近日，納芯微宣布其新推出的汽車級(jí)CAN收發(fā)器芯片NCA1044-Q1獲得歐洲權(quán)威測(cè)試機(jī)構(gòu)IBEE/FTZ-Zwickau出具的EMC認(rèn)證測(cè)試報(bào)告，NCA1044-Q1成功通過(guò)所有測(cè)試項(xiàng)，成為國(guó)內(nèi)首顆全面通過(guò)IBEE/FTZ-Zwickau EMC測(cè)試的CAN收發(fā)器芯片。納芯微現(xiàn)可提供相關(guān)測(cè)試報(bào)告，支持汽車制造商簡(jiǎn)化系統(tǒng)認(rèn)證流程，加速產(chǎn)品上市。

CAN收發(fā)器芯片常用于汽車中的CAN總線網(wǎng)絡(luò)，通常用于控制，診斷等關(guān)鍵功能，如三電、制動(dòng)、轉(zhuǎn)向、安全氣囊等。這種環(huán)境中存在多種電磁干擾源，如電動(dòng)車三電系統(tǒng)、發(fā)動(dòng)機(jī)、變頻器、無(wú)線通信設(shè)備等。這些干擾會(huì)對(duì)數(shù)據(jù)傳輸產(chǎn)生不良影響，從而導(dǎo)致信號(hào)傳輸錯(cuò)誤或系統(tǒng)故障，甚至有可能影響整個(gè)系統(tǒng)的安全性。

此外，由于汽車系統(tǒng)中CAN總線布線長(zhǎng)，CAN收發(fā)器的噪聲容易以CAN總線作為天線對(duì)外產(chǎn)生輻射，從而導(dǎo)致模塊或整機(jī)對(duì)外輻射發(fā)射（Radiated Emission）和傳導(dǎo)發(fā)射（Conducted Emission）性能超出整車要求，因此，具備良好EMC（Electromagnetic Compatibility，電磁兼容性）性能的CAN收發(fā)器芯片是實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)可靠性的重要保障。

全面通過(guò)IBEE/FTZ-Zwickau認(rèn)證

鑒于CAN收發(fā)器芯片的EMC性能對(duì)汽車行駛安全的關(guān)鍵作用，各地區(qū)制定了嚴(yán)格的汽車電子電磁兼容性標(biāo)準(zhǔn)和認(rèn)證流程，并要求汽車制造商遵循。例如，美國(guó)汽車工程師協(xié)會(huì)（SAE）的J2962標(biāo)準(zhǔn)和歐洲的IBEE/FTZ-Zwickau認(rèn)證都對(duì)汽車電子的EMC性能提出了明確要求。

其中，IBEE/FTZ-Zwickau認(rèn)證根據(jù)IEC62228-3標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行，IEC62228-3相較于SAE J2962標(biāo)準(zhǔn)，排除了系統(tǒng)外圍電路的影響，更聚焦CAN收發(fā)器本身的EMC特性，且要求等級(jí)更高，在除歐洲以外的車企中也得到了廣泛參考應(yīng)用。IBEE/FTZ-Zwickau認(rèn)證包括：發(fā)射射頻干擾（Emission RF Disturbances）, 抗射頻干擾（Immunity RF Disturbances），瞬變免疫力（Immunity Transients）和抗靜電（Immunity ESD）共四項(xiàng)測(cè)試，納芯微NCA1044-Q1全部通過(guò)。

表-1：納芯微NCA1044-Q1全部通過(guò)四項(xiàng)測(cè)試（來(lái)源：納芯微）

業(yè)界領(lǐng)先的抗干擾特性

NCA1044-Q1通過(guò)巧妙的電路設(shè)計(jì)，解決了其輸出電路受到異常高壓干擾，導(dǎo)致輸出信號(hào)出現(xiàn)誤碼的問(wèn)題，從而提高了EMC性能，可幫助客戶顯著降低EMC設(shè)計(jì)難度，簡(jiǎn)化外圍器件并降低成本。

此外，NCA1044-Q1還具備行業(yè)領(lǐng)先的抗干擾特性。根據(jù)IEC62228-3標(biāo)準(zhǔn)，當(dāng)外部不同頻段的射頻噪聲耦合到CAN總線時(shí)，可通過(guò)的功率越高，說(shuō)明CAN收發(fā)器的抗干擾能力越強(qiáng)，在系統(tǒng)中出現(xiàn)誤碼的風(fēng)險(xiǎn)也就越低。

納芯微NCA1044-Q1即使在總線不需要共模電感濾波的情況下，仍可以通過(guò)標(biāo)準(zhǔn)要求的最高功率（如圖-1和表-2，應(yīng)用層面一般不做要求，但納芯微NCA1044-Q1依舊通過(guò)該項(xiàng)測(cè)試），可幫助用戶減少系統(tǒng)外圍電路，降低成本，提升系統(tǒng)魯棒性。

圖-1：NCA1044-Q1的DPI測(cè)試結(jié)果（來(lái)源：納芯微）

（器件的DPI性能可轉(zhuǎn)換為系統(tǒng)級(jí)的BCI性能參考）

表-2：NCA1044-Q1的DPI測(cè)試表格（來(lái)源：納芯微）

（器件的DPI性能可轉(zhuǎn)換為系統(tǒng)級(jí)的BCI性能參考）

封裝和選型

NCA1044-Q1現(xiàn)已量產(chǎn)，提供SOP8和DFN8兩種封裝。NCA1044-Q1滿足AEC-Q100，Grade 1要求，支持-40°C~125°C的寬工作溫度范圍，提供過(guò)溫保護(hù)；NCA1044-Q1支持TXD顯性超時(shí)保護(hù)，待機(jī)模式下支持遠(yuǎn)程喚醒。該器件現(xiàn)已可提供送樣，可通過(guò)納芯微官網(wǎng)或聯(lián)系銷售團(tuán)隊(duì)([email protected])進(jìn)行樣片申請(qǐng)

審核編輯 黃宇