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IGBT功率器件功耗

青島佳恩半導體有限公司 ? 來源:青島佳恩半導體有限公司 ? 2024-07-19 11:21 ? 次閱讀

IGBT功率器件功耗

IGBT等功率電子器件在工作中,由于自身的功率損耗,將引起IGBT溫度升高。引起功率器件發熱的原因主要有兩個,一是功率器件導通時,產生的通態損耗。二是功率器件的開通與關斷過程中產生的開關損耗。IGBT功耗主要由導通損耗和開關損耗構成,需要合理的IGBT散熱裝置將產生的熱量散發出去,保證IGBT變流器設備的可靠運行。

(1) 功率器件導通時,由于自身的導通壓降并不為零,于是將產生通態損耗。通態損耗主要與功率器件的導通壓降、承載電流以及導通占空比有關。設功率器件的導通壓降為Uon,則當器件通過占空比為D,電流幅值為IT的矩形脈沖時,平均通態損耗為

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(2) 功率器件在開通與關斷過程中,作用在其上的電壓、電流波形可近似表示為圖1所示形式。功率器件在開通時不能瞬間完全導通,逐漸下降的電壓與逐漸上升的電流將產生開通損耗Pon。功率器件在關斷時不能瞬間完全截止,逐漸下降的電流與逐漸上升的電壓將產生關斷損耗off。開通損耗Pon和關斷損耗Poff的總和即是功率器件的開關損耗Ps。開關損耗主要與功率器件的承載電壓、電流以及開關頻率有關。

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對于電阻性負載,依據圖1(a)所示的波形,設功率器件截止時承載的電壓為UT,開通時的電流為IT,開關的頻率為fs,周期為Ts,則在一個開關周期內的平均開關損耗為

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對于電感性負載,在電壓、電流相同的情況下,功率器件的平均開關損耗要大干電阻性負載,一般認為其在一個開關周期內平均開關損耗為

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開關器件的平均通態損耗Pc與平均開關損耗Ps之和就是開關器件總的功率損耗,它們將轉化為熱量而引起功率器件發熱。

各種功率器件的核心均是半導體PN結,而PN結的性能與溫度密切相關,為此,功率器件均規定了正常工作的最高允許結溫Tjm。為了保證器件正常工作,器件工作時的結溫應始終低于最高允許結溫Tjm。但工程上能夠測量到的結溫實際上是功率器件外殼的平均溫度,由于功率器件內部溫度分布是不均勻的,可能會出現局部高于最高允許結溫的過熱點而使器件損壞。為此,在實際使用中,要降額使用器件的最高允許結溫,且設備的可靠性要求越高,器件最高允許結溫的降額的幅度就越大。如高可靠性商業設備中,功率器件的最高允許結溫取130-150℃,軍用設備取120-135℃,超高可靠性設備則取105℃。

功率器件的結溫與器件自身的功率損耗、器件到外界環境的傳熱條件及環境的溫度有關。由于功率器件的體積較小,其自身向大氣環境的傳熱能力遠低于自身功率損耗所產生的熱量,為此,通常需在功率器件上加裝散熱器,以輔助功率器件將自身的熱量散發到外界環境中。

加裝散熱器主要目的是實現熱傳輸的平衡,使器件的發熱率與散熱率相等,器件的結溫保持穩定。熱傳輸與電傳輸有極大的相似性,遵從熱路歐姆定律,即

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式中,Tj,功率器件的結溫;

TA,外界環境的溫度,通常將外界環境的溫度取值為25℃;

P,器件的功率損耗,即熱流(W);

Rθ熱阻(℃/W)。

上式表明,當器件的功率損耗P一定時,器件與外界環境的溫度差Tj-TA同熱阻Rθ成正比,即熱阻越大,器件與外界環境的溫度差就會越大,也即功率器件的結溫就會越高。功率器件的參數表通常給出器件的PN結到外殼的熱阻Rθjc和PN結到大氣環境的熱阻Rθja兩個參數,如功率MOSFET管IRF540參數表給出的PN結到外殼的熱阻Rθjc=1℃/W,PN結到大氣環境的熱阻Rθja=80℃/W。這表明當IRF540不加散熱器時,僅憑器件自身散熱,其與大氣環境的熱阻為Rθja=80℃/W,當器件的功率損耗為1W時,器件與外界環境的溫差就將達到80℃。然而,如果能通過加裝理想的散熱器,使外殼與大氣環境的熱阻為0,則當器件的功率損耗為1W時,器件與外界環境的溫差就僅為1℃。

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原文標題:IGBT功率器件功耗

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