在上期講完了電磁干擾(EMI)掃描儀的定義和應(yīng)用以后,我們應(yīng)該如何去選擇一款合適的電磁干擾(EMI)掃描儀?在當(dāng)今復(fù)雜的電子設(shè)備環(huán)境中,選擇合適的電磁干擾(EMI)掃描儀對(duì)于確保產(chǎn)品質(zhì)量、符合標(biāo)準(zhǔn)要求及提升研發(fā)效率至關(guān)重要。我們可以通過頻率范圍、掃描速度和精度、自動(dòng)化功能、數(shù)據(jù)分析和呈現(xiàn)、兼容性接口以及符合國(guó)際電磁兼容性標(biāo)準(zhǔn)這6個(gè)方面來選擇適合我們要求的電磁干擾(EMI)掃描儀。寬廣的頻率覆蓋范圍:頻率范圍是評(píng)估掃描儀適用性的首要指標(biāo)。確保所選掃描儀能夠覆蓋您測(cè)試需求中的低頻至高頻全頻段。例如,OI-EAS系列EMI掃描儀以其最大可達(dá)40GHz的掃描頻率(具體取決于近場(chǎng)探頭套件)脫穎而出,適用于多種應(yīng)用場(chǎng)景。卓越的掃描速度與精度:高速掃描提升測(cè)試效率,而高精度則保證數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性。其中OI-EAS系列掃描儀以20mm/s掃描速度和±0.02mm的重復(fù)定位精度,確保了測(cè)試的精確性和可重復(fù)性,適用于生產(chǎn)線上的高質(zhì)量控制。
強(qiáng)大的自動(dòng)化功能:自動(dòng)定位、自動(dòng)分析和數(shù)據(jù)處理功能可以顯著提高測(cè)試效率。選擇具備這些自動(dòng)化功能的掃描儀,可以減少人工干預(yù)和分析時(shí)間,提高測(cè)試過程的準(zhǔn)確性和一致性。OI-EAS系列EMI掃描儀集成了自動(dòng)定位、自動(dòng)分析及數(shù)據(jù)處理功能,大幅減少了人工干預(yù),提高了測(cè)試過程的準(zhǔn)確性和一致性,同時(shí)節(jié)約了時(shí)間和成本。
先進(jìn)的數(shù)據(jù)分析與呈現(xiàn):強(qiáng)大的數(shù)據(jù)分析軟件和直觀的用戶界面是提升工作效率的關(guān)鍵。OIEMI-Scanner軟件不僅提供可靠的數(shù)據(jù)采集和復(fù)雜分析能力,還支持高速實(shí)時(shí)成像(2D和3D),能夠直觀顯示EMI干擾源,并快速生成測(cè)試報(bào)告,同時(shí)支持?jǐn)?shù)據(jù)導(dǎo)入MATLAB進(jìn)行進(jìn)一步分析。
廣泛的兼容性接口:檢查掃描儀與現(xiàn)有測(cè)試設(shè)備和計(jì)算機(jī)系統(tǒng)的兼容性。確保掃描儀支持所需的接口和數(shù)據(jù)傳輸協(xié)議,以便與其他測(cè)試系統(tǒng)或數(shù)據(jù)分析工具無縫連接,是選擇過程中的重要考量。OI-EAS系列掃描儀兼容市面上主流的頻譜分析儀、EMI接收機(jī)和近場(chǎng)探頭組,并提供多種選件柔性組合,滿足不同測(cè)試需求。
符合國(guó)際電磁兼容性標(biāo)準(zhǔn):選擇符合IEC、MIL-STD等國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的掃描儀,確保測(cè)試結(jié)果的可靠性和有效性。OI-EAS系列掃描儀參照GB9254、GB18655、GJB151B等標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì),為用戶提供準(zhǔn)確可靠的測(cè)試解決方案。綜上所述,選擇一款合適的EMI掃描儀需要綜合考慮頻率范圍、掃描速度與精度、自動(dòng)化功能、數(shù)據(jù)分析與呈現(xiàn)能力、兼容性接口以及符合國(guó)際電磁兼容性標(biāo)準(zhǔn)等因素。海洋儀器自主研發(fā)的OI-EAS系列EMI掃描儀以其卓越的性能和廣泛的適應(yīng)性,成為眾多企業(yè)和研發(fā)機(jī)構(gòu)的理想選擇。
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OI-EAS系列電磁干擾掃描儀的功能特點(diǎn)及應(yīng)用范圍
手持掃描儀設(shè)計(jì)的應(yīng)用
一款國(guó)產(chǎn)化的電磁兼容測(cè)試設(shè)備-OI-EAS系列電磁干擾EMI/EMC掃描儀

OI-EAS系列EMI/EMC掃描儀產(chǎn)品詳細(xì)資料V202303 (完整版)
使用OI-EASU432型EMI掃描儀與頻譜儀對(duì)DUT進(jìn)行EMI測(cè)試實(shí)驗(yàn)方案

電磁干擾掃描儀與屏蔽箱的完美融合:打造高效精準(zhǔn)的EMI測(cè)試方案

使用EMI掃描儀和EMI測(cè)試接收機(jī)進(jìn)行EMI可視化分析

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