實(shí)驗(yàn)背景：

在電子設(shè)備的設(shè)計(jì)與制造流程中，電磁干擾（EMI）占據(jù)著舉足輕重的地位，是不可或缺的考量要素。鑒于某些設(shè)備在運(yùn)作時(shí)可能釋放出高強(qiáng)度的電磁輻射，進(jìn)而對(duì)周邊設(shè)備的穩(wěn)定運(yùn)行構(gòu)成潛在威脅。我們借助EMI掃描儀、近場(chǎng)探頭以及頻譜分析儀等尖端工具，來(lái)精準(zhǔn)地識(shí)別并鎖定這些干擾源頭。通過(guò)集成高效能的測(cè)試設(shè)備，實(shí)現(xiàn)對(duì)電子設(shè)備電磁輻射特性的全面剖析。

實(shí)驗(yàn)?zāi)康模?/strong>1、識(shí)別設(shè)備或電路板上的電磁干擾源2、測(cè)量干擾的頻率和強(qiáng)度3、定位潛在的干擾區(qū)域并評(píng)估其對(duì)周邊設(shè)備的影響

實(shí)驗(yàn)設(shè)備：OI-EASU432型EMI掃描儀和軟件：作為高精度的電磁輻射測(cè)量與分析工具，該掃描儀能夠精確操控探頭位置與掃描軌跡，確保對(duì)被測(cè)設(shè)備（DUT）的全面覆蓋。通過(guò)自動(dòng)化掃描與先進(jìn)的軟件控制，我們能夠顯著減少人工干預(yù)，提升測(cè)試效率與精度。OI-ICSET40GHz無(wú)源近場(chǎng)探頭組：作為EMI表面掃描的核心組件，這些探頭能夠敏銳捕捉DUT表面的局部電磁場(chǎng)強(qiáng)度，無(wú)論是電場(chǎng)還是磁場(chǎng)，均能依據(jù)實(shí)際需求靈活選擇。它們將捕捉到的信號(hào)傳輸至頻譜分析儀進(jìn)行進(jìn)一步處理。FSV3044頻譜分析儀：頻譜分析儀用于實(shí)時(shí)測(cè)量和分析近場(chǎng)探頭采集到的電磁信號(hào)的頻率和強(qiáng)度，為后續(xù)的數(shù)據(jù)處理和分析提供支持。

實(shí)驗(yàn)測(cè)試設(shè)備連接：根據(jù)需要選擇電場(chǎng)探頭或磁場(chǎng)探頭，將近場(chǎng)探頭安裝在掃描儀的探頭支架上，確保其能準(zhǔn)確接觸或靠近DUT的表面。探頭的校準(zhǔn)和配置由測(cè)試軟件控制，確保整個(gè)掃描過(guò)程中的數(shù)據(jù)一致性。將探頭信號(hào)通過(guò)掃描儀或直接連接至頻譜分析儀，并通過(guò)軟件進(jìn)行設(shè)備配置（如頻率范圍、分辨率帶寬等）。將DUT放置在掃描儀的工作區(qū)域，確保其在正常工作狀態(tài)下接受掃描測(cè)試。

實(shí)驗(yàn)步驟：1.設(shè)備安裝與校準(zhǔn)：安裝好近場(chǎng)探頭，并確保掃描儀與頻譜分析儀正常連接到測(cè)試軟件，被測(cè)裝置應(yīng)通電并進(jìn)行運(yùn)行檢查，以確保設(shè)備正常運(yùn)行。2.掃描與頻譜分析：在測(cè)試軟件中設(shè)定掃描路徑、頻率范圍和數(shù)據(jù)采集參數(shù)，啟動(dòng)自動(dòng)掃描與頻譜分析。3.數(shù)據(jù)采集與實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)：測(cè)試軟件實(shí)時(shí)采集和處理掃描與頻譜數(shù)據(jù)，并以圖形方式顯示在用戶界面上。4.數(shù)據(jù)分析：軟件自動(dòng)分析采集的數(shù)據(jù)，識(shí)別并標(biāo)記異常干擾源。5.報(bào)告生成與管理：測(cè)試軟件支持自動(dòng)生成格式化的測(cè)試報(bào)告，并提供強(qiáng)大的數(shù)據(jù)管理功能，支持不同測(cè)試項(xiàng)目的數(shù)據(jù)分類。