在半導體封裝領域,冷焊和熱焊凸塊技術的應用日益廣泛,成為連接芯片與基板、實現電氣互連的關鍵技術。這些凸塊不僅承載著電信號的傳輸,還直接影響著整個封裝結構的機械穩定性和長期可靠性。因此,對冷焊和熱焊凸塊的鍵合質量進行精確評估,是確保半導體器件高性能和高可靠性的關鍵環節。本文科準測控小編將介紹如何焊接強度測試儀進行冷/熱焊凸塊拉力測試。
一、常用試驗方法
1、引線拉力測試(Pull Test)
原理:在鍵合線上施加一個向上的拉力,使鍵合部從芯片表面被拉開,并對拉力的大小進行測量。
操作步驟:
準備測試:將待測引線固定在測試設備上,確保拉鉤能夠穩定勾住引線。
設置測試參數:調整拉力施加點,使其位于內外焊點的中間位置,并確保拉力方向垂直于焊點連線。
非破壞性測試:逐漸增加拉力,直至達到預設的標準規定值,觀察引線和焊點,若在規定拉力下未發生斷裂或脫落,表明鍵合強度合格。
破壞性測試(如需要):繼續增加拉力,直至引線斷裂或焊點脫落,記錄此時的拉力值,該值為極限鍵合強度。
測試完成:輕輕移開拉鉤,取出測試樣品,并記錄測試結果。
2、鍵合剪切力測試(Shear Test):
原理:用一個平面的剪切刀(推刀),平行于焊盤向焊球施加推力,使焊球被剝離,此時的力即為鍵合剪切力。
應用:主要用于評估金線球焊連接的可靠性,是生產過程中監控生產能力和穩定性的關鍵標準之一。
二、測試設備
Beta S100焊接強度測試儀
設備介紹:
多功能焊接強測試儀是用于為微電子引線鍵合后引線焊接強度測試、焊點與基板表面粘接力測試及其失效分析領域的專用動態測試儀器,常見的測試有晶片推力、金球推力、金線拉力等,采用高速力值采集系統。
特點:
廣泛應用:適用于半導體封裝、LED封裝、軍工器件等多個領域,提供破壞性和非破壞性測試。
模塊化設計:插拔式模塊,更換便捷,自動識別,多量程選擇,精度高。
高精度測量:配備專業砝碼箱,顯微鏡可調節,行程精度高。
多樣化夾具:全品類夾具,360°調節,多種鉤針和推刀。
便捷操作:雙搖桿設計,軟件功能強大,操作簡易。
豐富功能:CPK分析、Mac系統、權限分配、外接攝像機等。
三、測試條件
鍵合拉脫測試:通常用于測量器件封裝的外部鍵合。在引線或外引線以及布線板或基板之間,以90°角度施加拉力,記錄失效時的力的大小和分離模式。
引線拉力測試(單個鍵合點):應用于測量器件的芯片或基板與引線框架上的內部鍵合。引線被切斷,使其兩端都能進行拉力試驗,施加的拉力大致垂直于芯片表面或基板。
引線拉力測試(雙鍵合點):與單個鍵合點測試類似,但在引線下方插入鉤子夾緊器件,在引線中跨和頂部之間施加拉力,避免引線產生不利變形。
鍵合剪切力測試(倒裝焊):用于半導體芯片與基板之間的面鍵合結構連接的內部鍵合。使用工具或劈刀在芯片或載體上施加剪切力,記錄失效時的力的大小和分離模式。
四、使用方法
1、設備與配件檢查:檢查推拉力測試機及其所有配件,確保設備完整且功能正常。確認測試機、推刀(或鉤針)和夾具等關鍵部件均已完成校準,以確保測試結果的精確性。
2、模塊安裝與電源連接:將待測試的模塊正確安裝到推拉力測試機上。連接電源,并啟動測試機,等待系統自檢和模塊初始化完成。
3、推刀(或鉤針)的安裝與校準:根據測試的具體需求,選擇適合的推刀。將推刀安裝到推拉力測試機的指定位置,并進行牢固鎖定,以保證測試的精確度。
4、測試夾具固定:將電子元器件精確地放置在測試夾具中,并確保其位置正確。將夾具安裝到測試機的工作臺上,并使用固定螺絲將其緊固,模擬實際使用中的固定狀態。
5、測試參數的設定:在測試機的軟件界面上輸入必要的測試參數,包括但不限于測試方法、傳感器選擇、測試速度、目標力值、剪切高度和測試次數。
6、測試執行:在顯微鏡下確認電子元器件和推刀(或鉤針)的相對位置正確無誤。啟動測試程序,密切監視測試過程中的動作,確保一切按照設定的參數進行。
以上就是小編介紹的有關于冷/熱焊凸塊拉力測試相關內容了,希望可以給大家帶來幫助!如果您還想了解更多關于Beta S100推拉力測試機怎么使用視頻和圖解,使用步驟及注意事項、作業指導書,原理、怎么校準和使用方法視頻,推拉力測試儀操作規范、使用方法和測試視頻,焊接強度測試儀使用方法和鍵合拉力測試儀等問題,歡迎您關注我們,也可以給我們私信和留言,【科準測控】小編將持續為大家分享推拉力測試機在鋰電池電阻、晶圓、硅晶片、IC半導體、BGA元件焊點、ALMP封裝、微電子封裝、LED封裝、TO封裝等領域應用中可能遇到的問題及解決方案。
審核編輯 黃宇
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