如下圖所示，GD32F303系列MCU在不同的ADC位寬情況下均具有對(duì)應(yīng)的最高采樣率，那這個(gè)最高采樣率還可以提高嗎？

答案是可以的。GD32F30X系列MCU可以支持雙ADC內(nèi)核，分別為ADC0和ADC1，且雙ADC可以支持同步模式，同步模式可以支持常規(guī)并行模式、常規(guī)快速交叉模式和常規(guī)慢速交叉模式，其中可以使用ADC0和ADC1的交叉模式采樣同一個(gè)通道，同步等效為提高ADC采樣率。

下面以快速交叉模式為例來(lái)進(jìn)行介紹：

以下為常規(guī)快速交叉模式工作示意圖，常規(guī)觸發(fā)后，ADC1立即啟動(dòng)采樣，之后ADC0在7個(gè)ADC時(shí)鐘周期后自動(dòng)啟動(dòng)。

ADC0和ADC1采樣轉(zhuǎn)換的數(shù)據(jù)在快速交叉模式下會(huì)被自動(dòng)放到32位的ADC0數(shù)據(jù)寄存器里，如下圖所示，高16位存放是ADC1的采樣數(shù)據(jù)，低16位存放的是ADC0的采樣數(shù)據(jù)。這樣當(dāng)ADC1和ADC0采樣完成后，使用ADC0對(duì)應(yīng)的DMA通道搬運(yùn)32位ADC0數(shù)據(jù)寄存器，就可以把ADC0和ADC1的采樣數(shù)據(jù)進(jìn)行搬運(yùn)。

在快速交叉模式下，需要兩個(gè)ADC的采樣周期要小于7個(gè)ADC CLK，進(jìn)而可以等效提高雙倍ADC采樣率。

另外慢速交叉模式，就是將兩個(gè)ADC之間的啟動(dòng)間隔改成14個(gè)ADC CLK，其他工作原理一致。

以上即為本期講解，如有建議或問(wèn)題歡迎評(píng)論區(qū)討論！