本文主要介紹了一種在完全工作條件下測試前測量 LLC 諧振回路增益曲線的方法,包括其接線圖、測試結(jié)果示例、在不同次級配置下的電壓增益轉(zhuǎn)換,以及該方法的優(yōu)點(diǎn)和局限性。
*附件:在完全工作條件下進(jìn)行測試之前測量 LLC.pdf
- 測量方法及示例
- 電壓增益轉(zhuǎn)換
- 半橋 LLC 功率級常規(guī)情況 :輸出電壓近似為輸入電壓、匝數(shù)比和工作頻率下諧振回路增益的乘積。
- 不同次級配置選項(xiàng) :次級側(cè)配置全波整流器可使傳輸能量加倍,雙端次級配置可實(shí)現(xiàn)四倍電壓增益;若初級側(cè)為全橋,相關(guān)比率需乘以系數(shù) 2。
- 方法的益處與局限性
審核編輯 黃宇
聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。
舉報(bào)投訴
-
LLC
+關(guān)注
關(guān)注
37文章
588瀏覽量
77702 -
接線圖
+關(guān)注
關(guān)注
22文章
206瀏覽量
50126 -
諧振回路
+關(guān)注
關(guān)注
1文章
22瀏覽量
9401
發(fā)布評論請先 登錄
相關(guān)推薦
是德示波器在功率穩(wěn)定性測試中的技術(shù)方法
功率穩(wěn)定性測試在現(xiàn)代電子設(shè)備的研發(fā)、生產(chǎn)和維護(hù)過程中至關(guān)重要。是德示波器作為一種高精度的測試儀器,其強(qiáng)大的功率分析功能為工程師提供了有效的測試

thd標(biāo)準(zhǔn)測試方法
方法: 一、測試準(zhǔn)備 測試設(shè)備 :需要一臺能夠產(chǎn)生標(biāo)準(zhǔn)正弦波信號的信號源,以及一臺能夠測量THD的音頻分析儀或失真度測量儀。
光伏逆變器負(fù)載何進(jìn)行負(fù)載測試和性能評估?
的輸出電壓、電流、功率因數(shù)等參數(shù)進(jìn)行測量和記錄,檢查其在低負(fù)載條件下的性能穩(wěn)定性。
性能評估方法:性能評估主要是通過對負(fù)載
發(fā)表于 12-12 09:44
燃料電池測試負(fù)載的工作原理是什么?
的性能參數(shù)。通過對這些數(shù)據(jù)的分析,可以評估燃料電池在不同負(fù)載條件下的性能表現(xiàn),如效率、穩(wěn)定性等。此外,還可以根據(jù)測試結(jié)果對燃料電池的設(shè)計(jì)和優(yōu)化提出建議。
調(diào)整
發(fā)表于 12-06 16:31
回路電阻測試儀
降法:當(dāng)對被測電路施加直流電時(shí),電路的接觸電阻上會(huì)產(chǎn)生電壓降,測量通過電路的電流和電壓值,從而得到接觸電阻。被計(jì)算。測試過程繁瑣,測量結(jié)果由人工計(jì)算,存在一定誤差。
3、微歐表法(
發(fā)表于 12-03 14:15
脈沖測試儀器的使用技巧
測試儀器通常包括信號發(fā)生器、示波器和相關(guān)的測量設(shè)備。它們能夠產(chǎn)生和測量快速變化的電壓或電流脈沖,以模擬實(shí)際工作條件下的瞬態(tài)事件。 2. 選擇
環(huán)路測試的接線方法及原因
的控制環(huán)路)注入一個(gè)擾動(dòng)信號(通常是頻率變化的正弦波信號),并觀察系統(tǒng)的響應(yīng)來評估其穩(wěn)定性和性能的測試方法。該測試方法主要用于驗(yàn)證系統(tǒng)

晶體管的工作條件
晶體管作為一種關(guān)鍵的半導(dǎo)體器件,其工作條件對于確保電路的正常運(yùn)行和性能發(fā)揮至關(guān)重要。晶體管的工作條件涉及多個(gè)方面,包括電壓、電流、溫度以及濕度等。
電池測試流程和測試方法有哪些
電。 環(huán)境條件:測試應(yīng)在控制的環(huán)境中進(jìn)行,如恒溫恒濕。 測試設(shè)備校準(zhǔn):確保所有測試設(shè)備都經(jīng)過校準(zhǔn)。 電性能測試 容量
環(huán)路測試的接線方法及原因 環(huán)路測試注入信號大小標(biāo)準(zhǔn)是多少
。一般而言,測試過程需要連接以下主要設(shè)備: 直流電源負(fù)載 :用于模擬開關(guān)電源的實(shí)際負(fù)載情況,確保其工作在正常或特定的負(fù)載條件下。 示波器 :
XTR111精度是在指什么條件下的精度?精度測試條件有哪些?
XTR111這顆芯片在數(shù)據(jù)手冊中提到精度為0.015%;我想問一下這個(gè)精度是在指什么條件下的精度,是否考慮了溫漂,及輸入失調(diào)電壓和輸入失調(diào)電流。
手冊中文查到在什么
發(fā)表于 08-13 08:05
想了解芯片推力測試?點(diǎn)擊這里,了解最新測試方法!
推力測試是至關(guān)重要的一環(huán)。隨著科技的不斷進(jìn)步和市場需求的不斷增長,芯片的性能和可靠性要求也在不斷提高。而推力測試則是評估芯片性能和可靠性的關(guān)鍵步驟之一。通過推力測試,我們可以評估芯片在

天線增益的測試方法與測試步驟
天線增益是指在輸入功率相等情況下,實(shí)際天線與理想的輻射單元在空間同一點(diǎn)處所產(chǎn)生的信號的功率密度之比。增益是衡量天線發(fā)射和接收信號能力的重要指標(biāo)。在
評論