頻譜分析儀是電子測量領域中最常用的儀器之一,它可以實現(xiàn)對信號頻譜特性的測量和分析。在進行各種信號測試時,頻譜分析儀的性能指標都會對測量結果產(chǎn)生一定的影響。其中,頻譜分析儀的底噪水平是一個非常關鍵的性能指標,它直接決定了分析儀能夠檢測到的最小信號幅度。因此,對頻譜分析儀的底噪特性進行仔細的測試和分析就顯得尤為重要。

本文以普源公司生產(chǎn)的RSA5065頻譜分析儀為例,詳細介紹了如何對該儀器的底噪特性進行掃描測試,并對測試結果進行了深入分析。希望對需要使用頻譜分析儀進行測試的工程師朋友們有所幫助。

一、測試環(huán)境搭建

在對頻譜分析儀進行底噪掃描測試時,首先需要搭建合適的測試環(huán)境。對于RSA5065這款頻譜分析儀來說,我們需要準備以下設備:

1. RSA5065頻譜分析儀

2. 50Ω終端電阻

3. 高性能同軸電纜

4. 電源

將50Ω終端電阻通過同軸電纜連接至RSA5065的RF輸入端,并確保所有連接均牢固可靠。接著,將RSA5065通過電源線連接至電源,確保儀器處于正常工作狀態(tài)。這樣,我們就完成了測試環(huán)境的搭建。

二、底噪掃描測試

在完成測試環(huán)境的搭建后,就可以開始進行RSA5065的底噪掃描測試了。具體步驟如下:

1. 將RSA5065的分析模式切換至頻譜分析(Spectrum)模式,并將分辨率帶寬(RBW)設置為最小值,即3 kHz。

2. 將掠過時間(Sweep Time)設置為最大值,即4 s。這樣可以保證在掃描過程中,每個頻點都能獲得足夠長的采樣時間,從而提高測量的精度。

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3. 將頻率范圍設置為RSA5065的全頻段,即9 kHz到6.2 GHz。

4. 將檢波模式設置為sample,并將平均次數(shù)設置為較大的值,如100次。這樣可以有效抑制隨機噪聲,提高測量精度。

5. 點擊開始掃描(Start Sweep),RSA5065就會對全頻段進行底噪掃描,并將掃描結果實時顯示在屏幕上。整個掃描過程大約需要400s才能完成。

三、結果分析

經(jīng)過約400s的掃描測試,我們獲得了RSA5065在9 kHz到6.2 GHz頻段內(nèi)的底噪特性曲線。從曲線可以看出,RSA5065的底噪水平在大部分頻段都控制在-140 dBm/Hz左右,這個指標已經(jīng)接近了該型號頻譜分析儀的技術指標。不過,在個別頻段,如50 MHz到200 MHz之間,底噪水平會略有升高,達到-135 dBm/Hz左右。造成這種現(xiàn)象的主要原因有兩點:

1. 內(nèi)部混頻模塊的自身噪聲。在這些頻段,RSA5065使用的內(nèi)部混頻模塊產(chǎn)生的噪聲相對較高,從而使得整機的底噪水平有所升高。

2. 外部干擾信號的影響。50 MHz到200 MHz這個頻段恰好與常見的一些無線電通信信號頻段重疊,難免會受到一些外部干擾信號的影響,使得底噪水平有所上升。

為了進一步改善RSA5065在這些問題頻段的底噪特性,我們可以考慮采取以下措施:

1. 優(yōu)化內(nèi)部混頻模塊的設計,降低其自身噪聲水平。

2. 增加外殼屏蔽,提高儀器抗干擾能力。

3. 在使用時采取合適的測試環(huán)境隔離措施,盡量避免外部干擾信號的進入。

通過上述改進措施,相信我們一定能夠進一步提升RSA5065頻譜分析儀在全頻段的底噪性能,為用戶提供更加出色的測試體驗。

審核編輯 黃宇