi)始注意，80年代初真正用在半導(dǎo)體器件生產(chǎn)中。隨著現(xiàn)代電子信息產(chǎn)業(yè)的迅速發(fā)展，使微電子技術(shù)的發(fā)展突飛猛進(jìn)，大規(guī)模集成電路和超大規(guī)模集成電路被廣泛的應(yīng)用在航天、航空、計(jì)算機(jī)、程控交換機(jī)遙控技術(shù)領(lǐng)域，對(duì)防靜電技術(shù)的要求，提出了更高的要求。除了在生產(chǎn)運(yùn)輸中需要做好靜電防護(hù)，在日常使用上也需要注意靜電帶來(lái)的危害。

二靜電的產(chǎn)生方式

1.接觸起電，當(dāng)兩個(gè)物體接觸時(shí)，就會(huì)使其中一個(gè)物體失去電子而帶正電，而另外一個(gè)物體得到電子而帶負(fù)電，若在分離的過(guò)程中電荷難以中和，電荷就會(huì)積累使物體帶上靜電；

2.感應(yīng)帶電：當(dāng)帶電的物體接近不帶電物體時(shí)會(huì)在不帶電的物體兩端分別感應(yīng)出正電荷和負(fù)電荷；

3.熱電和壓電起電噴射起電等。

三案例分享

下圖是客戶(hù)的一款產(chǎn)品，需要過(guò)接觸±6K。

1.摸底測(cè)試:

首先選取放電位置：USB端口、網(wǎng)口、HDMI端口、音頻端口。

測(cè)試現(xiàn)象：±6KV死機(jī)。

分析原因：斷電恢復(fù)，復(fù)位沒(méi)有反應(yīng)，可能影響到主控模塊，干擾路徑未知。

2.排查測(cè)試:

（1）減小測(cè)試電壓，1KV逐級(jí)遞減直至出現(xiàn)機(jī)器可自行恢復(fù)。

（2）調(diào)整測(cè)試點(diǎn)位，從端口改為靠近（或遠(yuǎn)離）主控部分的地，同時(shí)注意泄放路徑。

（3）考慮散熱金屬的影響，去掉散熱金屬和帶散熱金屬的測(cè)試對(duì)比。

3.測(cè)試結(jié)果：

（1）測(cè)試電壓減小至4KV機(jī)器可以自動(dòng)恢復(fù)，現(xiàn)象等級(jí)為B級(jí)。

（2）遠(yuǎn)離主控點(diǎn)測(cè)試現(xiàn)象正常，靠近主控現(xiàn)象更加嚴(yán)重，確定是主控受到干擾。

（3）拆除散熱金屬4KV無(wú)異常，6KV可自動(dòng)恢復(fù)，判斷金屬散熱片影響較大。

基于上述測(cè)試結(jié)果，判斷金屬散熱片耦合到靜電產(chǎn)生較強(qiáng)的電磁場(chǎng)，導(dǎo)致芯片受到影響，產(chǎn)生死機(jī)現(xiàn)象。

4.整改措施：

如圖所示，最終的整改措施加屏蔽。把散熱金屬下方的都用銅箔屏蔽，且銅箔與芯片之間保持一定的高度（如導(dǎo)熱硅膠）。

四總結(jié)

靜電是電子產(chǎn)品的隱形殺手，它的隨機(jī)性、隱蔽性和復(fù)雜性都會(huì)加劇它整改難度，怎么排除干擾相在這個(gè)時(shí)候就顯得尤為重要。

1.根據(jù)現(xiàn)象，判斷受干擾的模塊；

2.適當(dāng)減弱測(cè)試電壓，調(diào)整測(cè)試點(diǎn)位來(lái)鎖定問(wèn)題點(diǎn)；

3.適當(dāng)排除受干擾模塊周邊設(shè)備；

總之，對(duì)整改靜電可以大膽假設(shè)，小心求證，保證設(shè)備的完整性測(cè)試，避免打壞設(shè)備，畢竟靜電測(cè)試屬于破壞性測(cè)試。

審核編輯：劉清